手機(jī)白色市場(chǎng)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(編輯修改稿)
2024-08-10 22:19 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 板手機(jī):每個(gè)面各跌落 2 次，六個(gè)面共12次，總計(jì)跌落次數(shù):12 次.3. b、翻（滑）蓋手機(jī)：同上→打開(kāi)翻（滑）蓋狀態(tài)下正面→反面各 2 次，總計(jì)跌落次數(shù)：16次,試驗(yàn)過(guò)程中，每跌落 2 次檢查樣機(jī)外觀、結(jié)構(gòu)和基本功能有無(wú)異常,試驗(yàn)結(jié)束后,進(jìn)行發(fā)射功率與試驗(yàn)后測(cè)試,再進(jìn)行拆機(jī)檢查3. 判斷要求: 外觀,結(jié)構(gòu)和基本功能良好,無(wú)不可復(fù)原的故障(如：LCD 裂、無(wú)顯示等),允許外殼有輕微掉漆現(xiàn)象。 鋼球跌落試驗(yàn): 驗(yàn)證手機(jī)結(jié)構(gòu)件碰撞硬物體是否滿足使用者要求一種試驗(yàn)。: 。:用100g鋼球,15cm高處,垂直打擊鏡蓋表面。:用100g鋼球,50cm高處,垂直打擊噴涂表面。: :用100g鋼球,從15cm高處,垂直打擊鏡蓋表面來(lái)回3次。：用100g鋼球,50cm高處,直打面來(lái)回2次鏡蓋表面與噴漆表面無(wú)垂直打擊1次就出現(xiàn)破裂現(xiàn)象手機(jī)外觀無(wú)異常,無(wú)變形,且各項(xiàng)功能正常。 耳機(jī)彎折試驗(yàn): 驗(yàn)證耳機(jī)持久彎折性是否滿足使用者要求一種試驗(yàn)。: 將耳機(jī)裝上彎折試驗(yàn)上施加300g力持續(xù)搖擺2000次,角度+60度與60度方向搖擺。:耳機(jī)不允許出現(xiàn)無(wú)音,單音,插頭外觀破損嚴(yán)重等. 數(shù)據(jù)線彎折試驗(yàn):驗(yàn)證數(shù)據(jù)線持久彎折性是否滿足使用者要求一種試驗(yàn)。:將數(shù)據(jù)線裝上彎折試驗(yàn)上施加300g力持續(xù)搖擺1500次，角度+60度與60度方向搖擺。:數(shù)據(jù)線不允許出現(xiàn)數(shù)據(jù)不能傳輸,不充電,無(wú)嚴(yán)重?fù)p傷,無(wú)接觸不良等現(xiàn)象.數(shù)據(jù)線插拔試驗(yàn):檢驗(yàn)數(shù)據(jù)線承受機(jī)械插拔性能:將數(shù)據(jù)線與手機(jī)固定到插拔器儀上，此數(shù)據(jù)線處于充電狀態(tài)下進(jìn)行插拔,以 15 次/min 的插拔速率插拔 1000 次. :要求數(shù)據(jù)線性能良好，插頭、線材無(wú)變形、無(wú)嚴(yán)重?fù)p傷、無(wú)接觸不良等現(xiàn)象 SIM卡插拔試驗(yàn):檢驗(yàn)SIM卡承受插拔是否能滿足使用者一種試驗(yàn):人工將SIM插入卡座來(lái)回插拔200次:要求卡座彈片無(wú)變形、無(wú)接觸不良,不讀卡,插卡嚴(yán)重偏松等現(xiàn)象 TF卡插拔試驗(yàn):檢驗(yàn)TF卡承受是否能滿足使用者一種試驗(yàn):人工將TF卡插入卡座來(lái)回插拔500次:要求TF卡座彈片無(wú)變形、彈片回彈良好,卡蓋變形,無(wú)接觸不良,不讀卡,插卡嚴(yán)重偏松等現(xiàn)象 外接音響插拔試驗(yàn):1檢驗(yàn)耳機(jī)插頭和連接器持用性是否滿足使用一種試驗(yàn):1次數(shù):模擬用戶將耳機(jī)插頭垂直插入耳機(jī)插孔，至手機(jī)界面顯示耳機(jī)符號(hào)時(shí),再垂直拔出為 1 次,反復(fù)插拔 500次：20 次/min。:要求外接音響插頭外觀、性能良好,不允許出現(xiàn)耳機(jī)插針斷,變形,位,面整塊脫落等現(xiàn)象 耳機(jī)滾筒試驗(yàn): 檢驗(yàn)耳機(jī)防撞持用性: ：30 次/min；,來(lái)回翻滾100次: 要求耳機(jī)所有功能應(yīng)正常,外觀允許有刮花,整體結(jié)構(gòu)不能散開(kāi)或斷裂充電器滾筒試驗(yàn): : ：30 次/min：將充電器放進(jìn)1米筒內(nèi),來(lái)回翻滾100次
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