表面粗糙度參數(shù)rz、rmax、rt、r3z、rpc等的測(cè)量(編輯修改稿)
2025-07-28 00:15 本頁面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 3高的輪廓谷之間的垂直距離，如圖4所示。CTSM圖4參數(shù)R3z示意圖/CTSMR3z是5個(gè)連續(xù)取樣長度上粗糙度深度R3zi的平均值。(prEN 10049)參數(shù)RPc的定義為單位長度內(nèi)連續(xù)穿過規(guī)定的上輪廓截止線c1和下輪廓截止線c2的粗糙度輪廓元素的數(shù)量。在使用中取c1等于c2，它們間的距離也叫做帶寬(Bandwidth)或Peak Count Level。通常會(huì)取它們位于中線(Mean Line)或平行于中線指定的另外的直線的兩側(cè)，如圖5所示。CTSM圖5參數(shù)RPc示意圖/CTSM三、測(cè)量使用的儀器測(cè)量使用的儀器為英國某公司生產(chǎn)的粗糙度儀。該儀器采用的是觸針式測(cè)量方法，其粗糙度參數(shù)的測(cè)量誤差為2%，具有分析評(píng)定25個(gè)參數(shù)R、22個(gè)參數(shù)P、23個(gè)參數(shù)W、12個(gè)參數(shù)Ramp。W和7個(gè)參數(shù)Rk的能力。此外，對(duì)同一測(cè)量數(shù)據(jù)可以進(jìn)行多次不同參數(shù)的分析評(píng)定，而不需要多次測(cè)量。四、參數(shù)Rmax、Rt、R3z的測(cè)量參數(shù)Rmax、Rt、R3z的測(cè)量同測(cè)量參數(shù)Ra一樣，都需要使儀器的探針在被測(cè)表面上掃描規(guī)定的長度，從而得到表面輪廓。表面輪廓經(jīng)濾波器濾波后得到原始輪廓，用規(guī)定的方式對(duì)原始輪廓進(jìn)行分析就得到對(duì)應(yīng)的參數(shù)。它們的評(píng)定與Ra的評(píng)定類似，濾波器、取樣長度lc等評(píng)定條件的選取都對(duì)評(píng)定結(jié)果有明顯的改變
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