【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 易往上爬？（4） 切刀有問(wèn)題？問(wèn)題要一查到底，只有查清了問(wèn)題，才能制定糾正和預(yù)防措施。（八）、浸焊 溫度控制在210℃（+10/5℃）為宜：溫度低，粘錫厚，底部有錫尖；溫度高，粘錫少，溫度太高，銀層易被焊錫吞噬掉，時(shí)間控制在2秒左右，時(shí)間太長(zhǎng)，銀層易剝離。最好一次浸焊能成功，如果反復(fù)浸的話，銀層、石墨都有可能剝離。負(fù)極腳緊靠鉭芯，不能短路或開(kāi)路。負(fù)極起碼達(dá)到鉭芯的1/2以上，但不能伸出鉭芯底部，不然包封后易外觀廢品?？刂浦竸舛?，濃度太稀，上錫太慢，濃度濃，上錫快，但粘錫厚，容易導(dǎo)致石墨和二氧化錳層之間脫離。（九）、老化老化的目的是修補(bǔ)氧化膜和剔除早期失效產(chǎn)品。老化電源串聯(lián)電阻的大小與老化的效果關(guān)系很大。如過(guò)大，達(dá)不到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。如過(guò)小修補(bǔ)氧化膜的效果達(dá)不到，因產(chǎn)品上銷(xiāo)有次點(diǎn)就被擊穿。老化后產(chǎn)品要放電24小時(shí)后再測(cè)量，否則會(huì)導(dǎo)致漏電測(cè)試不準(zhǔn)。（十）、電容器的三參數(shù)及測(cè)試方法 容量 ：注意頻率是100HZ.損耗：注意頻率是100HZ。漏電流：（C為標(biāo)稱容量,U為測(cè)試電壓）.（十一）幾個(gè)專業(yè)詞語(yǔ)解釋： 成型后的為鉭坯燒結(jié)后的稱為鉭塊賦能后的稱為陽(yáng)極塊石墨銀漿后的稱為鉭芯點(diǎn)焊浸焊后的稱為芯組包封后的稱為電容器品的質(zhì)量將不能滿足用戶的基本要求。這樣的產(chǎn)品因?yàn)榭估擞磕芰^差,因此,使用在存在大的脈沖電流的電路將非常容易出現(xiàn)擊穿現(xiàn)象. 三、參數(shù)和選型鉭電容器的漏電流和工作溫度之間的關(guān)系：鉭電容器的漏電流會(huì)隨使用溫度的增加而增加,，. 對(duì)于片式鉭電容器,高溫性能高低對(duì)可靠性有決定性的影響.漏電流VS溫度： 漏電流VS電壓： 漏電流的測(cè)試一般是在20℃時(shí)施加額定電壓進(jìn)行測(cè)試，在測(cè)量電路中與電容串接一1000 OHM保護(hù)電阻，充電一到五分鐘(KEMET、VISHAY、AVX為兩分鐘、SANYO為五分鐘)，然后測(cè)出漏電流。 (DF值)耗散因子是決定電容內(nèi)部功率耗散的一個(gè)物理量，越小越好，一般DF值隨頻率增加而增加。損耗大小對(duì)產(chǎn)品使用影響及可靠性影響說(shuō)明：損耗（DF值）是表征鉭電容器本身電阻能夠造成的無(wú)效功耗比例的一個(gè)參數(shù)，損耗較小的產(chǎn)品ESR也將較小。但損耗大小的微小差別不會(huì)對(duì)使用造成明顯影響，對(duì)工作狀態(tài)的產(chǎn)品的可靠性影響與容量偏差的影響相比較大，但與產(chǎn)品漏電流大小和ESR大小對(duì)使用時(shí)的可靠性的影響相比仍然較?。╇娏鞔笮『虴SR大小影響 損耗大小影響 容量偏差的影響），濾波時(shí)如果產(chǎn)品的損耗較大，濾波效果差一些。同時(shí)，損耗較大的產(chǎn)品的抗浪涌能力也較差。 ，等效串聯(lián)阻抗(ESR)amp。感抗 ESR是決定電容濾波性能的一個(gè)重要指標(biāo)，鉭電容的ESR主要是由引腳和內(nèi)部電極阻抗引起，是電容在高頻上表現(xiàn)的一個(gè)很重要的參數(shù)，一般來(lái)講，同容量，同電壓值的鉭電容的ESR要低于電解電容，但要高于多層陶瓷電容，ESR隨著頻率和溫度的增加而減少，ESR=DF/WC。在諧振頻率以下，電容的阻抗是電容的容抗和ESR的矢量和，在電容產(chǎn)生諧振以后，電容的阻抗是電容的感抗和ESR矢量和。 下圖出示了電容的等效組成圖： 其中:ESL:描敘的是引腳和內(nèi)部結(jié)構(gòu)的電感 RL：電容的漏電阻 Rd：由電介質(zhì)吸收和內(nèi)部分子極化引起的介電損耗 ESR與頻率特性曲線： 電容阻抗Z與頻率特性曲線： 在脈沖充放電電路，鉭電容器會(huì)不斷承受峰值功率可能達(dá)到幾十安培的浪涌電流沖擊，而且有時(shí)候充放電的頻率也可能達(dá)到幾百甚至幾千HZ；在此類電壓基本穩(wěn)定，浪涌電流不斷的電路，鉭電容器的可靠性不光取決于產(chǎn)品耐壓高低及伏安特性和高低溫性能，還取決于產(chǎn)品的等效串聯(lián)電阻ESR的高低，因?yàn)镋SR值較大的產(chǎn)品在高浪涌時(shí)瞬間就會(huì)產(chǎn)生更多的熱量積累，非常容易導(dǎo)致產(chǎn)品出現(xiàn)擊穿。因此，鉭電容器ESR值的高低直接可以決定產(chǎn)品的抗直流浪涌能力。 另外。 不同ESR值的產(chǎn)品在存在交流紋波的電路里, 一定時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生的熱量也與其ESR值高低成比例,ESR越高的產(chǎn)品在一定的時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生的熱量也越高,因此,不同規(guī)格的產(chǎn)品由于阻抗ESR值不一樣,具有不同的耐紋波電流能力. ESR低的產(chǎn)品不光在高頻使用時(shí)容量衰減較少,濾波效果較好而且可以使用在更高頻率的電路,同時(shí)因?yàn)樗哂懈蟮目估擞磕芰?也符合可靠性要求較高的不斷通過(guò)瞬時(shí)大電流的脈沖充放電電路的基本要求.,機(jī)理和失效特點(diǎn)對(duì)于鉭電容，失效與其他類型的電容一樣,也有電參數(shù)變化失效、短路失效和開(kāi)路失效三種。由于鉭電容的電性能穩(wěn)定,且有獨(dú)特的“自愈”特性,鉭電容鮮有參數(shù)變化引起的失效，鉭電容失效大部分是由于電路降額不足，反向電壓，過(guò)功耗導(dǎo)致，主要的失效模式是短路。另外,根據(jù)鉭電容的失效統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),鉭電容發(fā)生開(kāi)路性失效的情況也極少。因此,鉭電容失效主要表現(xiàn)為短路性失效。鉭電容短路性失效模式的機(jī)理是:固體鉭電容的介質(zhì)Ta2O5由于原材料不純或工藝中的原因而存在雜質(zhì)、裂紋、孔洞等疵點(diǎn)或缺陷,鉭塊在經(jīng)過(guò)高溫?zé)Y(jié)時(shí)已將大部分疵點(diǎn)或缺陷燒毀或蒸發(fā)掉,但仍有少量存在。在賦能、老煉等過(guò)程中,這些疵點(diǎn)在電壓、溫度的作用下轉(zhuǎn)化為場(chǎng)致晶化的發(fā)源地—晶核。在長(zhǎng)期作用下,促使介質(zhì)膜以較快的速度發(fā)發(fā)生物理、化學(xué)變化,產(chǎn)生應(yīng)力的積累,到一定時(shí)候便引起介質(zhì)局部的過(guò)熱擊穿。如果介質(zhì)氧化膜中的缺陷部位較大且集中,一旦在熱應(yīng)力和電應(yīng)力作用下出現(xiàn)瞬時(shí)擊穿,則很大的短路電流將使電容迅速過(guò)熱而失去熱平衡,鉭電容固有的“自愈”特性已無(wú)法修補(bǔ)氧化膜,從而導(dǎo)致鉭電容迅速擊穿失效 。失效機(jī)理主要是由于氧化膜缺陷，鉭塊與陽(yáng)極引出線接觸產(chǎn)生相對(duì)位移，陽(yáng)極引出鉭絲與氧化膜顆粒接觸等，大部分鉭電容失效是災(zāi)難性的，可能發(fā)生燒毀，爆炸，在應(yīng)用過(guò)程中需特別注意。一、固鉭因“不斷擊穿”又“不斷自愈”問(wèn)題產(chǎn)生失效。在正常使用一段時(shí)間后常發(fā)生固鉭密封口的焊錫融化，或見(jiàn)到炸開(kāi)，焊錫亂飛到線路板上。分析原因是其工作時(shí)“擊穿”又“自愈”，在反復(fù)進(jìn)行，導(dǎo)致漏電流增加。這種短時(shí)間(ns～ms)的局部短路，又通過(guò)“自愈”后恢復(fù)工作。關(guān)于“自愈”。理想的Ta2O5介質(zhì)氧化膜是連續(xù)性的和一致性的。加上電壓或高溫下工作時(shí)，由于Ta＋離子疵點(diǎn)的存在，導(dǎo)致缺陷微區(qū)的漏電流增加，溫度可達(dá)到500℃～1000℃以上。這樣高的溫度使MnO2還原成低價(jià)的Mn3O4。有人測(cè)試出Mn3O4的電阻率要比MnO2高4～5個(gè)數(shù)量級(jí)。與Ta2O5介質(zhì)氧化膜相緊密接觸的Mn3O4就起到電隔離作用，防止Ta2O5介質(zhì)氧化膜進(jìn)一步破壞，這就是固鉭的局部“自愈了”。但是，很可能在緊接著的再一次“擊穿”的電壓會(huì)比前一次的“擊穿”電壓要低一些。在每次擊穿之后，其漏電流將有所增加，而且這種擊穿電源可能產(chǎn)生達(dá)到安培級(jí)的電流。同時(shí)電容器本身的儲(chǔ)存的能量也很大，導(dǎo)致電容器永久失效。生產(chǎn)方在選用材料上入手，為解決固鉭“不斷擊穿”又“不斷自愈”，應(yīng)用超純鉭粉材料和工藝控制來(lái)減少這種局部“擊穿”現(xiàn)象。分析了固鉭在加上電壓或高溫下工作時(shí)，會(huì)產(chǎn)生局部“擊穿”現(xiàn)象。固鉭環(huán)境溫度從＋85℃降到55℃使用，工作壽命增加10倍。二、固鉭有“熱致失效”問(wèn)題固鉭的Ta2O5介質(zhì)氧化膜有單向?qū)щ娦阅?，?dāng)有充放大電流通過(guò)Ta2O5介質(zhì)氧化膜，會(huì)引起發(fā)熱失效。Ta2O5介質(zhì)氧化薄膜厚度只有微米級(jí)。無(wú)充放大電流時(shí)，介質(zhì)氧化薄相當(dāng)穩(wěn)定，微觀其離子排列不規(guī)則、無(wú)序的，稱作無(wú)定形結(jié)構(gòu)。目測(cè)呈現(xiàn)的顏色是五彩干涉色。當(dāng)無(wú)定形結(jié)構(gòu)向定形結(jié)構(gòu)逐步轉(zhuǎn)化，逐步變?yōu)橛行蚺帕校Q之微“晶化”，目測(cè)呈現(xiàn)的顏色不再是五彩干涉色，而是無(wú)光澤、較暗的顏色。Ta2O5介質(zhì)氧化薄膜的“晶化”疏散的結(jié)構(gòu)導(dǎo)致鉭電容器性能惡化直至擊穿失效。為解決“熱致失效”問(wèn)題。應(yīng)用方在線路上入手，采取限流措施，增加固鉭線路中的回路電阻。筆者見(jiàn)到有文獻(xiàn)報(bào)道：“，則其可靠會(huì)降低一個(gè)數(shù)量級(jí)以上?！奔垂蹄g的可靠性下降十倍!在固鉭線路中，增加串聯(lián)電阻，達(dá)以1W／1V后，可增加固鉭應(yīng)用可靠性。三、固鉭有“場(chǎng)致失效”問(wèn)題。 固鉭加上高的電壓，內(nèi)部形成高的電場(chǎng)，易于局部擊穿。“場(chǎng)致失效”的原因是加到固鉭上的電壓越高，場(chǎng)強(qiáng)越高，越容易產(chǎn)生“場(chǎng)致失效”。所以為提高固鉭可靠性，必須采取電壓降額使用! 一般高可靠線路中固鉭電壓降額50%使用，其工作壽命可延長(zhǎng)100倍。四、低阻抗電路使用電壓過(guò)高導(dǎo)致的失效。 對(duì)于鉭電容器使用的電路,只有兩種。有電阻保護(hù)的電路和沒(méi)有電阻保護(hù)的低阻抗電路. 對(duì)于有電阻保護(hù)的電路,由于電阻會(huì)起到降壓和抑制大電流通過(guò)的效果,因此,使用電壓可以達(dá)到鉭電容器額定電壓的60%. 沒(méi)有電阻保護(hù)的電路有兩種。 一。前級(jí)輸入已經(jīng)經(jīng)過(guò)整流和濾波,電容器被當(dāng)作放電電源來(lái)使用,由于輸入?yún)?shù)穩(wěn)定沒(méi)有浪涌,因此,盡管是低阻抗電路,可安全使用的電壓仍然可以達(dá)到額定電壓的50%都可以保證相當(dāng)高的可靠性. 二。電子整機(jī)的電源部分。 電容器并聯(lián)使用在此類電路, 除了要求對(duì)輸入的信號(hào)進(jìn)行濾波外,往往同時(shí)還兼有按照一定頻率和功率進(jìn)行放電的要求. 因?yàn)槭请娫措娐?因此,此類電路的回路阻抗非常低,以保證電源的輸出功率密度足夠. 在此類開(kāi)關(guān)電源電路中[也叫DCDC電路], 在每次開(kāi)機(jī)和關(guān)機(jī)的瞬間,電路中會(huì)產(chǎn)生一個(gè)持續(xù)時(shí)間小于1