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正文內(nèi)容

長時(shí)間低漂移模擬積分器的研究(編輯修改稿)

2025-07-25 10:39 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 (3-1-1)得 (3-1-2)該電路實(shí)現(xiàn)對兩個(gè)信號(hào)的加法運(yùn)算,但此電路沒有累加功能,所以還需要保持電路來對加法器的輸出值進(jìn)行保存,將其作為下次加法運(yùn)算的一個(gè)輸入值。電路圖如下:圖32 累加電路該累加電路,通過兩個(gè)S/H(采樣保持器)來實(shí)現(xiàn)對信號(hào)的保存,利用加法器完成兩個(gè)值的加法運(yùn)算。具體的工作方式為:(1)開關(guān)S1接積分器A的輸出VoA,開關(guān)S2接S/H1的輸出V1,此時(shí)S/H1處于保持狀態(tài),保存的是上一次交替前的累加值V1,通過加法器實(shí)現(xiàn)本段時(shí)間的累加,此時(shí)S/H2處于采樣狀態(tài),不斷地采樣當(dāng)前輸出值Vo,作為下一段交替時(shí)間加法的一個(gè)輸入值;(2)當(dāng)交替時(shí),開關(guān)S1接積分器B輸出VoB,開關(guān)S2接S/H2的輸出V2,通過加法器完成本段時(shí)間的累加,此時(shí)S/H1不斷地采樣當(dāng)前輸出值Vo,為下次交替做準(zhǔn)備;(3)通過這樣不斷地交替累加運(yùn)算,得到整個(gè)積分值,如下圖所示。圖33 累加示意圖上面介紹的累加器雖然在原理上實(shí)現(xiàn)了累加,但實(shí)際上對信號(hào)的保持效果并不理想。問題主要在于采樣保持器對信號(hào)的保持效果比較差,采樣保持器的電路圖如下:圖34 AD582采樣保持電路以廣泛應(yīng)用的通用型采樣保持器AD582為例,圖34是其輸出不反相的連接線路[18]。其中為外接電容器,實(shí)現(xiàn)對信號(hào)的采樣和保持。電路增益可由外接電阻和來選擇,增益。在采樣和保持模式時(shí)其輸入阻抗約為,在不同電容下,采樣保持器的保持情況如下:圖35 采樣保持器采樣保持性能圖35可以看出,當(dāng)外接電容為時(shí),其衰減率每秒不到一毫伏,但實(shí)際測試發(fā)現(xiàn)5秒的衰減量約為七分之一,因此以往的累加器無法滿足長時(shí)間低漂移積分器的要求。累加器由于是利用電容實(shí)現(xiàn)保持,那么針對電容主要有兩方面的問題:第一電容本身對信號(hào)要有良好的保持性能;第二為了減小電路對電容放電回路的影響,在電容后端增加一個(gè)射極跟隨器,并選用具有高輸入阻抗的運(yùn)放。本文設(shè)計(jì)的累加器基本原理圖如下:圖36 累加器的設(shè)計(jì)其中射極跟隨器U1主要是將積分器與負(fù)載電路隔離,減小負(fù)載電路對積分器的影響。累加器利用開關(guān)KKKKK5來控制累加器的工作。結(jié)合積分器的工作狀態(tài),累加器的工作過程如下:1 初始積分階段初始時(shí)C1電壓為零,因此累加器的輸出等于積分器的輸出。開關(guān)的工作狀態(tài)為:K3斷開,K1閉合,K2,K4,K5斷開2 采樣階段本階段累加器在積分結(jié)束前的瞬間,實(shí)現(xiàn)對積分信號(hào)的采樣。開關(guān)的工作狀態(tài)為:K3,K4由斷開變?yōu)殚]合,電容C2對信號(hào)進(jìn)行采樣(當(dāng)下次采樣時(shí),K5由斷開變?yōu)殚]合,實(shí)現(xiàn)對電容C1的采樣)。采樣結(jié)束后, K3,K4斷開。3交替階段本階段需要對積分電容進(jìn)行清零,同時(shí)實(shí)現(xiàn)保持電容C1與C2的交替。開關(guān)的工作狀態(tài)為:K1斷開,K2閉合, K4斷開,K5閉合.,K3保持?jǐn)嚅_。4積分累加階段這一階段的輸出信號(hào)為積分信號(hào)與上次積分結(jié)束時(shí)采樣得到的積分值的疊加。開關(guān)的工作狀態(tài)為: K1斷開,K2閉合,K3斷開,K4斷開,K5閉合如此往復(fù)循環(huán),便可實(shí)現(xiàn)對積分器輸出值的累加。 器件的選擇與性能測試 電容的選取直接影響到累加器的性能。電容的選取包括兩方面,其中一個(gè)方面是電容對信號(hào)的保持效果要盡可能的好,這與電容的材料有關(guān);另一個(gè)方面希望電容容量要盡可能的小,因?yàn)殡娙菰叫r(shí)間常數(shù)越小,這樣采樣最終得到的信號(hào)誤差就越小。但當(dāng)電容材料相同時(shí),電容越小對信號(hào)的保持效果越差,所以需要在兩者之間取一個(gè)平衡點(diǎn)。經(jīng)實(shí)驗(yàn)測試。 實(shí)際電容是理想電容與泄漏電阻的并聯(lián),并且漏電阻隨著電容兩端電壓的變化而變化??紤]到電壓在非常小的范圍變化時(shí),電容的漏電阻變化比較小,因此可以在開始放電后極短時(shí)間內(nèi)選取兩點(diǎn)來近似地計(jì)算漏電阻。根據(jù)RC電路放電暫態(tài)方程式可得到下式: (3-3-1)其中R為電容的等效漏電阻,C為電容容量。,,為放電過程中選取的兩點(diǎn)所對應(yīng)的時(shí)間與電壓值。測試電路如下圖:圖37 電容漏電阻測試電路其中開關(guān)為電磁繼電器,型號(hào)為G6H2,是一種雙刀雙擲開關(guān).[19],經(jīng)測試對信號(hào)的響應(yīng)延遲為幾毫米。運(yùn)放為具有高輸入阻抗的CA3140芯片,在時(shí),其同相端輸入阻抗約為[20]。本實(shí)驗(yàn)使用ADLINK公司的DAQ2010采集卡產(chǎn)生信號(hào)并進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,同時(shí)發(fā)出控制脈沖來控制繼電器。選取開始放電時(shí)的電壓值與放電200ms時(shí)的電壓值,代入(3-3-1)式計(jì)算出漏電阻,得到的實(shí)驗(yàn)結(jié)果如下圖:圖38 松下聚酯膜電容等效漏電阻從上圖可以看出,電容漏電阻基本在左右,所以電容后端運(yùn)放的輸入阻抗必須遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于電容的漏電阻,這樣才能不明顯地減小電容放電回路的電阻。 電容保持效果測試由于電容的非理想性,電容上的電壓會(huì)隨著時(shí)間的推移不斷衰減。根據(jù)RC電路放電公式容易知道,電容上電壓的衰減先快后慢。以時(shí)的衰減情況為例:圖39 電容對信號(hào)的衰減情況從圖中可以看出,電容電壓在前兩秒衰減迅速,之后衰減變得較為緩慢,因此延長電容保持時(shí)間有助于減少誤差,但是對積分器來說,積分時(shí)間越長漂移越嚴(yán)重,所以需要在兩者間取一個(gè)平衡點(diǎn)。規(guī)定衰減量=初始電壓絕對值末電壓絕對值。測試電容在前5秒的衰減情況測試電路如圖37所示,結(jié)果如下:圖310 電容對信號(hào)的衰減情況從圖310可以看出,電容對信號(hào)的衰減具有線性,都隨著電壓絕對值的增大而變大,并且正負(fù)電壓的情況關(guān)于縱軸基本對稱。利用函數(shù)擬合可得到曲線的近似擬合表達(dá)式: (3-2-2) (3-2-3)其中,;,;;。繼電器的優(yōu)點(diǎn)在于當(dāng)開關(guān)斷開后,開關(guān)兩端的電阻是真正的無窮大。雖然開關(guān)的響應(yīng)延遲可以通過調(diào)節(jié)控制信號(hào)的時(shí)序來解決,但是繼電器彈簧的性能會(huì)隨著使用次數(shù)的增多而發(fā)生變化,那么響應(yīng)時(shí)間也就隨之改變。經(jīng)過調(diào)研發(fā)現(xiàn)MAXIM公司的MAX4664模擬開關(guān)導(dǎo)通電阻最大為 [21],其導(dǎo)通電阻僅有,所以對電容充電的時(shí)間常數(shù)影響不大。但是其阻斷電阻沒有PDF文檔資料中介紹的那么理想,并且模擬開關(guān)作為有源器件,會(huì)對電容的保持效果產(chǎn)生影響。將圖37中的開關(guān)換成MAX4664開關(guān),同時(shí)為了測試模擬開關(guān)斷開后輸入是否仍然對輸出產(chǎn)生影響,將輸入信號(hào)分別設(shè)為單次方波和直流信號(hào),其中直流信號(hào)在開關(guān)斷開后仍然存在,測試信號(hào)5秒的衰減量,并將測得結(jié)果與繼電器時(shí)的情況作對比得到下圖:圖311 模擬開關(guān)與繼電器的對比情況由于模擬開關(guān)的斷開狀態(tài)并不是完全意義上的斷開,所以電容的泄漏回路就包括電容本身的漏電阻,射極跟隨器以及模擬開關(guān),那么使用模擬開關(guān)時(shí)電容對信號(hào)的衰減應(yīng)該會(huì)大于繼電器的情況,但從圖311可以看出,使用模擬開關(guān)時(shí)電容的衰減遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于使用繼電器時(shí)的情況,也就是說模擬開關(guān)存在著泄漏電流,并且泄漏電流的大小隨著電容電壓的不同而發(fā)生變化,那么兩個(gè)保持電容之間做不到完全隔離,會(huì)嚴(yán)重影響累加器的保持性能。并且通過對模擬開關(guān)兩次不同輸入情況的對比可以看出,模擬開關(guān)并不能完全隔離輸入信號(hào)對后面的影響。所以我們最終選擇繼電器作為控制開關(guān)。 邏輯控制 開關(guān)的時(shí)序與優(yōu)化 累加器中的控制開關(guān)總共有K1~K5五個(gè)開關(guān)。由于累加器作為積分器的輔助電路,因此累加器的控制時(shí)序需要結(jié)合積分器來分析。積分器的工作階段分為積分階段和清零階段。累加器的工作階段主要分為采樣階段和交替階段,其中采樣階段包含在積分階段中,交替階段發(fā)生在清零階段。 對開關(guān)的工作狀態(tài)進(jìn)行總結(jié),得到下表:表31 開關(guān)的時(shí)序關(guān)系開關(guān)名初始積分采樣階段清零階段開關(guān)名積分累加采樣階段清零階段K1閉合閉合斷開K1斷開斷開閉合K2斷開斷開閉合K2閉合閉合斷開K3斷開先閉合再斷開斷開K3斷開先閉合再斷開斷開K4O閉合斷開K4斷開斷開閉合K5斷開斷開閉合K5O閉合斷開其中“O”可以為閉合也可以為斷開狀態(tài)。由上表可以看出,許多開關(guān)的工作時(shí)序是一樣的,所以可以將時(shí)序相同的開關(guān)用一個(gè)電磁繼電器來控制。具體情況為:(1)K3用一個(gè)繼電器J1,使用繼電器的常開端。(2) K1,K2,K4,K5用同一個(gè)繼電器J2,其中K1,K4使用常閉端,K2,K5使用常開端。當(dāng)系統(tǒng)工作時(shí),電磁繼電器的開關(guān)狀態(tài)如下: 圖312 繼電器的工作時(shí)序圖中時(shí)序的上沿表示繼電器常開端已導(dǎo)通,下沿表示常開端為斷開狀態(tài)。T表示積分時(shí)間,t表示積分電容清零時(shí)間。t0是采樣時(shí)間,由采樣電容在不同電壓下的充電時(shí)間的最大值來確定。由于開關(guān)對控制信號(hào)的的響應(yīng)延遲經(jīng)過長時(shí)間工作后可能發(fā)生變化,所以J1下降沿比J0的下降沿稍微提前,以保證采樣的成功實(shí)現(xiàn),提前的時(shí)間根據(jù)控制信號(hào)的時(shí)間精度和開關(guān)的切換速度來決定。從圖中可以看出J1的周期是(T+t), J2的周期為2(T+t)。每個(gè)繼電器的響應(yīng)時(shí)間是不同的,因此為了確定控制信號(hào)的時(shí)序需要對每個(gè)繼電器的響應(yīng)時(shí)間進(jìn)行測試。測試電路如圖37所示,利用DG535數(shù)字延遲脈沖發(fā)生器來產(chǎn)生兩個(gè)脈寬可調(diào)的單次方波,DG535的精度可以達(dá)到1PS。表32 繼電器對控制信號(hào)的響應(yīng)時(shí)間繼電器名稱控制信號(hào)由邏輯“0”變?yōu)檫壿嫛?”時(shí),繼電器響應(yīng)延遲時(shí)間/ms控制信號(hào)由邏輯“1”變?yōu)檫壿嫛?”時(shí),繼電器響應(yīng)延遲時(shí)間/msJ1J2在QNX系統(tǒng)下編程并利用6208采集卡來產(chǎn)生控制信號(hào),QNX系統(tǒng)的時(shí)間精度可達(dá)到100微秒。得到的控制信號(hào)時(shí)序如下:圖313 控制信號(hào)的時(shí)序在采樣階段中,當(dāng)控制信號(hào)結(jié)束后,綜合考慮開關(guān)的響應(yīng)變化和控制信號(hào)的精度。 初步測試?yán)奂悠髟O(shè)定為每五秒交替一次,輸入信號(hào)由信號(hào)發(fā)生器提供,為了盡可能的測試?yán)奂悠髟诓煌妷合碌墓ぷ髑闆r,將輸入信號(hào)設(shè)為周期為380秒,峰峰值為的方波,當(dāng)輸出波形的中心對稱點(diǎn)將落在橫坐標(biāo)軸上,波形的理想峰峰值為。圖314 累加器性能測試 圖314中的方波為輸入信號(hào),階梯狀的三角波為輸出信號(hào)。從圖中可以輸出信號(hào)的中心對稱點(diǎn)沒有落在橫軸上,這是因?yàn)殡m然累加器工作的開始時(shí)刻可以由外部觸發(fā)來控制,但實(shí)驗(yàn)中所用的信號(hào)發(fā)生器卻不能由外部觸發(fā)控制,這就導(dǎo)致了輸出信號(hào)的中心對稱點(diǎn)很難落在橫坐標(biāo)上。 從圖314發(fā)現(xiàn)在第一個(gè)波谷的上升沿與第二個(gè)波峰的下降沿處輸出信號(hào)出現(xiàn)了比較大的跳變。這是因?yàn)檩敵鲂盘?hào)是保持電容上的電壓與輸入信號(hào)的疊加,實(shí)驗(yàn)中使用的輸入信號(hào)為峰峰值為的方波,在某段累加過程中如果輸入信號(hào)由500mv變?yōu)?00mv或者由500mv變?yōu)?00mv時(shí),那么輸出信號(hào)就會(huì)出現(xiàn)幅度為1V的跳變。對波谷局部放大,得到下圖:圖315 波谷處的輸出信號(hào)跳變 從圖315可以看出波谷與跳變后的電壓一共維持的時(shí)間為5秒,等于設(shè)定的交替時(shí)間,其跳變幅度約為1V,跳變的時(shí)刻發(fā)生在輸入信號(hào)由500mv變?yōu)?00mv的瞬間,與分析相符。累加器主要實(shí)現(xiàn)兩個(gè)功能:對信號(hào)的保持和對信號(hào)的累加。從圖314可以看出累加器已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了累加,下面對保持性能進(jìn)行分析。保持性能可分為對正電壓的保持效果和對負(fù)電壓的保持效果。分析結(jié)果如下表所示:表33累加器對信號(hào)的衰減情況信號(hào)段初始值/V信號(hào)段終止值/V衰減率/‰信號(hào)段初始值/V信號(hào)段終止值/V衰減率/‰最大衰減率最大衰減率 長時(shí)間的性能測試 本文設(shè)計(jì)的累加器是用電容來實(shí)現(xiàn)保持功能的,如果電容長時(shí)間工作后對信號(hào)的保持效果下降,那將會(huì)嚴(yán)重影響累加器的性能。所以我們對累加器進(jìn)行了長時(shí)間測試。鑒于對圖315的分析,我們知道在現(xiàn)有實(shí)驗(yàn)條件下很難將輸出波形的中心對稱點(diǎn)落在橫坐標(biāo)軸,所以容易使峰值處的信號(hào)段分為兩部分,以圖中波谷處為例,由于波谷的右端發(fā)生了一個(gè)1V的跳變,那么將會(huì)使波谷兩端變得不對稱,即一側(cè)會(huì)缺少一個(gè)信號(hào)保持段。因?yàn)殡娙輰φ?fù)信號(hào)的保持效果是不一樣的,那么輸出波形必然就會(huì)往某一個(gè)方向漂移,并且隨著時(shí)間的推移,漂移將會(huì)不斷積累,所以將輸入信號(hào)設(shè)定為周期300秒,峰峰值為的方波。如果輸出波形的中心對稱點(diǎn)落在橫坐標(biāo)軸上。那么理想峰峰值是,這就為輸出信號(hào)的漂移留下了一定的空間。實(shí)驗(yàn)結(jié)果如下:圖316 累加器工作1000秒的工作情況圖317 累加器工作12小時(shí)后的情況對圖316與圖317進(jìn)行分析,結(jié)果如下:表34累加器工作1000秒的衰減情況信號(hào)段初始值/V信號(hào)段終止值/V衰減率/‰信號(hào)段初始值/V信號(hào)段終止值/V衰減率/‰
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