各類探傷知識(shí)介紹(編輯修改稿)
2025-07-21 03:40 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 鍍、電機(jī)勵(lì)磁、蓄電池充電、半導(dǎo)體電路等。 二十三、什么是歐姆定律？ 答：歐姆定律反映了有穩(wěn)恒電流通過(guò)的電路中電阻、電壓和電流相互關(guān)系；歐姆定律指出，通過(guò)電路中的電流與電路兩端電壓成正比，與電路中的電阻成反比；即I ＝V \ R。 二十四、什么是電磁感應(yīng)？ 答：通過(guò)閉合回路的磁通量發(fā)生變化，而在回路中產(chǎn)生電動(dòng)勢(shì)的現(xiàn)象稱為電磁感應(yīng)；這樣產(chǎn)生電動(dòng)勢(shì)稱為感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)，如果導(dǎo)體是個(gè)閉合回路，將有電流流過(guò)，其電流稱為感生電流；變壓器，發(fā)電機(jī)、各種電感線圈都是根據(jù)電磁感應(yīng)原理工作。 二十五、簡(jiǎn)述超生波探傷中，超生波在介質(zhì)中傳播時(shí)引起衰減的原因是什么？ 答：超聲波的擴(kuò)散傳播距離增加，波束截面愈來(lái)愈大，單位面積上的能量減少。 材質(zhì)衰減一是介質(zhì)粘滯性引起的吸收；二是介質(zhì)界面雜亂反射引起的散射。 二十六、CSK－ⅡA試塊的主要作用是什么？ 答：校驗(yàn)靈敏度；校準(zhǔn)掃描線性。 二十七、影響照相靈敏度的主要因素有哪些？ 答：X光機(jī)的焦點(diǎn)大?。煌刚諈?shù)選擇的合理性，主要參數(shù)有管電壓、管電流、曝光時(shí)間和焦距大??；增感方式；選用膠片的合理性；暗室處理?xiàng)l件；散射的遮擋等。 二十八、用超生波對(duì)餅形大鍛件探傷，如果用底波調(diào)節(jié)探傷起始靈敏度對(duì)工作底面有何要求？ 答：底面必須平行于探傷面； 底面必須平整并且有一定的光潔度。 二十九、超聲波探傷選擇探頭K值有哪三條原則？ 答：聲束掃查到整個(gè)焊縫截面； 聲束盡量垂直于主要缺陷； 有足夠的靈敏度。 三十、超聲波探傷儀主要有哪幾部分組成？ 答：主要有電路同步電路、發(fā)電路、接收電路、水平掃描電路、顯示器和電源等部份組成。 三十一、發(fā)射電路的主要作用是什么？ 答：由同步電路輸入的同步脈沖信號(hào)，觸發(fā)發(fā)射電路工作，產(chǎn)生高頻電脈沖信號(hào)激勵(lì)晶片，產(chǎn)生高頻振動(dòng)，并在介質(zhì)內(nèi)產(chǎn)生超聲波。 三十二、超聲波探傷中，晶片表面和被探工件表面之間使用耦合劑的原因是什么？ 答：晶片表面和被檢工件表面之間的空氣間隙，會(huì)使超聲波完全反射，造成探傷結(jié)果不準(zhǔn)確和無(wú)法探傷。 三十三、JB1150－73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的判別缺陷的三種情況是什么？ 答：無(wú)底波只有缺陷的多次反射波。 無(wú)底波只有多個(gè)紊亂的缺陷波。 缺陷波和底波同時(shí)存在。 三十四、JB1150－73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的距離――波幅曲線的用途是什么？ 答：距離――波幅曲線主要用于判定缺陷大小，給驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)提供依據(jù)它是由判廢線、定量線、測(cè)長(zhǎng)線三條曲線組成； 判廢線――判定缺陷的最大允許當(dāng)量； 定量線――判定缺陷的大小、長(zhǎng)度的控制線；測(cè)長(zhǎng)線――探傷起始靈敏度控制線。 三十五、什么是超聲場(chǎng)？ 答：充滿超聲場(chǎng)能量的空間叫超聲場(chǎng)。 三十六、反映超聲場(chǎng)特征的主要參數(shù)是什么？ 答：反映超聲場(chǎng)特征的重要物理量有聲強(qiáng)、聲壓聲阻抗、聲束擴(kuò)散角、近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)。 三十
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