【文章內(nèi)容簡介】 ***************** * 描述 : 時(shí)基配置 * 參數(shù) : F_Mset：全局變量，隨測量檔位的不同時(shí)基配置跟著改變 * 返回 : 無 * 注意 : *************************************************************************************************/void F_M_Start(void){ TA0CTL=F_Mset[0]+TACLR+F_Mset[1]+TAIE。 CCTL0=0x4910u。// CM_1+SCS+CAP+CCIE。 CCTL1 = 0x4910u。// CM_1+SCS+CAP+CCIE。 TA0CTL |= MC_2。 //contmode}/*************************************************************************************************** * 描述 : 頻率測量 * 參數(shù) : 無 * 返回 : 無 * 注意 : 無 *************************************************************************************************/void F_Measure(void){ float F。 F=(Capture[1]Capture[0])+1。 //捕獲脈寬小于一定值，則換高擋 switch(Gears) { case 0x00://判斷是否需要換中檔 { if(FShift_L_Min) { Gears++。 F_M_Set()。 return。 } break。 } /* case 0x01://判斷是否需要換高檔 { if(FShift_H_Min) { Gears++。 F_M_Set()。 return。 } break。 }*/ default: break。 } F=F_MCap/F。 if(F5000) { LCD_LineClear(2)。 if(R_C_flag==0)//以下寫關(guān)于測電阻的顯示程序 { LCD_Display_FloatNum(2,1,F,8)。 Display_Str(2,6,Hz)。 } else//以下寫關(guān)于測電容的顯示程序 { LCD_Display_FloatNum(2,1,F,8)。 Display_Str(2,6,Hz)。 } } else if(F10000000) { F=F/1000。 LCD_LineClear(2)。 if(R_C_flag==0)//以下寫關(guān)于測電阻的顯示程序 { LCD_Display_FloatNum(2,1,F,8)。 Display_Str(2,6,Khz)。 } else//以下寫關(guān)于測電容的顯示程序 { LCD_Display_FloatNum(2,1,F,8)。 Display_Str(2,6,KHz)。 } } delay_ms(250)。}/*************************************************************************************************** * 描述 : 換擋設(shè)置 * 參數(shù) : Gears: * 0為低頻擋:~(Shift_Min=32), * 1為中頻擋:122Hz~250KHz,大概400Khz * 2為高頻擋:250KHz~40MHz * 返回 : 無 * 注意 : 1,2表示時(shí)鐘頻率為8MHz 0 4096Hz *************************************************************************************************/void F_M_Set(void){ switch(Gears) { case 0x00://換4096Hz的低檔 { F_Mset[0]=TASSEL_1。 F_Mset[1]=ID_3。 F_MCap=4150。 //Time_Ctrl_1。//不分頻 break。 } case 0x01://換8MHz的中檔 { F_Mset[0]=TASSEL_2。 F_Mset[1]=ID_0。 F_MCap=15900000。//7924000。//該與系統(tǒng)時(shí)鐘相關(guān)，需要矯正誤差 //Time_Ctrl_1。//不分頻 break。 }/* case 0x02://換8MHz的高檔，信號經(jīng)過分頻器256分頻 { F_Mset[0]=TASSEL_2。 F_Mset[1]=ID_0。 F_MCap=2029568000。//7928000*256 //Time_Ctrl_0。//256分頻 break。 }*/ default: break。 } Cap_Offset=0。 }/*************************************************************************************************** * 描述 : 定時(shí)器中斷服務(wù)函數(shù) * 參數(shù) : 無 * 返回 : 無 * 注意 : Timer A0 interrupt service routine *************************************************************************************************/pragma vector=TIMER0_A0_VECTOR//測量電阻__interrupt void Timer_A0(void){ Capture[Cap_Offset++]=TA0CCR0。 if(Cap_Offset==2) { R_C_flag=0。 CCTL0amp。=0X3FFF。 TA0CTLamp。=0XFFCF。//Stop Cap_Offset=0。 F_Measure()。 F_M_Start()。 TA0CCR0=0。 }}pragma vector=TIMER0_A1_VECTOR//測量電容__interrupt void Timer_A1 (void){ switch(__even_in_range(TA0IV,10)) // Efficient switchimplementation { case 2: // TA0CCR1 not used Capture[Cap_Offset++]=TA0CCR1。 if(Cap_Offset==2) { R_C_flag=1。 CCTL1amp。=0X3FFF。 TA0CTLamp。=0XFFCF。//Stop Cap_Offset=0。 F_Measure()。 F_M_Start()。 TA0CCR1=0。 } break。 case 4: break。 // TA0CCR2 not used case 10: { if(Gears0) { Gears。//溢出換低檔 F_M_Set()。 F_M_Start()。 } } break。 }}/////////////////////////蜂鳴器控制程序///////////////////////void Start_bill(void){ P2DIR |= 0x04。 // output TA1CCTL0 =CCIE。 // CCR0 interrupt enabled TA1CCR0 = 7850。 TA1CTL = TASSEL_2 + MC_1。 // SMCLK, contmode _BIS_SR(GIE)。 // Enter LPM0 w/ interrupt}void Stop_bill(void){ TA1CCTL0amp。=~CCIE。 }// Timer A1 interrupt service routinepragma vector=TIMER1_A0_VECTOR__interrupt void Timer_A (void){ P2OUT ^= 0x04。 // Toggle }/******************* (C) 版權(quán) 2012 longwei *****文件結(jié)束*******************************************/5 產(chǎn)品調(diào)試與包裝 調(diào)試調(diào)試目的調(diào)試試的目的是為了查找多功能數(shù)字萬用表各個(gè)功能模塊存在的問題并解決問題。本次測試分為軟件調(diào)試和硬件調(diào)試。軟件調(diào)試目的，首先，調(diào)試試并不僅僅是為了要找出錯(cuò)誤。通過分析錯(cuò)誤產(chǎn)生的原因和錯(cuò)誤的分布特征，可以幫助項(xiàng)目管理者發(fā)現(xiàn)當(dāng)前所采用的軟件過程的缺陷，以便改進(jìn)。同時(shí)，這種分析也能幫助我們設(shè)計(jì)出有針對性地檢測方法，改善調(diào)試的有效性。第二，沒有發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤的測試也是有價(jià)值的，完整的測試是評定測試質(zhì)量的一種方法。詳細(xì)而嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目煽啃栽鲩L模型可以證明這一點(diǎn)。例如 Bev Littlewood發(fā)現(xiàn)一個(gè)經(jīng)過測試而正常運(yùn)行了n小時(shí)的系統(tǒng)有繼續(xù)正常運(yùn)行n小時(shí)的概率。第三 一方面是確認(rèn)軟件做了你所期望做的事情。另一方面是確認(rèn)軟件以正確的方式來做了這個(gè)事情。第四是提供信息，比如提供給開發(fā)人員或程序經(jīng)理的回饋信息，為風(fēng)險(xiǎn)評估所準(zhǔn)備的信息。第五軟件測試不僅是在測試軟件軟件產(chǎn)品本身，而且還包括軟件開發(fā)的過程。如果一個(gè)軟件產(chǎn)品開發(fā)完成之后發(fā)現(xiàn)了很多問題，這說明此軟件開發(fā)過程很可能是有缺陷的。因此，軟件調(diào)試試的第五個(gè)目的是保證整個(gè)軟件開發(fā)過程是高質(zhì)量的。硬件調(diào)試目的，硬件調(diào)試又分為各個(gè)功能模塊的單獨(dú)調(diào)試和整合產(chǎn)品運(yùn)行功能調(diào)試。各個(gè)功能模塊的單獨(dú)調(diào)試是為了驗(yàn)證原理的可行性以及相關(guān)的精度和誤差。成品驗(yàn)證的目的是為了驗(yàn)證各個(gè)功能是否可以實(shí)現(xiàn)，或是發(fā)現(xiàn)存在的問題并解決問題。另外就是為了測試出誤差以及精度。硬件測試為了盡可能多地找出設(shè)計(jì)的錯(cuò)誤，在保證產(chǎn)品功能性能的同時(shí)提高自身的設(shè)計(jì)開發(fā)能力；也為了最終給用戶提供具有一定可信度的產(chǎn)品，保證產(chǎn)品質(zhì)量的同時(shí)提高企業(yè)的知名度。 調(diào)試范圍1）、軟件調(diào)試2）、各個(gè)小模塊測試功能）、認(rèn)真檢查已近焊接完畢的產(chǎn)品集合電路板，按照PCB圖和器件清單檢查所用器件是否正確，并且檢查器件是否能正常工作；4）、用萬用表檢查電路板線路是否斷路或是短路以及器件是否已經(jīng)跟線路連上；5）、檢查電源是否正常供電；6）、檢查各個(gè)芯片是否供電正常，是否能正常工作；7）、檢查各個(gè)功能模塊是否可以正常工作；8）、將產(chǎn)品包裝好。調(diào)試范圍 調(diào)試安排測試模塊計(jì)劃開始日期計(jì)劃結(jié)束日期負(fù)責(zé)人電容模塊電源模塊電阻模塊直流電壓直流電流蜂鳴器二極管軟件調(diào)試交流電壓產(chǎn)品測試表5 調(diào)試安排