【文章內容簡介】 空穴，在電場作用下，這些電子空穴對可以形成電流，在溫度和壓力一定時，電子空穴對的數(shù)目和入射的X光子能量成正比例關系。3衍射儀掃描方式、衍射曲線上2θ位置及I的測量方法。答：掃描方式：連續(xù)掃描和步進掃描。2θ位置測量方法：巔峰法、焦點法、弦中點法、中心線峰法、重心法。I測量方法：峰高強度、積分強度。3簡要比較衍射儀法與德拜照相法的特點。答：與德拜照相法相比，衍射儀法所具有的特點：簡便快速、靈敏度高、分辨能力強、直接獲得強度I和d值、低角度區(qū)的2θ測量范圍大、樣品用量大、對儀器穩(wěn)定的要求高。3晶胞參數(shù)的精確測定及具體方法有哪些?答：圖解外推法、最小二乘法、衍射線對法。3物相分析的一般步驟及定性鑒定中應注意的問題是什么?答：物相分析的一般步驟：用一定得實驗方法獲得待測試樣的衍射花樣，計算并列出衍射花樣中各衍射線的d值和相應的相對強度I，參考對比已知的X射線粉末衍射卡片鑒定出試樣的物相。定性鑒定中應注意的問題：(1) d的數(shù)據(jù)比I/I1數(shù)據(jù)重要；(2) 低角度線的數(shù)據(jù)比高角度線的數(shù)據(jù)重要；(3) 應重視特征線；(4) 了解待測試樣的來源、化學成分、物理性質以及用化學或物理方法對試樣進行預處理，并借助于平衡相圖都有助于正確快速地分析鑒定。3從一張簡單立方點陣物質的德拜照片上，已求出四根高角度線條的θ角(系由CuKα線所產(chǎn)生)對應的衍射指數(shù)，試用“acos2θ”的圖解外推法求出四位有效數(shù)字的點陣參數(shù)：HKL 532 620 443 541θ(176。) 解： cos2θ1= cos2θ2= cos2θ3= cos2θ1=ac=3根據(jù)上題所給數(shù)據(jù)用柯亨法計算四位有效數(shù)字的點陣參數(shù)。解：代入數(shù)據(jù)=A6489+B=A+B則A=由得3某陶瓷坯料經(jīng)衍射定性分析為高嶺石、石英和長石原料組成，其中它們的最強線各為18692620CPS，、定量各原料的含量。試比較光學顯微鏡成像和透射電子顯微鏡成像的異同。答：光學顯微鏡和透射電鏡顯微鏡成像的基本光學原理相似，區(qū)別在于使用的照明源和聚焦成像的方法不同，光學顯微鏡是可見光照明，玻璃透鏡聚焦成像，透射電子顯微鏡用電子束照明，用一定形狀的磁場聚焦成像。4電子的波長計算及電子光學折射定律的表述。答：4試計算真空中電子束在200KV加速電壓時，電子的質量、速度和波長。解：4何謂靜電透鏡和磁透鏡?答：靜電透鏡：把能使電子波折射聚焦的具有旋轉對稱等電位曲面簇的電極裝置。磁透鏡：在電子光學系統(tǒng)中用于使電子波聚焦成像的磁場是一種非均勻磁場，把能使電子波聚焦的具有旋轉對稱非均勻的磁極裝置。4敘述電磁透鏡的特點、像差，產(chǎn)生像差的原因。答：電磁透鏡的特點：能使電子偏轉會聚成像，但不能加速電子；總是會聚透鏡；焦距f、放大倍數(shù)M連續(xù)可調。像差包括幾何像差（球差、像散、畸變）和色差：球差是由電磁透鏡中近軸區(qū)域對電子束的折射能力與遠軸區(qū)域不同而產(chǎn)生的；像散是由透鏡磁場非旋轉對稱引起的；色差是由于成像電子波長（或能量）變化引起電磁透鏡焦距變化而產(chǎn)生的一種像差。4影響光學顯微鏡和電磁透鏡分辨率的關鍵因素是什么?如何提高電磁透鏡的分辨率?答：影響光學顯微鏡分辨率的關鍵因素是入射光波長和數(shù)值孔徑；影響電磁透鏡分辨率的關鍵因素是透鏡的像差和衍射效應所產(chǎn)生的散焦斑尺寸的大小。提高電磁透鏡的分辨率：確定電磁透鏡的最佳孔徑半角，使得衍射效應散焦斑與球差散焦斑尺寸相等，表明兩者對透鏡分辨率影響效果一致。4試計算加速電壓為100KV時的電子束波長，當球差系數(shù)Cs=、孔徑半角α=102弧度時的分辨率。解：??4電磁透鏡的景深和焦深主要受哪些因素影響?說明電磁透鏡景深大、焦深長的原因。答：景深受分辨率和孔徑半角影響；焦深受分辨率、孔徑半角、透鏡放大倍數(shù)影響。電磁透鏡景深大、焦深長的原因是因為其分辨率高、孔徑半角小。4何謂景深與焦深?當△r0=10 ?、α=102弧度、M=3000時，請計算Df與DL值。答：景深是透鏡物平面允許的軸向偏差；焦深是透鏡像平面允許的軸向偏差。?4何謂襯度?透射電鏡有幾種襯度像?其原理是什么?答：襯度是指試樣不同部位由于對入射電子作用不同，在顯示裝置上顯示的強度差異。透射電鏡有三種襯度像：散射襯度像、衍射襯度像、相位襯度像。散射襯度像是由于樣品的特征通過對電子的散射能量的不同變成了有明暗差別的電子圖像；衍射襯度是來源于晶體試樣各部分滿足布拉格反射條件不同和結構振幅的差異；相位襯度是利用電子束透過樣品的不同部分后其透射波發(fā)生相位差，將這相位差轉換為振幅差，實現(xiàn)圖像襯度。50、分別敘述各種不同樣品(復型樣品、粉末樣品、萃取復型樣品、經(jīng)投影的二級復型樣品、 薄膜樣品)散射襯度像的形成原理。答：在未經(jīng)投影的塑料一級或碳一級復型樣品中，A、B處只是t不同，AB，則A處t大于B處t，則A處對電子的散射能力就大，通過光闌參與成像的電子強度IAIB，表現(xiàn)在觀察屏上就是B處比A處更亮，形成明暗差別的散射襯度像；若是粉末樣品、萃取復型及經(jīng)投影的二級復型樣品，其A、B二處除t不同外，其他的如ρ、σα、A等也會不一樣，同樣會造成該兩處將電子散射到物鏡光闌以外的能力的不同；而對于薄膜樣品，則是A、B二處除t相同之外，ρ、σα、A等都不一樣。5透射電鏡樣品制備方法有哪些?簡單敘述它們的制備過程。答：粉末顆粒樣品：塑料支持膜——將一種火棉膠的醋酸異戊酯溶液滴在蒸餾水表面上，瞬間就能在水面上形成厚度約200300 ?的薄膜，將膜撈在專用樣品銅網(wǎng)上即可。塑料碳支持膜——在塑料支持膜的基礎上，再噴鍍一層很薄的碳膜。碳支持膜——在制成塑料碳支持膜以后，增加一道溶掉塑料支持膜的操作，使碳膜粘貼在樣品銅網(wǎng)上，即得到碳支持膜。復型樣品：塑料一級復型——取一滴火棉膠的醋酸異戊酯溶液滴于清潔的已腐蝕的待研究材料表面，干燥后將其剝離材料表面即可得到塑料一級復型樣品。碳膜一級復型——用真空蒸發(fā)設備在樣品表面蒸上50300 ?厚的碳，并可用重金屬投影，然后將其從樣品表面剝離即得碳一級復型樣品。塑料碳膜二級復型——用醋酸纖維素膜或火棉膠等塑料制成第一次復型，剝下后對其與樣品的接觸面先投影重金屬然后再制作碳膜復型，再去掉塑料膜就得到二級復型樣品。萃取復型：利用一種薄膜（如噴鍍碳膜）把經(jīng)過腐蝕的試樣表面的待研究相粒