光盤mhdd檢測修復硬盤壞道圖文教程(編輯修改稿)
2025-07-13 00:29 本頁面
【文章內容簡介】 出本機的IDE、 SATA和SCSI硬盤，mhdd屏蔽了對SLAVE的檢測，所以待檢測的IDE盤只能設成master或cable select并接到IDE排線的master上，為了防止用戶出錯，壓縮版取消了對primary的檢測，按硬盤所在端口前面的數(shù)字并回車選擇待檢測的盤，顯示界面如圖。 按F2可以顯示待檢測盤的詳細信息，按F3對待檢測盤復位。按F4會彈出檢測修改參數(shù)修改窗口，如圖。 其中：Start LBA為檢測起始扇區(qū)（默認為0） End LBA為檢測結束扇區(qū)（默認為硬盤的最大扇區(qū)數(shù)值） Time out為檢測超時時間 Spindown ofter scan檢測完成后停止硬盤的盤片電機 Loop test/repaire循環(huán)檢測和修理壞道 Erase Delays修理壞道 修改完成后按F4進入檢測界面?！ ≡跈z測界面，最上面的一行左邊表示檢測的狀態(tài)，右邊表示硬盤的錯誤信息，其中： AMNF 地址標記出錯 T0NF 0磁道沒找到 ABRT 指令被中止 IDNF 扇區(qū)標志出錯 U
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