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正文內(nèi)容

數(shù)據(jù)恢復(fù)教程—mhdd使用手冊(cè)(編輯修改稿)

2024-12-10 12:43 本頁(yè)面
 

【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 解密碼成功,按 F2 鍵后可以看到 Security 一項(xiàng)后面有灰色的 OFF。注意:選擇 1( Master)無(wú)法解開(kāi)密碼。 RPM:硬盤(pán)轉(zhuǎn)速度量(非常不準(zhǔn),每次測(cè)量數(shù)值都不同)。 TOF:為指定的扇區(qū)段建立映像文件(最大 2G)。 FF:從映像文件(最大 2G)恢復(fù)為扇區(qū)段。 AAM:自動(dòng)噪音管理。可以用 AAM(自動(dòng)噪音管理)命令 “所聽(tīng)即所得 ”式的調(diào)節(jié)硬盤(pán)的噪音。按 F2 鍵后如果有 AAM 字樣,就表示硬盤(pán)支持噪音調(diào)節(jié)。鍵入 AAM 命令后,會(huì)顯示出當(dāng)前硬盤(pán)的噪音級(jí)別,并且可以馬上就聽(tīng)到硬盤(pán)的讀 寫(xiě)噪音,要注意硬盤(pán)的噪音和性能是成正比的,噪音越大,性能越高,反之亦然。進(jìn)入 AAM命令后,按 0鍵可以關(guān)閉 AAM功能,按 M 鍵可以將噪音調(diào)至最小(性能最低),按 P 鍵可以將噪音調(diào)至最大(性能最高),按 +加號(hào)和 減號(hào)可以自由調(diào)整硬盤(pán)的噪音值(數(shù)值范圍從 0到 126),按 L鍵可以獲得噪音和性能的中間值(對(duì)某些硬盤(pán)如果按 +加號(hào)和 減號(hào)無(wú)效,而又不想讓噪音級(jí)別為最大或最小,可以按 L 鍵取噪音中間值),按 D鍵表示關(guān)閉 AAM 功能,按 ENTER鍵表示調(diào)整結(jié)束; FDISK:快速地將硬盤(pán)用 FAT32格式分為一個(gè)區(qū)(其實(shí)只是寫(xiě)入了 一個(gè) MBR主引導(dǎo)記錄),并設(shè)為激活,但要使用還需用 FORMAT 完全格式化。 SMART:顯示 SMART 參數(shù),并可以對(duì) SMART 進(jìn)行各項(xiàng)相關(guān)操作。 SMART ON可以開(kāi)啟 SMART功能, SMART OFF可以關(guān)閉 SMART功能, SMART TEST 可以對(duì) SMART進(jìn)行檢測(cè)。 PORT(熱鍵 Shift+F3):顯示各 IDE口上的硬盤(pán),按相應(yīng)的數(shù)字即可選擇相應(yīng)口的硬盤(pán),之后該口會(huì)被記錄在 /CFG 目錄下的 文件中, 1表示 IDE1口主, 2表示 IDE1口從, 3表示 IDE2口主, 4表示 IDE2口從, 下次再進(jìn)入 MHDD 后此口就成了默認(rèn)口,編輯 MHDD默認(rèn)的檢測(cè)端口。所以,如果進(jìn)入 MHDD后按 F2 提示 Disk Not Ready,就說(shuō)明當(dāng)前硬盤(pán)沒(méi)有接在上次 MHDD 默認(rèn)的那個(gè)口上,此時(shí)可以使用 PORT 命令重新選擇硬盤(pán)(或更改 文件)。 CX:對(duì)昆騰 CX和 LCT(包括 LA、 LB、 LC)系列硬盤(pán)進(jìn)行尋道測(cè)試,可以考驗(yàn)這兩類硬盤(pán)上的飛利浦 TDA5247芯片的穩(wěn)定性(因?yàn)橘|(zhì)量不好的 5247 芯片在頻繁尋道時(shí)最容易露出馬腳)。按 ESC鍵停止。此命令也可用在其他硬盤(pán) 上,它主要通過(guò)頻繁隨機(jī)尋道來(lái)提升硬盤(pán)電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片的溫度,從而測(cè)試硬盤(pán)在強(qiáng)負(fù)荷下的穩(wěn)定性。 WAIT:等待硬盤(pán)就位。 STOP(熱鍵 Shift+F4):關(guān)閉硬盤(pán)馬達(dá)。 IBME:查看 IBM 硬盤(pán)缺陷表( PLIST)。此時(shí)要記錄大量數(shù)據(jù),缺陷表越大,生成的文件(在 IBMLST 目錄下)越大,如果 MHDD 存在軟盤(pán)上的話,有可能會(huì)空間不足; FUJLST:查看富士通硬盤(pán)缺陷表( PLIST)。此時(shí)要記錄大量數(shù)據(jù),缺陷表越大,生成的文件(在 FUJLST目錄下)越大,如果 MHDD 存在軟盤(pán)上的話,有可能會(huì)空 間不足; MAKEBAD:人為地在某個(gè)指定區(qū)域內(nèi)制造壞道。注意,由它生成的壞道很難修復(fù)。 RANDOMBAD:隨機(jī)地在硬盤(pán)的各個(gè)地方生成壞道,按 ESC鍵停止生成。注意,由它生成的壞道很難修復(fù)。 BATCH(熱鍵 F5):批處理。 R(熱鍵 F3):硬盤(pán)復(fù)位。比如使用了 PWD加密碼后,為了使密碼馬上生效,可以用此命令。 FUCKFUJ、 KILLFUJ、 AKILLFUJ:都是刻意破壞富士通硬盤(pán)的命令,一定謹(jǐn)慎使用,否則硬盤(pán)將被徹底損壞,無(wú)法修復(fù)。某一切正常的富士通硬盤(pán),在使用 FUCKFUJ 命令后 ,僅一、兩秒種,就提示破壞成功,重新啟動(dòng)后,連自檢動(dòng)作都消失了,主板檢測(cè)不到,硬盤(pán)徹底報(bào)廢。 SCAN(熱鍵 F4):盤(pán)面掃描,可以用特定模式來(lái)修復(fù)壞扇區(qū),其中: [Scan in: CHS/LBA]:以 CHS或 LBA模式掃描。 CHS只對(duì) 500M 以下的老硬盤(pán)有效。 [Starting CYL]:設(shè)定開(kāi)始掃描的柱面。 [Starting LBA]:設(shè)定開(kāi)始掃描的 LBA值。 [Log: On/Off]:是否寫(xiě)入 日志文件 。 [Remap: On/Off](重新映像):是否修復(fù)壞扇區(qū)。 [Ending CYL]:設(shè)定終止掃描的柱面 [Ending LBA]:設(shè)定終止掃描的 LBA值。 [Timeout(sec)]:設(shè)定超時(shí)值,從 1到 200,默認(rèn)值為 30。 [Advanced LBA log](高級(jí) LBA日志):此項(xiàng)不支持。 [Standby after scan]:掃描結(jié)束后關(guān)閉硬盤(pán)馬達(dá),這樣即可使 SCAN掃描結(jié)束后,硬盤(pán)能夠自動(dòng)切斷供電, 但主機(jī)還是加電的(屬于無(wú)人職守功能)。 [Loop the test/repair]:循環(huán)檢測(cè)和修復(fù),主要用于反復(fù)地修復(fù)頑固型壞道。 [Erase WAITs](刪除等待):此項(xiàng)主要用于修復(fù)壞道,而且修復(fù)效果要比 REMAP更為理想,尤其對(duì) IBM 硬盤(pán)的壞道最為奏效,但要注意被修復(fù)的地方的數(shù)據(jù)是要被破壞的(因?yàn)?Erase WAITS 的每個(gè)刪除單位是 255 個(gè)扇區(qū))。 Erase WAITS 的時(shí)間默認(rèn)為 250毫秒,數(shù)值可設(shè)置范圍從 10 到 10000。要想設(shè)置默認(rèn)時(shí)間,可以打開(kāi) /CFG 目錄下的 文件 ,修改相應(yīng)項(xiàng)目即可更改 Erase WAITS 數(shù)值。此數(shù)值主要用來(lái)設(shè)定MHDD 確定壞道的讀取時(shí)間值(即讀取某扇區(qū)塊時(shí)如果讀取時(shí)間達(dá)到或超過(guò)該數(shù)值,就認(rèn)為該塊為壞道,并開(kāi)始試圖修復(fù)),一般情況下,不必更改此數(shù)值,否則會(huì)影響壞道的界定和修復(fù)效果。 屏幕第一行的左半部分為為狀態(tài)寄存器,右半部分為錯(cuò)誤寄存器;在屏幕第一行的中間(在 BUSY 和 AMNF之間)有一段空白區(qū)域,如果硬盤(pán)被加了密碼,此處會(huì)顯示 PWD;如果硬盤(pán)用 HPA做了剪切,此處會(huì)顯示 HPA; 屏幕第二行的左半部分為當(dāng)前硬盤(pán)的物理參數(shù),右半部分為當(dāng)前正 在掃描的位置; 屏幕右下角為計(jì)時(shí)器, Start 表示開(kāi)始掃描的時(shí)間, Time表示已消耗的時(shí)間, End表示預(yù)計(jì)結(jié)束的時(shí)間,結(jié)束后會(huì)再顯示 Time Count,表示總共耗費(fèi)了多長(zhǎng)的時(shí)間; 在掃描時(shí),每個(gè)長(zhǎng)方塊代表 255 個(gè)扇區(qū)(在 LBA模式下)或代表 63 個(gè)扇區(qū)(在 CHS模式下); 掃描過(guò)程可隨時(shí)按 ESC 鍵終止; 方塊從上到下依次表示從正常到異常,讀寫(xiě)速度由快到慢。正常情況下,應(yīng)該只出現(xiàn)第一個(gè)和第二個(gè)灰色方塊; 如果出現(xiàn)淺灰色方塊(第三個(gè)方塊),則代表該處讀取耗時(shí)較多; 如果出現(xiàn)綠色和褐色方塊 (第三個(gè)和第四個(gè)方塊),則代表此處讀取異常,但還未產(chǎn)生壞道; 如果出現(xiàn)紅色方塊(第六個(gè),即最后一個(gè)方塊),則代表此處讀取吃力,馬上就要產(chǎn)生壞道; 如果出現(xiàn)問(wèn)號(hào)?,則表示此處讀取錯(cuò)
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