【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 度 （ PSD1） 和斜率 （ K） ， 可 求出另一點(diǎn)的功率譜密度 （ PSD2） 。 即 ， PSD2= PSD1{Log2(f2/f1)} 這里 ， K是斜率 f1,f2— 對(duì)應(yīng)的頻率點(diǎn) 由以上模型可得出 ， Grms Grms=(A1+A2+A3)1/2 其中： Grms= t=20min 篩選度為： SS=1exp{()20} =1exp{ 20} =% 以上為 ESS試驗(yàn)時(shí)應(yīng)考慮的篩選強(qiáng)度的計(jì)算 ， 為了我們?cè)诠ぷ髦性O(shè)計(jì)出更好的更有效的試驗(yàn)?zāi)Ｐ?， 從而最有效的把產(chǎn)品故障屏蔽掉 ， 可極大的提高產(chǎn)品的可靠度 。 2022/5/29 38 可靠性試驗(yàn)技術(shù) HALTamp。HASS試驗(yàn)技術(shù) HALT試驗(yàn)技術(shù)已經(jīng)拋開(kāi)傳統(tǒng)的可靠性測(cè)試方法，形成了較先進(jìn)的測(cè)試方法和 思想。下面詳細(xì)介紹。 HALT（ Highly Accelerated Life Testing）和 HASS(Highly Accelerated Stress Screening)是高加速壽命試驗(yàn)和高加速應(yīng)力篩選試驗(yàn)。在國(guó)際先進(jìn) 的知名公司被廣泛采用。 HALT工作較為復(fù)雜，不單單是操作設(shè)備進(jìn)行試驗(yàn)就能 獲得效果，要想得到滿意的效果，得到準(zhǔn)確可信的數(shù)據(jù)，對(duì)于試驗(yàn)技術(shù)、失效模型 分析和確定問(wèn)題后改善設(shè)計(jì)技術(shù)，都有環(huán)環(huán)相扣的關(guān)系。 HALT技術(shù)的 主要性能指標(biāo) 溫度指標(biāo)可達(dá)： 100℃ ～ +200℃ ；溫變率 60℃ /min 振動(dòng)指標(biāo)為： 隨機(jī)振動(dòng)， 3軸 6自由度； Grms60g。 2Hz～ 10KHz. 2022/5/29 39 可靠性試驗(yàn)技術(shù) HALTamp。HASS試驗(yàn)技術(shù) HALT技術(shù) 工作原理 Thermal Step Stress Test Combined Environment Stress Test Rapid Thermal Transitions Stress Test(以 60℃ /min) Vibration Step Stress Test HALT應(yīng)用于產(chǎn)品開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)階段，對(duì)以后的可靠性試驗(yàn)可節(jié)省大量的資源。 這種新的可靠性試驗(yàn)方法是由美國(guó) HOBBS工程公司的 研究提出的。這種分析技術(shù)對(duì)于飛行器、導(dǎo)彈部件、通信產(chǎn)品等高可靠性系 統(tǒng)是必不可少的，可在設(shè)計(jì)階段極大地改善并提高產(chǎn)品的耐環(huán)境設(shè)計(jì)能力。 2022/5/29 40 可靠性試驗(yàn)技術(shù) HALTamp。HASS試驗(yàn)技術(shù) 180 ( ℃ ) T e m pe r a t ur e V i br a t i on 160 140 120 50g 100 45g 80 40g 60 35g 40 3 0 g 20 25g 0 20g 20 1 5 g 40 10g 60 5g 80 1 5 m i n C om bi ne d E nvi r onm e nt S t r e s s T e s t T e m p e r at u r e V i b r at i on Min Temp: 70 ℃ Max Temp: +90 ℃ Max Vibration Level: 45Grms Rapid Thermal Transitions: 60℃ /min Cycle: 9 試驗(yàn)設(shè)計(jì) 2022/5/29 41 可靠性試驗(yàn)技術(shù) HALTamp。HASS試驗(yàn)技術(shù) 0510152025100%元器件 (22%)設(shè)計(jì) (9%)制造 (15%)系統(tǒng)管理 (4%)耗損 (9%)未發(fā)現(xiàn)的故障(20%)誘發(fā)因素 (12%)軟件 (9%)下面是美國(guó)可靠性分析中心的一個(gè)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)， 造成電子系統(tǒng)故障的主要原因?yàn)椋? 2022/5/29 42 可靠性試驗(yàn)技術(shù) HALTamp。HASS試驗(yàn)技術(shù) 評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性是以 MILHDBK217為依據(jù)的，他的預(yù)計(jì)方法 是以 ARRHENIUS模型進(jìn)行的。但是，實(shí)際環(huán)境中的失效模式并 不遵循這一規(guī)律。例如，振動(dòng)、沖擊、濕度等都是失效的共存原因。 甚至溫度沖擊導(dǎo)致的產(chǎn)品失效也不遵循 ARRHENIUS模型 實(shí)際上，許多現(xiàn)場(chǎng)失效是由不確定因素造成的，這些不定因素是 當(dāng)今電子系統(tǒng)的可靠性問(wèn)題的主要原因。但是，這些原因可用 HALT和 HASS來(lái)成功地預(yù)測(cè)和清除故障。 總之， HALT技術(shù)在美國(guó)，已經(jīng)廣泛地應(yīng)用到電子產(chǎn)品的可靠性 分析中去，已經(jīng)成為很先進(jìn)的產(chǎn)品耐環(huán)境設(shè)計(jì)分析工具。 總結(jié) 2022/5/29 43 可靠性試驗(yàn)技術(shù) 振動(dòng)試驗(yàn)技術(shù)試驗(yàn)技術(shù) 工作原理 數(shù)字式振動(dòng)臺(tái)系統(tǒng)的工作原理圖： 振動(dòng)臺(tái)臺(tái)體 功率放大器 電何放大器 PC 控制系統(tǒng) D / A A / D 試件 傳感器 2022/5/29 44 可靠性試驗(yàn)技術(shù) 振動(dòng)試驗(yàn)技術(shù)試驗(yàn)技術(shù) 振動(dòng)技術(shù)性能指標(biāo) 一臺(tái)技術(shù)指標(biāo)先進(jìn)的振動(dòng)臺(tái) ,其功能資源是非常豐富的 .它應(yīng)包括以下環(huán)境模型 : (1).正弦定頻 (2).正弦掃頻 (3).寬帶隨機(jī) (4).寬帶 +窄帶 (5).寬帶 +正弦 (6).寬帶 +正弦 +窄帶 (7).沖擊響應(yīng)譜 (8).規(guī)定波形 (三角 ,梯形 ,半正弦 … ) 因?yàn)殡娮赢a(chǎn)品的失效 模型來(lái)自各種各樣的環(huán)境，一般在生產(chǎn)定型和出產(chǎn)檢驗(yàn)中使用正弦掃頻和寬帶 + 窄帶即可完成。但是 , 在產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型和故障分析研究時(shí)需要使 用更先進(jìn)的寬帶 + 窄帶 + 正弦和沖擊響應(yīng)譜力學(xué)模型。這種模型一般出現(xiàn)在飛行器遇到強(qiáng)大沖擊氣流時(shí)的環(huán)境。因?yàn)樵诋a(chǎn)品設(shè)計(jì)定性和故障分析 時(shí)必須考慮更全面的失效環(huán)境，這樣才有利于增長(zhǎng)產(chǎn)品的可靠性。其實(shí) 1 4 項(xiàng)完全可以滿足我們產(chǎn)品的出產(chǎn) 檢驗(yàn)和目前客戶(hù)合同的要求 . 我們選擇更先進(jìn)的技術(shù)性能 , 主要是站在公司今后若干年內(nèi)和徹底而有效地解 決產(chǎn)品力學(xué)引發(fā)的故障 , 這樣一個(gè)遠(yuǎn)景目標(biāo)上來(lái)考慮的。 2022/5/29 45 可靠性試驗(yàn)技術(shù) 振動(dòng)試驗(yàn)技術(shù)試驗(yàn)技術(shù) 設(shè)計(jì)定型評(píng)價(jià)方案 (g2/Hz) 0 .002 W1 1 0 1 6 3 2 4 8 6 4 3 0 0 F ( H z ) 圖 1 機(jī)載設(shè)備力學(xué)模型 設(shè)計(jì)定型要求尋找 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、材料 選擇和工藝設(shè)計(jì) 方面的各種缺陷， 以便盡早采取措施。 寬帶 +正弦模型； 沖擊響應(yīng)譜； 2022/5/29 46 可靠性試驗(yàn)技術(shù) 振動(dòng)試驗(yàn)技術(shù)試驗(yàn)技術(shù) 來(lái)料控制 g2/ H z 2/ H z 3 d B / o c t 3dB / oct 2 0 H z 8 0 H z 3 5 0 H z 2 0 0 0 H z 寬帶隨機(jī)振動(dòng)譜 來(lái)料控制一般用 環(huán)境應(yīng)力篩選 2022/5/29 47 可靠性試驗(yàn)技術(shù) 振動(dòng)試驗(yàn)技術(shù)試驗(yàn)技術(shù) 總均方根值： 1 .71G 試驗(yàn)時(shí)間 :15min 掃描次數(shù)： 1 功率譜密度 (g2/Hz) 窄帶（ H z ） 幅值 (g2/Hz) 掃描帶寬 n1 53 ～ 76 12 n2 106 ～ 152 24 n3 159 ～ 228 36 n1 寬帶數(shù)據(jù) n2 g2/Hz （ 5 ～ 500 Hz ） n3 0 5