光盤(pán)mhdd檢測(cè)修復(fù)硬盤(pán)壞道圖文教程(編輯修改稿)
2024-12-07 06:07 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 ，其中常用的命令設(shè)置有快捷鍵，我們下面只介紹對(duì)用戶(hù)比較有用的部分命令。 在 MHDD后輸入 port 命令可列出本機(jī)的 IDE、 SATA 和 SCSI 硬盤(pán)， mhdd 屏蔽了對(duì)SLAVE 的檢測(cè)，所以待檢測(cè)的 IDE 盤(pán)只能設(shè)成 master 或 cable select 并接到 IDE 排線的master 上，為了防止用戶(hù)出錯(cuò)，壓縮版取消了對(duì) primary 的檢測(cè)，按硬盤(pán)所在端口前面的數(shù)字并回車(chē)選擇待檢測(cè)的盤(pán)，顯示界面如圖。 按 F2 可以顯示待檢測(cè)盤(pán)的詳細(xì)信息，按 F3 對(duì)待檢測(cè)盤(pán)復(fù)位。 按 F4 會(huì)彈出檢測(cè)修改參數(shù)修改窗口，如圖。 其中： Start LBA 為檢測(cè)起始扇區(qū)（默認(rèn)為 0） End LBA 為檢測(cè)結(jié)束扇區(qū)（默認(rèn)為硬盤(pán)的最大扇區(qū)數(shù)值） Time out 為檢測(cè)超時(shí)時(shí)間 Spindown ofter scan 檢測(cè)完成后停止硬盤(pán)的盤(pán)片電機(jī) Loop test/repaire 循環(huán)檢測(cè)和修理壞道 Erase Delays 修理壞道 修改完成后按 F4 進(jìn)入檢測(cè)界面。 在檢測(cè)界面，最上面的一行左邊表示檢測(cè)的狀態(tài)，右邊表示硬盤(pán)的錯(cuò)誤信息，其中： AMNF 地址標(biāo)記出錯(cuò) T0NF 0 磁道沒(méi)找到 ABRT 指令被中止 IDNF 扇區(qū)標(biāo)志出錯(cuò) UNC 校驗(yàn)錯(cuò)誤 ,又稱(chēng) ECC 錯(cuò)誤 BBK 壞塊標(biāo)記錯(cuò)誤 在界面的右下角 會(huì)顯示壞道或不穩(wěn)定磁道的 L
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