安捷倫直流分析儀n6705b在電壓瞬變測試和低功耗分析中的應用(編輯修改稿)
2025-05-30 18:39 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 gilentexclusive feature – never been done before 過去沒有自動量程切換功能時，由于量化誤差導致大量程下無法準確測量小信號，待測信號完全被噪聲淹沒 無縫量程切換功能打開后，小電流部分的細節(jié)可以清晰觀察并準確測量 285uA 85uA Range Measurement Accuracy 3 A 177。 (% + 200 ?A) TRANSMIT MODE 100 mA 177。 (% + 7 ?A) STANDBY MODE 1 mA 177。 (% + 80 nA) SLEEP MODE 10 181。A 177。 (% + 8 nA) FIXED RANGE Seamless Range Changes Amperes = Seamless range change 無縫隙的電流量程切換 200 kHz, 18bit 數(shù)字化儀，達到 28bit 的測量范圍 多種輸出電壓補償模式，幫助穩(wěn)定輸出電壓 0150uF補償 01uF補償 7150uF補償，電壓穩(wěn)定效果最好 對同一負載，不同補償模式下的輸出效果： 低至 nA級的電流測試精度，配合無縫量程切換功能，完成從芯片到整機的耗電測試 PA耗電分析測試 手機整機耗電分析測試 瞬間電流脈沖捕捉和長時間電流記錄分析功能： 1. 瞬間電流脈沖捕捉，采樣率最高 200KHz， 256K點存儲深度 2. 長時間數(shù)據(jù)記錄模式下，采樣率最高 50KHz，主機提供 256M點存儲深度， U盤可擴展至 512M 低至 nA級的電流測試精度，配合無縫量程切換功能，完成從芯片到整機的耗電測試 瞬間電流捕捉模式，可以調(diào)用 marker直接進行電流測量，操作如同示波器一樣簡單直觀 長時間數(shù)據(jù)記錄模式，原始數(shù)據(jù)可以導出成 CSV文件，回傳到電腦端進行后續(xù)分析 議程 1. N6705B在電壓瞬變測試中的應用 2. N6781/82A源表模塊在低功耗分析中的應用 3. N6781/82A作為電子負載在電源芯片測試中的應用 4. 安捷倫太陽能測試方案 Page 26 +20V +1A +3A 3A +6V +6V 1A 作為電子負載使用： 測試您電源芯片 (PMU, PMIC, LDO等 ) 的各項指標： ? 完整的兩象限工作狀態(tài)，可以作為電子負載使用 ? 100 kHz任意波形帶寬，可以生成所需要的任意波形電壓、電流波形、脈沖、噪聲等信號 ? 200KHz采樣率，作為電子負載，直接觀察輸入電壓、電流波形 ? 低電壓狀態(tài)下工作正常，無導通電壓要求 第二象限：完整的電子負載工作區(qū) 作為電子負載使用： 測試您電源芯片 (PMU, PMIC, LDO等 ) 的各項指標： ? 產(chǎn)生脈寬、幅度可控的電流脈沖測試輸出穩(wěn)定度 (Transient Response) N6781/82A可以產(chǎn)生微秒級變化的電流脈沖，用以仿真實際負載的動態(tài)變化，來測試您的電源芯片輸出穩(wěn)定程度 定義您所需要的電流脈沖波形，加載在被測試的電源芯片上 作為電子負載使用： 測試您電源芯片 (PMU, PMIC, LDO等 ) 的各項指標： ? 負載穩(wěn)定時，可以通過內(nèi)部數(shù)采（最高 200KHz采樣率）測量芯片輸出的電壓紋波噪聲指標： 圖中可以看到，在 ，采集到的電壓紋波峰峰值為 設(shè)置 N6781A工作在恒流電子負載模式下 作為電子負載使用： 測試您電源芯片 (PMU, PMIC, LDO等 ) 的各項指標： ? 內(nèi)置側(cè)量功能，同時對輸入的電壓電流信號進行測量觀察 ? 內(nèi)置 200KHz數(shù)采直接采集輸入端電壓電流波形，并測量電壓電流峰峰值，最大最小值，測量精度最高可到 uV或 nA級別 放大或展寬波形可以得到更多細節(jié)，并對波形進行測量 由于負載模塊生成的電流脈沖造成的電源芯片輸出電壓波動 作為電子負載使用： 測試您電源芯片 (PMU, PMIC, LDO等 ) 的各項指標： ? N6781/82A作為電子負載，不存在低電壓工作限制 ? 常見電子負載通常有工作電壓要求，低于 3V時，吸收電流能力下降，導致低電壓測試時，非常不便， 普通電子負載在低電壓條件下，吸收電流能力下降，作為低電壓芯片測試非常不便，有時需要串聯(lián)額外電源用以臺高輸入電壓電壓 作為電子負載使用： 測試您電源芯片 (PMU, PMIC, LDO等 ) 的各項指標： 可以直接工作在低電壓下 (3V以下 )，吸收電流并測試低電壓供電芯片的輸出能力 Impo
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