【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】
反射和傳輸測(cè)量時(shí)不會(huì)受到絕對(duì)功率和源功率隨頻率變化產(chǎn)生的影響。 測(cè)量需求 ?檢查復(fù)雜 RF系統(tǒng)各個(gè)組件特性 ?確保傳輸信號(hào)無(wú)失真 線(xiàn)性失真:幅度、恒定群延時(shí) 非線(xiàn)性失真:諧波、互調(diào)、壓縮 ?確保良好匹配,功率最大傳輸 ?網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試應(yīng)用: 無(wú)源: 雙工器、功分器、耦合器、合路器、濾波器、隔離器、環(huán)行器、衰減器、天線(xiàn)、適配器、電纜、波導(dǎo)、傳輸線(xiàn)等 有源:放大器、混頻器、取樣器等 網(wǎng)絡(luò)分析儀分類(lèi) 矢網(wǎng) (Vector work):能測(cè)量和顯示電氣網(wǎng)絡(luò)和整體幅度和相位特性。包括: S參數(shù)、幅度和相位、駐波比、插入損耗 /增益、群延時(shí)、回波損耗、復(fù)數(shù)阻抗等 標(biāo)網(wǎng) (Scalar work) :只能測(cè)量 S參數(shù)的幅度部分,測(cè)量結(jié)果包括:傳輸損耗 /增益、回波損耗和駐波比、反向隔離度等 S參數(shù)測(cè)量 S 11 = Reflected Incident = b 1 a 1 a 2 = 0 S 21 = Transmitted Incident = b 2 a 1 a 2 = 0 S 22 = Reflected Incident = b 2 a 2 a 1 = 0 S 12 = Transmitted Incident = b 1 a 2 a 1 = 0 Incident Transmitted S 21 S 11 Reflected b 1 a 1 b 2 Z 0 Load a 2 = 0 DUT Forward Incident Transmitted S 12 S 22 Reflected b 2 a 2 b a 1 = 0 DUT Z 0 Load Reverse 1 Z0為系統(tǒng)特性阻抗,設(shè)置: CAL more CAL System Z0 Port 1 Port 2 測(cè)試誤差分析 測(cè)量系統(tǒng)存在誤差: ?系統(tǒng)誤差: 是由測(cè)試設(shè)備和測(cè)量裝置的不完善所引起 ?隨機(jī)誤差: 以隨機(jī)方式隨時(shí)間而變,不可通過(guò)校準(zhǔn)來(lái)消除。主要影響:噪聲、開(kāi)關(guān)重復(fù)性、連接重復(fù)性。 ?漂移誤差:頻率漂移、溫度漂移 網(wǎng)絡(luò)分析儀系統(tǒng)誤差 系統(tǒng)誤差為主要誤差,可通過(guò)校準(zhǔn)消除。 存在 6種類(lèi)型 12個(gè)誤差項(xiàng): ?與信號(hào)泄漏有關(guān)的方向誤差和串?dāng)_誤差 ?與反射有關(guān)的源失匹配和負(fù)載阻抗失配; ?由反射和傳輸跟蹤引起的頻率響應(yīng)誤差 誤差修正 網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)量準(zhǔn)確度受外部因素的影響較大。誤差修正是提高測(cè)量準(zhǔn)確度的過(guò)程。 誤差修正是對(duì)已知校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量,將這些測(cè)量結(jié)果貯存到分析儀的存儲(chǔ)器內(nèi),利用這些數(shù)據(jù)來(lái)計(jì)算誤差模型。然后,利用誤差模型從后續(xù)測(cè)量中去除系統(tǒng)誤差的影響。 誤差修正(續(xù)) ? 誤差修正只對(duì)特定的激勵(lì)狀態(tài)有效。 ? 當(dāng)更改儀器的以下設(shè)置,將使誤差修正無(wú)效或降低: 頻率范圍、系統(tǒng)帶寬、輸出功率、掃描點(diǎn)數(shù)、掃描類(lèi)型、掃描時(shí)間 ? 誤差修正有效判斷: C 或 C?或 Cor或 Cor? 校準(zhǔn) ? 單端口校準(zhǔn):?jiǎn)味丝谛?zhǔn)能測(cè)量并消除反射測(cè)量中的三項(xiàng)系統(tǒng)誤差(方向性、源匹配、頻率響應(yīng)): 反射特性校準(zhǔn)(常用校準(zhǔn)件:開(kāi)路、短路、負(fù)載) 傳輸特性校準(zhǔn)(常用校準(zhǔn)件:直通連接器) ? 雙端口校準(zhǔn):能消除所有主要的系統(tǒng)誤差源 小結(jié) ?傳輸特性測(cè)量 S21參數(shù)或 S12參數(shù) ,如測(cè)量插損、傳輸時(shí)延 ?反射特性測(cè)量 S11參數(shù)或 S22參數(shù),如測(cè)量駐波比、回波損耗