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正文內(nèi)容

極譜分析基本原理ppt課件(編輯修改稿)

2025-05-28 00:06 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 4(π)( tDF A Di td ???00:02:24 將 (6)代入 (5),得 : (id)t=708nD1/2m2/3t1/6c (7) 由于 汞滴呈周期性增長 ,使其有效擴(kuò)散層厚度減小 ,線性擴(kuò)散層厚度的 擴(kuò)散電流的平均值 : )5(7/3π)( ???? tD F A Di td考慮滴汞電極的汞滴面積是時(shí)間的函數(shù) ,t 時(shí)汞滴面積 ,: At=?103m2/3t2/3 (cm2) (6) )8(d)(1)(τ0tiτi tdd ??平均7/300:02:24 (id)平均 =607nD1/2m2/3 t 1/6c 討論 : ( 1) n, D 取決于被測(cè)物質(zhì)的特性 將 607nD1/2定義為擴(kuò)散電流常數(shù),用 I 表示。越大,測(cè)定越靈敏。 ( 2) m, t 取決于毛細(xì)管特性, m2/3 t 1/6定義為毛細(xì)管特性常數(shù),用 K 表示。則: (id)平均 每滴汞上的平均電流 (微安 ); n 電極反應(yīng)中轉(zhuǎn)移的電子數(shù); D 擴(kuò)散系數(shù) (cm2/s); t 滴汞周期 (s); c 待測(cè)物原始濃度 (mmol/L); m 汞流速度( mg/s); 擴(kuò)散電流方程: (id)平均 = I K c 00:02:24 (1)溶液攪動(dòng)的影響 擴(kuò)散電流常數(shù) I= 607nD1/2 = id /( Kc ) ( n和 D取決于待測(cè)物質(zhì)的性質(zhì) ) 應(yīng)與滴汞周期無關(guān) , 但與實(shí)際情況不符 。 原因 , 汞滴滴落使溶液產(chǎn)生攪動(dòng) 。 加入動(dòng)物膠 ( %) ,可以使滴汞周期降低至 。 00:02:24 (2)被測(cè)物濃度影響 被測(cè)物濃度較大時(shí) ,汞滴上析出的金屬多,改變汞滴表面性質(zhì),對(duì)擴(kuò)散電流產(chǎn)生影響。故極譜法適用于測(cè)量低濃度試樣。 (3)溫度影響 溫度系數(shù) +?C,溫度控制在 ?C范圍內(nèi),溫度引起的誤差小于 1%。 (4)汞柱的高度 id=kh1/2
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