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正文內(nèi)容

金屬局部腐蝕重要ppt課件(編輯修改稿)

2025-05-26 03:40 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 封 、 涂覆 、 妥善排流 , 清除沉積物 。 ( 2) 電化學(xué)保護(hù) ( 3) 緩蝕劑 ( 4) 改善介質(zhì)環(huán)境 ( 5) 選擇耐縫蝕合金 167。 晶間腐蝕 晶間腐蝕 — 晶粒邊界比晶粒本體腐蝕快得多,危害性大。晶間腐蝕在宏觀上不易察覺,金屬甚至保持光澤,但強(qiáng)度可完全消失。不銹鋼, Al, Ni, Cu合金等易發(fā)生晶間腐蝕。 1.晶間腐蝕條件 金屬學(xué)因素 : ( 1) 晶界異相析出,元素貧乏區(qū)形成,如:不銹鋼因形成 (Cr,Fe)23C6而導(dǎo)致貧 Cr區(qū);銅合金 CuAl2,導(dǎo)致貧 Cu; (2) 晶界析出易溶相,如 Al3Mg2, Mg2Si等溶解,產(chǎn)生晶間腐蝕; ( 3)位錯(cuò)或空位在晶界積累,導(dǎo)致雜質(zhì)或缺陷集中; ( 4)晶界應(yīng)力較大; ( 5)多晶金屬材料晶界活性較大,易于發(fā)生晶界吸附、晶界沉積等反應(yīng); ( 6)熱加工處理過程在晶界新相生成。 2. 晶間腐蝕理論 ( 1) 貧化理論 在敏化溫度 , 過飽和 C化合物 Cr23C6 在晶界析出 , 其周圍形成貧 Cr 區(qū) , 因 Cr在晶界擴(kuò)散比在晶粒擴(kuò)散速快 , 使晶界 Cr很快耗盡 (陽極 ), 與晶粒形成活化 / 鈍化電偶電池 , 發(fā)生陽極選擇性腐蝕 , 促使晶間腐蝕的發(fā)生 。 電化學(xué)因素: ? 晶界與晶粒平衡電位差異 , 造成電化學(xué)腐蝕速度不一; ? 晶界與晶粒陽極極化率不一 , 或腐蝕阻力不一; ? 介質(zhì)中氧化劑在晶界和晶粒位置還原行為差異或腐蝕阻力不一。 ( 2) 晶界雜質(zhì)或第二相選擇性溶解理論 貧化理論不能解析全部現(xiàn)象 , 如:溫度 、 超低碳不銹鋼等 。 又提出: FeCr 金屬間化合物 ? 相 , 在一定條件下在晶界沉淀 , ? 相在過鈍化電位可發(fā)生嚴(yán)重選擇性腐蝕 。 如 Al-Zn- Mg合金 , 晶界析出 MgZn2, Mg5Al3而發(fā)生選擇溶解 。 兩種理論相互補(bǔ)充 , 能解釋較多晶間腐蝕形象 。 奧氏體不銹鋼在氧化性介質(zhì) ( 充氣海水 ) 、 MgCl2(普遍 , 嚴(yán)重 )、強(qiáng)氧化性介質(zhì)- HNO3(濃 ), Na2Cr2O7等容易發(fā)生晶間腐蝕 。 4. .晶間腐蝕控制 ( 1) 降低合金含碳量 , 如發(fā)展超低碳不銹鋼 ( 成本高 ) ; ( 2) 加入穩(wěn)定元素 , 如 Ti, Nb, 對(duì)碳親合力大 , 優(yōu)先形成碳化物; ( 3) 固溶處理 , 使碳化物溶解 (1050- 1100℃ ), 然后快速冷卻 , 特別是對(duì)焊件處理 (快焊快冷 ); ( 4) 采用雙相鋼
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