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正文內(nèi)容

重磁電實(shí)習(xí)報(bào)告word版(編輯修改稿)

2025-05-08 22:31 本頁(yè)面
 

【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 看線路中有沒(méi)有電流或者M(jìn)N之間有沒(méi)有電位差。⑥觀測(cè)完畢。將供電電極移到下一個(gè)極距點(diǎn)(如A1B1,A2B2,……)上。⑦繼續(xù)進(jìn)行又一個(gè)極距上的觀測(cè),直到把所有的極距都觀測(cè)完為止。記錄相應(yīng)的數(shù)據(jù),及其所對(duì)應(yīng)的點(diǎn)號(hào)等數(shù)據(jù)。瞬變電磁法(一) 大定源測(cè)量目的是通過(guò)該方法的實(shí)習(xí),掌握用直流電法儀野外采集及室內(nèi)處理的基本方法和實(shí)際操作,掌握從采集處理到解釋整個(gè)工作流程。初步掌握瞬變電磁法勘探的基本方法和處理數(shù)據(jù)的步驟,了解瞬變電磁法的方法和步驟,并對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行繪制圖與分析解釋。在講堂群南部的空曠地上,用電線圍成一個(gè)5050m的一匝線圈(如電線長(zhǎng)度足夠長(zhǎng),可多圍幾匝)。每組測(cè)量縱列的是個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù),在老師的協(xié)助下,進(jìn)行布線,記錄數(shù)據(jù)等工作,整理報(bào)告。測(cè)量步驟:增加測(cè)量參數(shù)的描述:發(fā)射線圈50m*50m方框,測(cè)量線框1m*1m,n匝。測(cè)量點(diǎn):各測(cè)線橫坐標(biāo):10,20,30,40各測(cè)點(diǎn)縱坐標(biāo):10,13,16,……40重置大定源幾何參數(shù)。大定源回線的測(cè)量和供電設(shè)備通常是分離的。許多測(cè)量數(shù)據(jù)文件沒(méi)有發(fā)射回線的幾何信息,在加載測(cè)量數(shù)據(jù)后,需要用戶確認(rèn)大定源幾何參數(shù)的正確性。修改測(cè)點(diǎn)坐標(biāo)。在正式處理之前,需要更正點(diǎn)位,確保處理結(jié)果的正確性。(二) 中心回線測(cè)量發(fā)射線圈大小5mх5m,8匝,測(cè)量線圈1m*1m,n匝。共測(cè)了51個(gè)點(diǎn),點(diǎn)距為3米,測(cè)線共150米。修改測(cè)點(diǎn)坐標(biāo)。在正式處理之前,需要更正點(diǎn)位,確保處理結(jié)果的正確性。幅頻激電法目的是通過(guò)該方法的實(shí)習(xí),掌握用電法儀野外采集及室內(nèi)處理的基本方法和實(shí)際操作,掌握從采集處理到解釋整個(gè)工作流程。初步掌握幅頻激電法勘探的基本方法和處理數(shù)據(jù)的步驟,了解幅頻激電法的方法和步驟,并對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行繪制圖與分析解釋。此次的幅頻激電法的勘探區(qū)域是創(chuàng)造太陽(yáng)標(biāo)志建筑物東側(cè)的空曠區(qū)域,其測(cè)線設(shè)為沿著馬路的南北方向。對(duì)極距是360米的測(cè)線上采集相應(yīng)的高頻電壓,低頻電壓以及頻散率數(shù)據(jù),從而達(dá)到對(duì)測(cè)線下某一深度介質(zhì)的激電響應(yīng)的強(qiáng)弱,整理采集到的數(shù)據(jù),并編寫(xiě)相應(yīng)的實(shí)習(xí)報(bào)告。測(cè)量步驟:首先將發(fā)電機(jī)、電極、電線上、頻散率儀及電流發(fā)射裝置等儀器設(shè)備搬運(yùn)到指定的實(shí)習(xí)目的地。然后進(jìn)行人員的分配,具體到每一步驟都有相應(yīng)的人進(jìn)行負(fù)責(zé)。發(fā)動(dòng)發(fā)電機(jī)經(jīng)過(guò)WDZ3型整流電源儀器后得到所要的電流值,WDZ3型整流電源儀器的兩輸出端分別接到A、B兩電極,對(duì)地下進(jìn)行通電,AB電極之間的距離為360米。在此次實(shí)習(xí)中用到的電流頻率值是32HZ。布置MN電極之長(zhǎng)為5米,接到頻散率儀的兩端,進(jìn)行相應(yīng)測(cè)點(diǎn)的頻散率值數(shù)據(jù)的采集,做好相應(yīng)數(shù)據(jù)的記錄。整理儀器設(shè)備,整理數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)習(xí)報(bào)告的編寫(xiě)。四、實(shí)習(xí)數(shù)據(jù)分析與解釋重力數(shù)據(jù)處理1)數(shù)據(jù)校正(1)零點(diǎn)校正影響儀器零點(diǎn)變化的因素較多,通常認(rèn)為零點(diǎn)變化與彈簧本身的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、內(nèi)應(yīng)力、彈簧負(fù)荷、搬運(yùn)過(guò)程中彈簧所受到的震動(dòng)及恒溫溫度等均有關(guān)系。因此,儀器零點(diǎn)隨時(shí)間變化,在不同測(cè)線上觀測(cè)時(shí),這些因素是不一致的,當(dāng)然更不能預(yù)測(cè)估計(jì)其變化規(guī)律。[4]為了得出野外觀測(cè)過(guò)程中儀器的零點(diǎn)變化情況,必須在觀測(cè)過(guò)程中多次回到同一點(diǎn)(即基點(diǎn))進(jìn)行讀數(shù)。根據(jù)不同時(shí)間在同一點(diǎn)上的兩次觀測(cè)值之差,求出在這段時(shí)間內(nèi)近似的零點(diǎn)變化率。這里說(shuō)明的是單次觀測(cè)零點(diǎn)校正方法、對(duì)零點(diǎn)變化為線性的儀器,通常采用單次觀測(cè)法,即間隔一定時(shí)間(相隔數(shù)小時(shí)或出工和收工)到基點(diǎn)上校對(duì)一次(即讀一次數(shù)),并按解析法進(jìn)行零點(diǎn)校正。分兩種情況:設(shè)在一天工作中校對(duì)的是同一個(gè)基點(diǎn)和在一天工作中校對(duì)的兩個(gè)不同的基點(diǎn)。由于本次實(shí)習(xí)中我們采用的是第一種情況,故下面第二種情況將不再多加說(shuō)明,只介紹第一種情況。假如同一天工作中校對(duì)的是同一個(gè)基點(diǎn),設(shè)在同一個(gè)基點(diǎn)上第一、第二兩次觀測(cè)的時(shí)間為和,所測(cè)結(jié)果分別為和,故單位時(shí)間內(nèi)的零點(diǎn)變化率如下式所示:對(duì)在(即和之間)觀測(cè)的普通測(cè)點(diǎn)贏家的零點(diǎn)校正值按下式可以計(jì)算出:故該點(diǎn)的重力觀測(cè)值為其中:和分別為零點(diǎn)校正后河零點(diǎn)校正前的重力測(cè)量值。(2)中間層校正當(dāng)?shù)匦纹鸱淮髸r(shí),地形對(duì)重力測(cè)量值的影響可以忽略不計(jì),而測(cè)點(diǎn)與基點(diǎn)中間部分造成的影響與一個(gè)厚度為測(cè)點(diǎn)與基點(diǎn)的高差的沿水平方向無(wú)限大的水平層的影響相似。水平板的影響如下式:式中:表示表面巖石(或覆土)的密度,表示測(cè)點(diǎn)與基點(diǎn)的高差,單位為m。顯然,當(dāng)測(cè)點(diǎn)高于總基點(diǎn)時(shí),水平層的存在使測(cè)定值大于真正重力值。故中間層校正值的公式如下:由上式可以看出:當(dāng)測(cè)點(diǎn)高于基點(diǎn)時(shí)(0)校正值為負(fù),當(dāng)測(cè)點(diǎn)低于基點(diǎn)時(shí)(0),校正值為正。(3)地形校正假如測(cè)點(diǎn)位于點(diǎn),則高出測(cè)點(diǎn)部分以()表示,低于點(diǎn)部分以()表示。下面分別討論者兩部分的影響。1)()的影響值式中所以:2)()的影響所以:可見(jiàn),不論是()的影響或()的影響,其積分形式完全相同。即:其中為地面巖石的密度;值可正可負(fù)(對(duì)()來(lái)說(shuō)為負(fù),對(duì)()來(lái)說(shuō)為正)積分應(yīng)包括()、()兩個(gè)部分。由于實(shí)習(xí)區(qū)域范圍較小,加之GPS系統(tǒng)的精確度不夠高,無(wú)法正常測(cè)出地形的起伏,所以在做校正時(shí)地形校正可忽略不計(jì)。(4)自由空間校正前面討論了中間層校正和地形校正。經(jīng)過(guò)這兩項(xiàng)校正只意味著消除了地形和中間層的影響。我們知道即使地表是平的,僅因高度變化,重力值也會(huì)隨之變化。為了消除高度變化的影響,就必須進(jìn)行自由空間校正。由于地球在地面上所產(chǎn)生的重力場(chǎng)基本上是與該點(diǎn)到地心距離的平方成反比的,若以表示這個(gè)距離,則:而以=637000000m,=980000(mGal)代入上式得:=(mGal)當(dāng)高度變化時(shí),則:(mGal)故得自由空間校正值:(mGal)式中,以m為單位。當(dāng)測(cè)點(diǎn)高于基點(diǎn)時(shí),(0)校正值為正;反之(0)為負(fù)。(5)維度校正在進(jìn)行較大的區(qū)域重力測(cè)量時(shí),必須考慮由于測(cè)點(diǎn)緯度不同而引起的重力產(chǎn)生規(guī)律性的變化。這種變化與地質(zhì)構(gòu)造因素完全無(wú)關(guān)。只是因地球呈橢球形狀和地球自轉(zhuǎn)所引起的。由國(guó)際正常重力公式:(mGal)可以近似采用:(mGal)當(dāng)?shù)孛嫔蟽牲c(diǎn)的緯度差為時(shí),則重力差(mGal)或(mGal)式中,為地球半徑,為測(cè)點(diǎn)與基點(diǎn)之間的緯向距離(單位為km),故緯度校正值如下式所示:(mGal)對(duì)北半球而言,測(cè)點(diǎn)在基點(diǎn)以南,校正值為正,反之為負(fù)。由于本次實(shí)習(xí)區(qū)域在我校區(qū),測(cè)點(diǎn)與基點(diǎn)的距離極小,故緯度校正值可以忽略不計(jì)。綜上所述,前四項(xiàng)校正中,通常自由空間校正的數(shù)量級(jí)最大,中間層校正次之,其大小約為自由空間校正的三分之一。由于兩種校正都與高程有關(guān),通常將兩者合在一起稱(chēng)為布格校正。即:式中:為測(cè)點(diǎn)與基點(diǎn)的高差,為中間層的密度。由此,經(jīng)過(guò)布格重力異常的校正為:其中,忽略不計(jì),所以:根據(jù)實(shí)地重力實(shí)習(xí)所得的數(shù)據(jù)以及對(duì)其進(jìn)行的數(shù)據(jù)的校正處理后,從而可得到相應(yīng)的重力剖面圖和平面等值線圖。重力數(shù)據(jù)采集時(shí)采取兩組同時(shí)采集同一剖面的方法,這樣可以提高數(shù)據(jù)的可用性。從而在一定程度上降低了數(shù)據(jù)解釋時(shí)的多解性。2) 數(shù)據(jù)成圖及推斷解釋(1)重力異常剖面圖根據(jù)計(jì)算結(jié)果,得到下表:測(cè)點(diǎn)號(hào)坐標(biāo)_X(m)坐標(biāo)_Y(m)讀數(shù)均值重力差值零點(diǎn)校正Δg/mGal基點(diǎn)35176。56′31″N120176。10′11″E 135176。56′10″N120176。10′03″E 235176。56′11″N120176。10′03″E 335176。56′12″N120176。10′03″E 435176。56′13″N120176。10′01″E 535176。56′14″N120176。10′01″E 635176。56′14″N120176。10′00″E 735176。56′15″N120176。10′00″E 835176。56′16″N120176。10′00″E 935176。56′17″N120176。09′59″E 1035176。56′17″N120176。09′59″E 1135176。56′18″N120176。09′58″E 1235176。56′19″N120176。09′58″E 基點(diǎn)35176。56′31″N120176。10′11″E 基點(diǎn)35176。56′31″N120176。10′11″E 1335176。56′20″N120176。09′57″E 1435176。56′21″N120176。09′57″E 1535176。56′21″N120176。09′57″E 1635176。56′22″N120176。09′56″E 1735176。56′23″N120176。09′56″E 1835176。56′24″N120176。09′55″E 1935176。56′25″N120176。09′55″E 2035176。56′26″N120176。09′54″E 2135176。56′27″N120176。09′54″E 2235176。56′27″N120176。09′53″E 2335176。56′28″N120176。09′53″E 2435176。56′29″N120176。09′52″E 基點(diǎn)35176。56′31″N120176。10′11″E 注:沒(méi)有記錄高程數(shù)據(jù),因而也不能進(jìn)行布格異常校正,只進(jìn)行零點(diǎn)校正。以測(cè)線為橫坐標(biāo),Δg為縱坐標(biāo),繪制重力異常剖面圖。即根據(jù)上表作測(cè)線1的重力異常的剖面圖。圖41 測(cè)線1第一組重力異常的剖面圖解釋?zhuān)河善拭鎴D分析可以看出,測(cè)線1從起始點(diǎn)到結(jié)束點(diǎn)的重力異常變化情況,異常的總體趨勢(shì)是上升的,表明沿測(cè)線從南往北地下密度大體是增加的,但中間有下降的點(diǎn),在距離起始點(diǎn)600米處有一異常高,并且異常是突然升高很多,可能是地下物質(zhì)有密度高點(diǎn),還有實(shí)習(xí)時(shí)測(cè)該點(diǎn)時(shí)是不同人測(cè)量的,存在人為誤差。在實(shí)習(xí)測(cè)量時(shí),測(cè)得比較快,數(shù)據(jù)相對(duì)來(lái)說(shuō)還是比較精確的,但是由于儀器和人為的誤差,測(cè)量也不是太準(zhǔn)確,而且沒(méi)有進(jìn)行布格校正,誤差相對(duì)來(lái)說(shuō)比較大,實(shí)習(xí)只是訓(xùn)練我們采集數(shù)據(jù)、處理數(shù)據(jù)、解釋數(shù)據(jù)的能力,數(shù)據(jù)不能用作嚴(yán)格的參考。同理,對(duì)各組所有重力數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,下面幾個(gè)圖是所作的各條測(cè)線重力異常剖面圖:圖42 測(cè)線1第二組重力異常的剖面圖圖43 測(cè)線2重力異常的剖面圖圖44 測(cè)線3重力異常的剖面圖圖45 測(cè)線3第二組重力異常的剖面圖圖46 測(cè)線4重力異常的剖面圖圖47 測(cè)線5重力異常的剖面圖圖47 測(cè)線6重力異常的剖面圖 對(duì)以上剖面圖的解釋?zhuān)旱?測(cè)線第二組:都是第1條測(cè)線,從測(cè)線上來(lái)看與第一組有一定的差異,原因是人為原因或者儀器原因造成的。第2測(cè)線:從走向趨勢(shì)來(lái)看,兩組測(cè)線趨勢(shì)相同,沿著測(cè)線呈上升趨勢(shì),可能是由南向北低下巖石密度有低變高,也有可能是建筑物的影響。第3測(cè)線:從數(shù)據(jù)來(lái)看,第五組的基點(diǎn)數(shù)據(jù)明顯有錯(cuò)誤,所以這條測(cè)線的兩組數(shù)據(jù)做出來(lái)的剖面圖差別很大,而且由于第五組的數(shù)據(jù)偏大,造成了第六組曲線在一起無(wú)法區(qū)分,于是我把第六組數(shù)據(jù)單獨(dú)作圖,總體趨勢(shì)由南向北測(cè)線呈上升趨勢(shì),可能是由南向北低下巖石密度有低變高,也有可能是建筑物的影響。在400米到500米左右有一片較高的點(diǎn),說(shuō)明該處地下可能有一片密度較大的物質(zhì)。第4測(cè)線:從曲線來(lái)看,兩組曲線比較相近,總體趨勢(shì)比較平穩(wěn),由南向北呈下降趨勢(shì)。相對(duì)于其它測(cè)線來(lái)說(shuō),這條測(cè)線受建筑物的影響較小,主要受地下重力異常的影響。地5測(cè)線:兩組曲線相差較大,甚至基本上呈現(xiàn)相反形態(tài),第九組數(shù)據(jù)較大的時(shí)候第十組較小,而第九組較小的時(shí)候第十組較大。造成的原因可能是冊(cè)來(lái)那個(gè)不準(zhǔn)確或者是儀器的原因。由于兩組數(shù)據(jù)的不一致,因此無(wú)法對(duì)結(jié)果進(jìn)行分析。第6測(cè)線:總體趨勢(shì)是呈現(xiàn)下降趨勢(shì),而且異常值基本上為正值。說(shuō)明該測(cè)線地下存在密度大的巖石,由南向北密度遞減?;蛘呤怯捎诮ㄖ锏脑颉?br />
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