spc統(tǒng)計過程控制作業(yè)執(zhí)行規(guī)范(編輯修改稿)
2025-05-04 06:39 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 共同因之變異否是考慮改變管制方式Cp,Cpk否分析資料以確認特殊因之變異檢討機器設備等等之問題,提升制程能力,并重新開始設計和導入改善措施以降低變異是計算Cp, Cpk管制內(nèi)是管制用管制圖滿足規(guī)格消除異常原因是N≧100, n = 2~5滿足規(guī)格繪制直方圖繪制解析管制圖誤差/錯誤可授受誤差/錯誤不被授受＊ 改善儀器設備之衡量方法amp。訓練改善行動以降低衡量誤差/錯誤決定抽樣計劃(抽樣頻率)執(zhí)行GRamp。R決定衡量方法附件二: 制程關鍵參數(shù)一覽表制程關鍵參數(shù)一覽表機種: 零組件:關鍵輸出參數(shù)關鍵輸入?yún)?shù)管制表方法/設備附件三: 品質(zhì)(Q)制程能力診斷表品 質(zhì) (Q) 制 程 能 力 診 斷 表產(chǎn)品: 制程: 數(shù)據(jù)期間:品質(zhì)特性取樣頻率品質(zhì)現(xiàn)況品質(zhì)規(guī)格制程能力研判平均值標準差上限下限 CaCpCpk安全區(qū)管理改善區(qū)技術改善區(qū)
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