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正文內(nèi)容

核技術(shù)應(yīng)用題庫(kù)(編輯修改稿)

2025-04-21 04:45 本頁(yè)面
 

【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 衰期和活度,就可以確定樣品中被分析元素的種類和含量。這種元素分析方法稱為帶電粒子活化分析(記為CPAA)。怎么解決不同元素經(jīng)照射后生成相同放射性核素,發(fā)射的γ射線能量相同(β+衰變核素)的干擾?答:根據(jù)半衰期,增加輻照后的冷照時(shí)間t.帶電粒子活化分析中,用反應(yīng)分析11B(p,n)11C元素時(shí),存在著干擾反應(yīng)14N(p,n)11C,怎么消除這個(gè)干擾?答:需根據(jù)閾能,改變?nèi)肷淞W拥哪芰縼?lái)消除。第五章 離子束分析(1)離子束分析方法的優(yōu)缺點(diǎn)?答:優(yōu)點(diǎn):靈敏度高、分析時(shí)間短、不破壞樣品、分析范圍廣和取樣量少等優(yōu)點(diǎn),因此特別適用于痕量元素的分析;缺點(diǎn):設(shè)備復(fù)雜、成本較高。RBS分析中有三個(gè)基本點(diǎn),分別是什么?答(1)運(yùn)動(dòng)學(xué)因子 — 質(zhì)量分析;(2)背散射微分截面 — 含量分析;(3)能損因子 — 深度分析。常選用23Mev的He做RBS的原因?答:1)此E范圍內(nèi),不會(huì)有核共振;2)散射截面遵循盧瑟福公式;3)探測(cè)器對(duì)4He+的能量分辨好;4)4He+離子的數(shù)據(jù)比較齊全,便于數(shù)據(jù)分析;5)計(jì)算化合物樣品中能損的布拉格法則,在這能區(qū)也適用;6)對(duì)大多數(shù)小型加速器,很容易提供4He離子束,且能量多數(shù)在2Mev左右。背散射分析對(duì) 輕 (輕,重)元素基體樣品中的 重 (輕,重)元素雜質(zhì)有較高的分析靈敏度。在玻璃碳基體上,用真空噴鍍法鍍上一層10nm厚的Au(M=197)元素,以4MeV的a粒子入射,假設(shè)在入射和出射路徑上的能損均為10KeV,在散射角為170度方向放置一探測(cè)器,?答:k=E1=E0k=4 =E2=() = Mev△E= E1E2 = Mev =所以Au峰的寬度是:≈12道第五章 離子束分析(2)離子束分析方法的優(yōu)缺點(diǎn)?答:(1)同步輻射激發(fā)(2)放射性同位素激發(fā)(3)光子激發(fā)(4)電子激發(fā)(5)離子激發(fā)。何謂X射線熒光分析?答:確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法。它用外界輻射激發(fā)待分析樣品中的原子,使原子發(fā)出標(biāo)識(shí)X射線(熒光),通過(guò)測(cè)量這些標(biāo)識(shí)X射線的能量和強(qiáng)度來(lái)確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量。X射線熒光分析根據(jù)激發(fā)源的不同,可分成哪幾類?答:(1)帶電粒子激發(fā)X熒光分析;(2)電磁輻射激發(fā)X熒光分析;(3)電子激發(fā)X熒光分析。粒子誘發(fā)X射線熒光分析(PIXE)有哪些干擾問(wèn)題?答:(1)入射粒子的韌致輻射的干擾(2)γ射線的康普頓散射的干擾(3)二次電子韌致輻射的干擾。PIXE定量分析的制靶方法有哪些?答:灰化法;硝化法;蒸發(fā)干燥法;化學(xué)提取法等。γ射線來(lái)自于什么躍遷,X射線來(lái)自什么躍遷,由此可見(jiàn)光射線來(lái)自于什么躍遷?答:γ射線來(lái)自于核內(nèi)躍遷,X射線來(lái)自內(nèi)層電子躍遷,由此可見(jiàn)光射線來(lái)自于外層電子躍遷。第五章 離子束分析(3)什么是核反應(yīng)分析?分哪三類?答:利用核反應(yīng)測(cè)定樣品表層的含量及深度分布的一種分析方法。用帶電粒子、中子和γ射線都可以引起核反應(yīng),在核反應(yīng)分析中通常利用加速器產(chǎn)生的具有一定能量的離子束轟擊樣品,離子同樣品中待分析的核發(fā)生核反應(yīng),測(cè)量反應(yīng)過(guò)程中瞬發(fā)放出的反應(yīng)產(chǎn)物(出射粒子),就可以實(shí)現(xiàn)元素定量分析。分類: (i)帶電粒子活化分析(ii)瞬發(fā)輻射分析(PRA)(iii)共振反應(yīng)分析入射粒子和靶和發(fā)生核反應(yīng)的條件是兩者的相對(duì)動(dòng)能必須滿足什么條件?答:(略)何謂核反應(yīng)的產(chǎn)額,它與截面的關(guān)系是怎樣的?答:入射粒子在靶中引起的核反應(yīng)數(shù)與入射粒子數(shù)之比。即一個(gè)入射粒子在靶中引起核反應(yīng)的幾率稱為核反應(yīng)的產(chǎn)額。產(chǎn)額與截面的關(guān)系:截面大產(chǎn)額高。他們的不同之處在于,截面僅僅與反應(yīng)本身有關(guān),而與靶的狀態(tài)無(wú)關(guān),即靶核的多少,截面都相同。產(chǎn)額除了與截面有關(guān)外,還與靶核的多少及物理狀態(tài)有關(guān)。在核反應(yīng)分析方法中,為了能定量的測(cè)量,產(chǎn)額是一個(gè)很重要的量。已知一種煤灰分儀所用的2種g放射源是241Am和60Co,假設(shè)皮帶空載時(shí)探測(cè)器輸出的241Am的信號(hào)是I0ˊ,輸出的60Co的信號(hào)是I0,Iˊ是有煤時(shí)探測(cè)器輸出的241Am的信號(hào), I是有煤時(shí)探測(cè)器輸出的60Co的信號(hào),μm是碳的質(zhì)量吸收系數(shù),μw是所要測(cè)的元素或化合物(灰分)的質(zhì)量吸收系數(shù),并且假設(shè)在中能區(qū)質(zhì)量吸收系數(shù)與材料原子序數(shù)無(wú)關(guān),請(qǐng)推導(dǎo)煤灰分含量的表達(dá)式。解:重質(zhì)量吸收系數(shù) ut=uwcw+umcm 其中cw為灰
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