chp并行io口ppt課件(編輯修改稿)
2025-02-01 03:19 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 ＝ 0） ？ 是：結(jié)束返回 。 RL A； （ 11111110B→ 11111101B→ ………… → 11011111B） 3. 51對(duì)鍵盤(pán)的接口 鍵盤(pán)由一組常開(kāi)的按鍵開(kāi)關(guān)組成 ， 每個(gè)鍵都被賦予一個(gè)代碼 ， 稱為鍵碼 。 編碼鍵盤(pán)：通過(guò)硬件編碼電路識(shí)別閉合鍵碼 。 電路復(fù)雜 。 非編碼鍵盤(pán)：通過(guò)軟件識(shí)別鍵碼 。 電路簡(jiǎn)單 ， 由按鍵開(kāi)關(guān)組成 ， 只產(chǎn)生通 、 斷 （ 0、 1） 信號(hào) 。 單片機(jī) 、 微機(jī)常用非編碼鍵盤(pán) 。 按鍵電路： 1) 獨(dú)立試按鍵 直接使用 I/O口線 ， 每個(gè)按鍵占用一條 ， 適用于按鍵較少的單片機(jī)系統(tǒng) 。 當(dāng)某鍵閉合時(shí) ， 相應(yīng)的 I/O線變成低電平 ， 由程序查詢 。 . 見(jiàn) P282圖 7－ 38， 通過(guò)讀 P1口的狀態(tài)判斷是否有鍵按下 。 程序結(jié)構(gòu)：多路分支跳轉(zhuǎn) ， 鍵盤(pán)處理程序 。 本例缺點(diǎn) ， 未考慮鍵盤(pán)抖動(dòng)和多鍵同時(shí)按下的問(wèn)題 。 上述 2種獨(dú)立式鍵盤(pán)電路中，各按鍵均采用了上拉電阻，這是為了保證在按鍵斷開(kāi)時(shí)，各 IO口有確定的高電平，當(dāng)然如果輸入口線內(nèi)部已有上拉電阻，則外電路的上拉電阻可省去。 2) 按鍵的抖動(dòng)和竄鍵處理 抖動(dòng) ：輸出電平的不穩(wěn)定 （ 波動(dòng) ） 按鍵按下與抬起的瞬間 ， 會(huì)產(chǎn)生抖動(dòng) ， 如上圖所示 。 抖動(dòng)時(shí)間與按鍵的機(jī)械特性有關(guān) ， 時(shí)間為毫秒級(jí) 。 在這段時(shí)間內(nèi) ，CPU可能已掃描鍵盤(pán)數(shù)次 ， 造成多次讀入鍵值而發(fā)生錯(cuò)誤 。 為了確保 CPU對(duì)一次按鍵動(dòng)作只確認(rèn)一次按鍵有效，必須消除抖動(dòng)期 t1和 t3的影響。 a. 軟件來(lái)消除按鍵抖動(dòng) : 軟件消除按鍵抖動(dòng)：在第一次檢測(cè)到有鍵按下時(shí) ， 該鍵所對(duì)應(yīng)的行線為低電平 ， 執(zhí)行 延時(shí) 100mS的子程序后 ， 確認(rèn)該行線電平是否仍為低電平 ， 如果 仍為低電平 ， 則確認(rèn)該行確實(shí)有鍵按下 。當(dāng)按鍵松開(kāi)時(shí) ， 行線的低電平變?yōu)楦唠娖?， 執(zhí)行一段延時(shí)如100mS的子程序后 ， 檢測(cè)該行線為高電平 ， 說(shuō)明按鍵確實(shí)已經(jīng)松開(kāi) 。 采取以上措施 ， 躲開(kāi)兩個(gè)抖動(dòng)期 t1和 t3， 從而消除按鍵抖動(dòng)的影響 。 ： 采用硬件延時(shí)（積分電路或雙穩(wěn)態(tài)電路）消除抖動(dòng)。 竄鍵 ：同時(shí)按下兩個(gè)或兩個(gè)以上的鍵 。 消除方法 :退出按鍵取值掃描程序 ， 下次再讀 。 3) 行列式鍵盤(pán) 通過(guò)對(duì)鍵盤(pán)陣列掃描檢測(cè)判斷哪個(gè)鍵被按下，由相應(yīng)的鍵處理子程序
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