光滑極限量規(guī)設計與檢測(編輯修改稿)
2024-11-15 11:16 本頁面
【文章內容簡介】 差帶 ：通規(guī)、止規(guī)都采用“ 內縮 ”方案。 孔 用 (塞規(guī) ): “ Z”端上偏差 =ES 下偏差 =EST “ T”端上偏差 =EI+Z+T/2 下偏差 =EI+ZT/2 軸 用 (卡規(guī) ): “ T”端上偏差 =esZ+T/2 下偏差 =esZT/2 “ Z”端上偏差 =ei+T 下偏差 =ei T:量規(guī)制造公差Z:位置要素 磨損儲量 校對量規(guī)的公差帶 ： 校對軸用卡規(guī) (類似塞規(guī) ) es ei 止 Tp:校對量規(guī)制造公差 T/2 TT:上偏差 =esZT/2+Tp 下偏差 =esZT/2 ZT:上偏差 =ei+Tp 下偏差 =ei TS:上偏差 =es 下偏差 =esTp 校通 通 (TT) 校止 通 (Z
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