[計(jì)算機(jī)軟件及應(yīng)用]結(jié)構(gòu)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)-prt測(cè)試系統(tǒng)(編輯修改稿)
2025-11-12 23:23 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 沙塵測(cè)試 Rain 35C/5%/48 hrs Let’s do our best! Product Reliability Testing Lab 2 氣候適應(yīng)性測(cè)試 II(Climatic Test) Dust Test 3 hrs Salt Fog 35C/5%/48 hrs 惡劣氣候性測(cè)試 測(cè)試條件： Salt Spray Tester： 35C/5% 測(cè)試周期： 48hrs＋ 48hrs Drying 測(cè)試方法 : Power off with battery 潛在問題 : ,結(jié)構(gòu)強(qiáng)度減弱 (機(jī)械強(qiáng)度 ,電氣性能下降 ) ID:電鍍裝飾件等選擇 MD:結(jié)構(gòu)密閉性 HW:電子元器件篩選 鹽霧測(cè)試 Rain 35C/5%/48 hrs Let’s do our best! Product Reliability Testing Lab 2 氣候適應(yīng)性測(cè)試 II(Climatic Test) Dust Test 3 hrs Salt Fog 35C/5%/48 hrs 惡劣氣候性測(cè)試 測(cè)試條件： 參考標(biāo)準(zhǔn)： IEC68218/529 IPX3/4 測(cè)試方法 : Power on 潛在問題 : 此項(xiàng)測(cè)試為參考測(cè)試項(xiàng) 淋雨測(cè)試 Rain 35C/5%/48 hrs Let’s do our best! Product Reliability Testing Lab 3 結(jié)構(gòu)耐久測(cè)試 (Mechanical Endurance Test) Charger 5,000cycle Flip 100,000 Micro drop 50,000 Headset 10,000cycles Mechanical Endurance Test I Keypad 150,000 Lineation Life Test Point Activation Cable pulling Battery 2,000 SIM Card 2,000 Stylus 20,000 Mechanical Endurance Test II Slide 80,000 Cable swing Cable bending Rotation 50,000 …… …… Let’s do our best! Product Reliability Testing Lab 樣品數(shù)量： 手機(jī)外殼每種顏色 6 套 測(cè)試周期： 4 天 測(cè)試目的 : 模擬實(shí)際使用情況，考核表面油漆、電鍍、鏡蓋等裝飾性部分或器件的長(zhǎng)期可靠性。 4 表面裝飾測(cè)試 I（ Decorative Surface Test） Perspiration Acid Abrasion (RCA) Lens Scratch Pencil Hardness Coating Adhesion Decorative Surface Test UV illuminate Let’s do our best! Product Reliability Testing Lab 4 表面裝飾測(cè)試 I（ Decorative Surface Test） Perspiration Acid Abrasion (RCA) Lens Scratch Pencil Hardness Coating Adhesion Decorative Surface Test UV illuminate Test Method Judgment Abrasion (RCA) 175g壓力 連續(xù)摩擦 正面 ,斜面 ,弧面標(biāo)準(zhǔn)300cycles 棱標(biāo)準(zhǔn) 150cycles Coating Adhesion 3% 積不大于 50% Perspiration Acid 60C 95%RH 48hours PH= 無腐蝕 ,變色等異常 UV illuminate 50C 340W/mm178。 48hours 無裂紋 ,變色等異常 Pencil Hardness Housing:500g 2H Lens:500g 3H 無可目視劃痕 Lens Scratch 500g 50times 無大于 100μ m 的劃痕 檢驗(yàn)為日光燈下 ,任何角度 ,30cm目視 Let’s do our best! Product Reliability Testing Lab 樣品數(shù)量： 11 臺(tái) 測(cè)試周期： 3 天 測(cè)試目的 : 模擬實(shí)際使用情況，考核手機(jī)在低溫下跌落、翻蓋、充電時(shí)的可靠性；考察手機(jī)在遭受扭曲、坐壓、自由跌落時(shí)的結(jié)構(gòu)可靠性。 5. 特殊條件測(cè)試 （ Special Stress Test） Low Temperature Flip Squeeze Drop Special Stress Test Twist Free Fall Low Temperature Drop Low Temperature Charge Let’s do our best! Product Reliability Testing Lab 5. 特殊條件測(cè)試 （ Special Stress Test） Low Temperature Flip Squeeze Drop Special Stress Test Twist Free Fall Low Temperature Charge Low Temperature Drop Sample Size Test Method Judgment Low Temperature Drop 3 Power on 10C 2hours drop 6 faces 2 cycles 復(fù)問題 可能造成傷害問題 Low Temperature Flip 2 Power on 1C 50,000 cycles 紋 ,斷裂 (此項(xiàng)測(cè)試為參考實(shí)驗(yàn)項(xiàng) ) Low Temperature Charge 2 Power off 1C 2hours Charge 4hours 4V (測(cè)試前電池電壓在 ) Let’s do our best! Product Reliability Testing Lab 5. 特殊條件測(cè)試 （ Special Stress Test） Low Temperature Flip Squeeze Drop Special Stress Test Twist Free Fall Low Temperature Charge Low Temperature Drop Sample Size Test Method Judgment Squeeze 2 Power on 45Kg 1,000cycles Twist 2 Power on 1,000cycles Let’s do our best! Product Reliability Testing Lab 5. 特殊條件測(cè)試 （ Special Stress Test） Low Temperature Flip Squeeze Drop Special Stress Test Twist Free Fal
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