【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 ，性質(zhì)穩(wěn)定，耐腐蝕，耐潮濕，能保證整個(gè)使用期限內(nèi)線 纜標(biāo)識(shí)的完整和清晰。 在每個(gè)信息點(diǎn)的面板上都將用標(biāo)識(shí)標(biāo)明該信息點(diǎn)的編號(hào)及屬性。 具體的線纜編號(hào)請(qǐng)參閱線標(biāo)表。 167。 系統(tǒng)電氣性能測(cè)試 167。 遵遁的標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)范 EIA/TIA 568B 北美布線標(biāo)準(zhǔn) ISO/IEC 11801 國(guó)際布線標(biāo)準(zhǔn) TSB67 4 對(duì) UTP 現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試規(guī)范 TSB95 驗(yàn)證五類系統(tǒng)支持千兆位應(yīng)用的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) ANSI/TIA/EIA568A5。 增強(qiáng)五類標(biāo)準(zhǔn) ISO/IEC JTC 1/SC 25/WG3: class E draft AMP Cabling System Training Manual 項(xiàng)目組織、實(shí)施與管理方案 15 “ AMP 結(jié)構(gòu)化布線系統(tǒng)的需求和建議” 167。 測(cè)試基本要求： 所有的 AMP UTP/ScTP 及光纜的水平子系統(tǒng)和主干子系統(tǒng)必須 100% 的采用 AMP 認(rèn)可的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀來測(cè)試（如 FLUKE， MICROTEST， DATACOM 等）。 測(cè)試模型根據(jù)申請(qǐng)保證的范圍和用戶的要求可按基本鏈路或信道來進(jìn)行，測(cè)試具體方法及性能指標(biāo)要求見下節(jié)，測(cè)試儀本身的使用請(qǐng)按照測(cè) 試儀廠商的要求來進(jìn)行有關(guān)的操作，以完成和實(shí)現(xiàn) AMP 公司布線系統(tǒng)的有關(guān)測(cè)試要求。 167。 測(cè)試方法及測(cè)試指標(biāo)要求 A： UTP/ScTP 布線系統(tǒng)測(cè)試： 1永久鏈路模型測(cè)試：每口 /4對(duì) 對(duì)水平子系統(tǒng)，測(cè)試必需包括所有的水平永久鏈路布線組件，且每端測(cè)試線不能超過 2m。 水平配線架 插座 永久鏈路測(cè)試保證模 型 對(duì)主干子系統(tǒng)，測(cè)試必需包括所有的主干永久鏈路的所有組件，且每端測(cè)試線不能超過 2m。 主干配線架 主干配線架 永久鏈路測(cè)試保證模型 測(cè)試儀 測(cè)試儀 測(cè)試儀 測(cè)試儀 項(xiàng)目組織、實(shí)施與管理方案 16 測(cè)試性能指標(biāo)見：附錄 TSB67,TSB95， ANSI/TIA/EIA568A5, 測(cè)試儀測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)選擇項(xiàng)： PERMANENT LINK 永久鏈路測(cè)試將來只得到 AMP 相應(yīng)的鏈路產(chǎn)品和性能應(yīng)用保證。 2信 道測(cè)試：以每 4對(duì)進(jìn)行測(cè)試 （ 1） 對(duì)水平，支持高速應(yīng)用時(shí)，測(cè)試包括所有的水平信道組件（包括兩端的設(shè)備線和跳線），兩端的設(shè)備線加跳接線總長(zhǎng)不超過 27m。 水平配線架 UTP/ScTP水平 插座 或 信道保證測(cè)試模型 （ 2） 對(duì)主干，支持高速應(yīng)用時(shí)，測(cè)試包括所有的主干信道組件（包括兩端的設(shè)備線和跳線），設(shè)備線加跳接線總長(zhǎng)不超過 15m。 主干配線架 UTP/ScTP主干 主干配線架 測(cè)試儀 測(cè)試儀測(cè)試儀 測(cè)試儀測(cè)試儀 測(cè)試儀 項(xiàng)目組織、實(shí)施與管理方案 17 或 或 或 信道保證測(cè)試模型 （ 3） 測(cè)試儀測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)選擇項(xiàng)： UTP /SCTP CHANNEL。 UTP/ScTP 永久鏈路的測(cè)試線必需由設(shè)備生產(chǎn)商提供，并滿足或超過TSB67,TSB95， ANSI/TIA568A5, TIA 六類 /ISO/IEC E 級(jí)性能要求。 5．需要連接到測(cè)試線的 UTP/ScTP 適配器，必需滿足或超過它所測(cè)試的鏈路或信道的性能。 測(cè)試儀 測(cè)試儀測(cè)試儀 測(cè)試儀測(cè)試儀 測(cè)試儀 項(xiàng)目組織、實(shí)施與管理方案 18 90m 的 UTP/ScTP 基本鏈路，以及總長(zhǎng)不超過 100m 的信道（包括 跳接線和設(shè)備線），必需 100%地測(cè)試以下參數(shù)： 對(duì)于 6 類系統(tǒng)，需要測(cè)試： 連線圖（ Wire Map） ,長(zhǎng)度，衰減，近端串?dāng)_（ NEXT）， Power sum Next, ACR， Return Loss, Propagation Delay, Delay Skew ,ELFEXT 7．包括測(cè)試線在內(nèi)，基本鏈路的最大物理長(zhǎng)度為 94m，包括設(shè)備和跳 接線在內(nèi)，信道的最大長(zhǎng)度為 100m。 8．所有的 UTP/ScTP 基本鏈路和信道 必需 100％地測(cè)試所有 4 對(duì)線的衰減。 9．必需測(cè)試在 UTP/ScTP 基本鏈路或信道中一個(gè)線對(duì)對(duì)另一個(gè)線對(duì)的干擾（ NEXT）。 10．所有 UTP/ScTP 基本鏈路和信道必需 100％地從兩端對(duì) 6 種線對(duì)組合測(cè)試其近端串?dāng)_值（ NEXT），為了提高工作效率，測(cè)試儀最好購(gòu)買自動(dòng)雙向測(cè)試的測(cè)試儀，否則使用單向測(cè)試儀表時(shí)，在一個(gè)方向上測(cè)試完后，必須對(duì)同一基本鏈路 /信道主從儀表調(diào)換位置從另一方向再測(cè)一次。 11．對(duì)于以上參數(shù)，如果現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀報(bào)告為 PASS，就需記錄和移交申請(qǐng)保證。而如果報(bào)告為PASS*， FAIL*和 FAIL 則 不能記錄和申請(qǐng)保證。 建議在測(cè)試數(shù)據(jù)存入測(cè)試儀內(nèi)存前，安裝者要對(duì)基本鏈路 /信道失敗的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行錯(cuò)誤檢查。 UTP/SCTP 測(cè)試結(jié)果提交 AMP 公司并申請(qǐng)保證時(shí)， AMP只要求提交測(cè)試結(jié)果軟盤即可。 12．如果 UTP/ScTP 主干基本鏈路或信道長(zhǎng)度大于 100m 但小于等于 800m，且希望應(yīng)用保證，則測(cè)試需符合 A、 B、 C級(jí)的應(yīng)用，對(duì)于超長(zhǎng)點(diǎn) (90m),測(cè)試但不保證其電氣性能。 13．如果 UTP/ScTP 主干基本鏈路或信道長(zhǎng)度大于 800m，則只測(cè)試其連通性即可，測(cè)試連通性時(shí)，可使用 AMP 認(rèn)證的測(cè)試儀，也可使用 AMP的 STM8 和 MT5000。 B：一舟光纖布線測(cè)試 ： 1，測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn)： ISO/IEC11801， TIA/EIA568B。 2．對(duì)于光纖布線對(duì)每芯光纖鏈路，均需測(cè)試三種參數(shù)：衰減，長(zhǎng)度及極性。極性在測(cè)試衰減時(shí)確定。 光纖布線測(cè)試結(jié)果可以以電子軟盤或書面硬拷貝形式提交 3．所有光纖測(cè)試線必需由測(cè)試儀生產(chǎn)商或一舟公司生產(chǎn)或組裝。 4． 對(duì)于多模光纖，水平布線時(shí)，應(yīng) 100%在 850nm 或 1300nm 波長(zhǎng)下測(cè)試，主干布線時(shí)，應(yīng)100%分別在 850nm 和 1300nm 波長(zhǎng)下測(cè)試，對(duì)于單模光纖，主干布線應(yīng)分別在 1310nm 和1550nm 波長(zhǎng)下進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試使用光功率計(jì)和光源表，并且至少?gòu)囊欢诉M(jìn)行。 項(xiàng)目組織、實(shí)施與管理方案 19 5．所有水平和主干電纜應(yīng)該 100%測(cè)試長(zhǎng)度，使用 OTDR ,或在特殊情況下，簡(jiǎn)單從電纜的護(hù)套上有關(guān)長(zhǎng)度刻度來估算其光纖布線長(zhǎng)度。 6．最大衰減不能超過以下值： 對(duì)于 ：在 850nm 或 1300nm 時(shí) , 最大衰減不能超過 多模或單模主干鏈路長(zhǎng)度超過 90 米時(shí)，衰減極限值應(yīng)該由以下公式 計(jì)算：鏈路衰減極限值 (db)=光纜衰減 +連結(jié)頭衰減 +光纖接續(xù)器衰減 其中 :光纜衰減（ db） =衰減系數(shù)（ db/km） *長(zhǎng)度（ km） 衰減系數(shù)：參考如下： @850nm for @1300nm for @1310nm 室內(nèi)單模 @1550nm 室內(nèi)單模 @1310nm 室外單模 @1310nm 室外單模 連接頭衰減 (db) =連接頭對(duì)數(shù) * 連接頭損耗 光纖接續(xù)器衰減 (db)=光纖接續(xù)器個(gè)數(shù) * 光纖接續(xù)器損耗 附錄 A：一舟公司認(rèn)可的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀廠商及儀表 Fluke ： DSP4000 以上系列 (工程中采用 DSP4000100 測(cè)試儀 ) Microtest ： PenataScanner Plus ,OMNIScanner Scope ： WireScope 100amp。155amp。350dual remote, WaveTek ： Lantek Pro XLdual next ,LT8100 and 8155,LT8600 Data Technologies ： LANCAT Vtwoway ,LANcat System 6 對(duì)于以上儀表，一舟接受的測(cè)試數(shù)據(jù)儲(chǔ)存格式建議如下： Fluke: txt(書面與電子文檔形式 ) Microtest : cms Scope : mdb Wavetek: csv Data Technologies : txt 所有滿足精度要求的光纖現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀（光功率計(jì)和光源表）均可使用，詳細(xì)請(qǐng)咨詢一舟公司辦事處。 項(xiàng)目組織、實(shí)施與管理方案 20 C： AMP 模塊、接插件測(cè)試 ： 以 AMP 公司提供的檢驗(yàn)合格報(bào)告為準(zhǔn)。 D：其它線纜測(cè)試 ： 供電線路，控制電纜及音頻線路只作連通性測(cè)試。 TIA 永久鏈路標(biāo)準(zhǔn) 167。 測(cè)試參與人員及分工 : 布線工程實(shí)施小組，負(fù)責(zé)提供甲方認(rèn)可的測(cè)試點(diǎn)書面信息表。 布線工程質(zhì)控小組代表，甲方代表，工程監(jiān)理代表參與監(jiān)督測(cè)試，若出現(xiàn)不合格， Imped. Wire Map Res. length Delay Skew Prop. Delay Freq next attn RL acr elfext PS next PS acr PS elfext Cable Type nvp limit Required ? Max nS nS MHz dB dB dB dB dB dB dB dB UTP100 Cat 5e ScTP100 Cat 5e 69 69 90110 90110 12345678S |||||||| 12345678 12345678S ||||||||| 12345678S N/A 90m 295ft 45 518 5 100.0