hdd制造的三大危險源(編輯修改稿)
2025-06-17 18:00 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 何砸點和刻痕的，所以比較之 下，碟片比磁頭更容易受到物理上的損壞，硬盤內(nèi)部的 塵粒此時就好比一顆顆的隕石不斷沖擊著硬盤的表面。 Samsung/SAE Confidential 小結(jié) 1： 由于磁頭和碟片本身的脆弱性和磁頭微小的體積，再加上取決于頭碟讀寫性能 而不斷變小的飛行間距，使得普通的塵粒對于我們的硬盤來說顯得非常的致命， 尤其在高速旋轉(zhuǎn)的情況下， 我們不難想象塵粒是如何在氣流的帶動下飛速的撞向 原本平滑的碟片以及磁頭的，一些更加細(xì)小的塵粒則有可能被卷入穿過頭碟間距 的氣流，卡在頭碟間被迫劃傷碟片，同時損害磁頭，導(dǎo)致嚴(yán)重的后果 。所以塵粒 被視為硬盤生產(chǎn)的三大危險源之一，而嚴(yán)格控制我們的生產(chǎn)環(huán)境是保證生產(chǎn)質(zhì)量 絕對必要的條件。 Samsung/SAE Confidential ESD 靜電放電 ?1. 靜電放電的詳細(xì)知識： ESD Training ?2. 靜電放電的威脅 ?3. 認(rèn)識磁頭極尖 Samsung/SAE Confidential 靜電的威脅 靜電放電對于硬盤最主要的威脅存在于磁頭方面，下面我們簡單介紹下 靜電對磁頭的威脅： 磁頭精巧的結(jié)構(gòu)使得面臨靜電放電時顯的無所適從，無論是前后銜接的 電子線路還是起決定性作用的極尖均無法避免 結(jié)構(gòu)復(fù)雜的磁頭組合 磁頭組合示意圖 Samsung/SAE Confidential 微觀世界 ~認(rèn)識 Slider) Sliders在一個一分錢的硬幣上的直觀圖 Samsung/SAE Confidential WAFER與 SLIDER kilometers traveled gms of mass added Au, Cu, PtMn, NiFeCr, Ta, CoNiFe, Cr, AlO, Ti, Ru, NiNb, CoFe, CoPt, NiFe, CoFeN, plus various photoresists .038 mm of height added 20K Heads 一塊 wafer只有普通水杯的杯口那么大，但是 一個完成的 WAFER卻可以切割出大約 20K個 Slider， 可以想象每個 Slider的大小不會超過半個芝麻 wafer Samsung/SAE Confidential ?讓我們清楚地認(rèn)識極尖（ Read/write sensors) 在同樣的放大倍數(shù)下 螞蟻眼睛和 極尖 所呈現(xiàn)出來的面貌 Read/writer sensors slider 極尖的比 slider更小，可以用 納米或者微米來衡量，其內(nèi)部復(fù)雜 的結(jié)構(gòu)在此不說明，參考下頁簡單的 示意圖 極尖 Samsung/SAE Confidential 17 典型的磁頭
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