xps能譜分析方法及原理(編輯修改稿)
2025-06-15 16:44 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 (～ 1 108T) XPS 的工作原理： 電離放出光電子 Xray 樣品 能量分析器 檢測(cè)器 （記錄不同能量的電子數(shù)目） 光電子產(chǎn)生過程： e hν(Xray) A(中性分子或原子 )+ hν(Xray) A+*（激發(fā)態(tài)的離子） +e(光電子 ) XPS譜線中伴峰的來源： ? 振離 (Shakeoff):多重電離過程 （能量差為帶有一個(gè)內(nèi)層空穴離子基態(tài)的電離電位） A+hν=(A2+)*+2e 正常： Ek(2P)=hνEb(2P) 振離： Ek’(2P)=hν[Eb(2P)+Eb(3d)] ? 振激 (Shakeup):在 Xray作用下內(nèi)層電子發(fā)生電離而使外層電子躍遷到激發(fā)的束縛態(tài)導(dǎo)至發(fā)射光電子的動(dòng)能減少。（ 能量差為帶有一個(gè)內(nèi)層空穴離子基態(tài)的電離電位） ? 能量損失 (Energy loss):由于光電子在穿過樣品表面時(shí)同原子（或分子）發(fā)生非彈性碰撞而引起的能量損失。 ? X射線伴線 (Xray statellites):Xray不是單一的 Ka，還有 Ka1,2,3,4,5,6以及 Kβ。 (主要有 Ka3,4構(gòu)成 ) ? 多重分裂 (Multiplet splitting):一般發(fā)生在基態(tài)有未成對(duì)電子的原子中。 ? 俄歇電子 (Auger electron):當(dāng)原子內(nèi)層電子光致電離而射出后，內(nèi)層留下空穴，原子處于激發(fā)態(tài)，這種激發(fā)態(tài)離子要向低能態(tài)轉(zhuǎn)化而發(fā)生弛豫，其方式可以通過輻射躍遷釋放能量，波長(zhǎng)在 X射線區(qū)稱為 X射線熒光；或者通過非輻射躍遷使另一電子激發(fā)成自由電子，這種電子就稱為俄歇電子。對(duì)其進(jìn)行分析能得到樣品原子種類方面的信息。 其過程為： A+hν (A+)*+e(光電子 ) A++ hν’(X熒光 ) A2++e(俄歇電子 ) 兩者只能選擇其一 （原子序數(shù) Z30的元素以發(fā)射俄歇電子為主） 俄歇電子產(chǎn)生過程圖解： hv(Xray熒光 ) 俄歇電子 e Energy 處于激發(fā)態(tài)離子 產(chǎn)生 Xray熒光過程 處于激發(fā)態(tài)離子 產(chǎn)生俄歇電子的過程 XPS譜圖中伴峰的鑒別： （在 XPS中化學(xué)
公司管理相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1