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正文內(nèi)容

考察報(bào)告格式(編輯修改稿)

2025-08-12 20:20 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 述(介紹日本半導(dǎo)體的發(fā)展現(xiàn)狀、動(dòng)向以及特點(diǎn))(5)日本集成電路發(fā)展概況和工藝(6)日本集成電路的制版工藝(7)日本集成電路生產(chǎn)的凈化技術(shù)(8)日本集成電路的生產(chǎn)設(shè)備(9)日本集成電路的外殼封裝(10)日本微波半導(dǎo)體器件的發(fā)展概況。2.科技會議考察報(bào)告科技會議考察報(bào)告是為完整地反映各種科技會議所取得的成果而寫成的綜合材料。在這里,科技會議是其考察的基礎(chǔ),會議上宣讀的各種文獻(xiàn)則是它要深入考察的所在,因?yàn)闀h的主題內(nèi)容都反映在會議文獻(xiàn)中??萍紩h考察報(bào)告的寫作一般從兩個(gè)方面著手。第一部分“概況”,要寫明會議名稱、主辦機(jī)構(gòu),會議的時(shí)間、地點(diǎn)、參加人員,會議的主要議題、開會的方式等等。第二部分“收獲”,這是考察報(bào)告的主體部分。包括三方面內(nèi)容:一是本次
點(diǎn)擊復(fù)制文檔內(nèi)容
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