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正文內(nèi)容

20xx年自構(gòu)建光纖鏈路的otdr測試實(shí)驗(yàn)報(bào)告模板(編輯修改稿)

2025-03-15 03:05 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 ‐信噪比 s=1:取噪聲電平的均方根值。
  動(dòng)態(tài)范圍和被測光纖的衰減決定了 otdr 實(shí)際可以測量的光纖最長距離:
  d lmax
  其中:d 為 otdr 的動(dòng)態(tài)范圍,a 為被測光纖的衰減常數(shù)。由此可以分析得知:對衰減 一定的光纖而言,otdr 的動(dòng)態(tài)范圍越大,則可測量的光纖長度越長,反之越短;對同一動(dòng)態(tài)范圍的 otdr 而言,光纖衰減越小,則可測量的光纖長度越長,反之越短。
 ?。?)盲區(qū)
  用 otdr 測試光纖時(shí),反映不出某段范圍內(nèi)光纖損耗等的測量情況,稱之為盲區(qū)。反射 會(huì)使 otdr 的接收器進(jìn)入飽和狀態(tài),接收器從飽和狀態(tài)逐漸恢復(fù)會(huì)產(chǎn)生一個(gè)“拖尾”?!巴形病?br />  過后,otdr就可以對光纖的后向散射進(jìn)行測量。
  事件盲區(qū):從反射峰的起始點(diǎn)到接收器從飽和峰值恢復(fù)到 之間的距離。在這點(diǎn)上 緊接的第二個(gè)反射為可識(shí)別反射,但這時(shí)損耗和衰減仍為不可測事件。
  衰減盲區(qū):從反射峰的起始點(diǎn)到接收器從飽和狀態(tài)恢復(fù)到線性后向散射上 點(diǎn)之間 的距離。(貝爾實(shí)驗(yàn)室文件建議的指標(biāo)是 ,但 是一個(gè)更常用的指標(biāo)值)。三、主要儀器設(shè)備
  跳纖;尾纖;裸纖;剝纖鉗;筆式光纖切割刀;av33012光纖切割器;吹氣球、擦鏡紙、無水乙醇、脫脂棉棒、光纖接頭清潔器等光纖端面處理與清潔工具;常規(guī)法蘭、5db和 10db 法蘭式光衰減器;使用精密 v槽實(shí)現(xiàn)光纖臨時(shí)耦合對接的av87501 光纖對接器;av6471 光纖熔接機(jī);具有 32db 動(dòng)態(tài)范圍和 , 、 并且內(nèi)置波長為650nm的肉眼可視紅光出射功能的 av6416 掌上型 otdr。
  四、實(shí)驗(yàn)結(jié)果記錄與分析(以下為示例,摘自08級(jí)學(xué)生實(shí)驗(yàn)報(bào)告,請同學(xué)們根據(jù)實(shí)驗(yàn)結(jié)果自行分析)無損/2db/5db/10db 3:
  185m
  
  圖自構(gòu)建的鏈路情況:法蘭盤+機(jī)械連接+熔接圖測試波形及事件表
  結(jié)果分析:
  此次實(shí)驗(yàn)得到了非常好的結(jié)果,把所有的事件都測試出來了,數(shù)值和長度都很合理。
  1) ,在此后的實(shí)驗(yàn)結(jié)果中也都存在,因此我們判定此
  卷光纖在這個(gè)地方存在損傷
  2) 第一個(gè)反射事件:,即為法蘭盤的連接位置,因此我們新接入的光纖長度
  。雖然標(biāo)稱是無損的法蘭盤,其實(shí)還是存在“注意”中所說的機(jī)械壓力和空氣間隙的損耗
  3) 第二個(gè)反射事件:,事件間隔一段150m左右的光纖,明顯是機(jī)械連接的
  4) 非反射事件:,為明顯的“臺(tái)階式下降”損耗,是熔接損耗, =,也就是185m左右
  5) 光纖末端:,=
  五、思考題
  動(dòng)態(tài)范圍和盲區(qū)的大小都與光脈沖寬度的設(shè)定值有關(guān)。當(dāng)分別需要對光纖遠(yuǎn)端、靠近otdr 附近的光纖以及兩個(gè)緊鄰事件進(jìn)行觀測時(shí),應(yīng)該分別選擇寬脈沖還是窄脈沖?
  測量損耗時(shí)選擇的算法(分為tpa和lsa兩種,前者表示用“兩點(diǎn)”法測量兩個(gè)標(biāo)記點(diǎn)之間的平均損耗,只有這兩個(gè)標(biāo)記點(diǎn)參與計(jì)算,后
  者表示用最小二乘法計(jì)算兩個(gè)標(biāo)記點(diǎn)之間的平均損耗,是利用兩個(gè)標(biāo)記點(diǎn)間的擬合曲線來進(jìn)行計(jì)算)不同,則測試值也不同。對于中間沒有任何事件點(diǎn)的一段連續(xù)光纖來說,選擇上面哪種算法所得的測試值更準(zhǔn)確些?
  手動(dòng)測試時(shí)什么參數(shù)的設(shè)定會(huì)影響測試軌跡信噪比?如何合理設(shè)置量程、衰減和折射率?
  實(shí)際測量時(shí),為了避開近端盲區(qū), 通常在
點(diǎn)擊復(fù)制文檔內(nèi)容
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