【正文】 考慮富余量。 6) 增強型 UART。此款單片機的高集成度使所需外掛器件更少，對于本系統(tǒng)現(xiàn)階段設(shè)計的功能都能夠很好的滿足。 基于 MCU的薄膜按鍵壽命測試系統(tǒng) 10 U4240R 1 11KR12510R 1 3IN4148D51uFC 1 0MK0837HH01U5+ 1 2PVA0GND2P N PQ1T I P 1 2 7V inV o u tGND7805V R 1ebc 圖 44 電磁鐵驅(qū)動電路圖 當(dāng)電磁鐵斷開時， TIP127 的 ce 兩端電壓為 12V；電磁鐵吸合時， TIP127 的 ce 兩端電壓為 ，由此計算出 ce 兩端的管壓降為 =，則 R13(510Ω )兩端的電流為 V /510Ω =22mA。 其引腳圖如圖 47 所示。 表 51 實測相關(guān)數(shù)據(jù) 按鍵是否始終被正確按下 4次 /s 5次 /s 6次 /s 有時報警 有時報警 有時報警 12 有時報警 有時報警 有時報警 有時報警 有時報警 有時報警 12 是 有時報警 有時報警 是 有時報警 有時報警 12 是 有時報警 有時報警 有時報警 有時報警 有時報警 12 有時報警 有時報警 有時報警 從上述表格反應(yīng)出的相關(guān)數(shù)據(jù)可以看出，幾個量之間存在相互制約的關(guān)系，當(dāng)測試速度在 4 次 /秒乃至以下時，系統(tǒng)存在長時間穩(wěn)定運行的可能；當(dāng)提高運行速度至 5 次 /秒、 6 次 /秒時，系統(tǒng)有時會報警，不存在長時間穩(wěn)定運行的可能 。其簡潔緊湊、靈活方便，運算符豐富，數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)豐富， 允許直接訪問物理地址，可以直接對硬件進行操作 ，生成目標代碼質(zhì)量高，程序執(zhí)行效率高，用 C 語言寫的程序可移植性好。 單片機初始化 部分 程序 該部分給出了單片機的初始化函數(shù)。 } 按鍵掃描及自適應(yīng)處理 部分 程序 此部分程序用來掃描被測試鍵是否在要求時間內(nèi)被按下，若被按下則在液晶上顯示測試數(shù)據(jù)，如若未被按下則調(diào)用自適應(yīng)處理函數(shù)進行相應(yīng)的處理，直至 1s/次的按壓頻率都檢測不到 按 鍵被按下則調(diào)用錯誤處理函數(shù)。amp。 /*寫入端口拉低 */ HT1621_WR=1。 /*地址值遞增 */ buf[add]=Ht1621Tab1[Dat]amp。 /*液晶分屏顯示百萬位 */ Ht1621Wr_One_Char (temp%1000000/100000,6)。 /*清除蜂鳴報警 */ errc=0。 /*調(diào)用總電源通斷掃描函數(shù) */ } } } EEPROM 讀寫 部分 程序 當(dāng)系統(tǒng)停止工作時需要及時保存一些配置參數(shù)和測試數(shù)據(jù)，這就需要單片機內(nèi)部的EEPROM 來對其進行讀寫處理并記錄保存。 } void write_Leeprom(uchar adr,long int dat) { uchar i,dattemp[4]。 /*清 0 寫完成標志位 */ adr++。 吉林化工學(xué)院畢業(yè)設(shè)計說明書 29 參考文獻 [1] 張毅剛 ,彭喜元 ,董繼成 .單片機原理及應(yīng)用 [M].北京 :高等教育出版社 ,. [2] 譚浩強 .C 程序設(shè)計 [M].北京 :清華大學(xué)初版社 ,. [3] 翟玉文 ,梁偉 ,艾學(xué)忠 .電子 設(shè)計與實踐 [M].北京 :中國電力出版社 ,. [4] 周立功 .LPC900 系列 Flash 單片機應(yīng)用技術(shù)（上冊） [M].北 京 :北京航空航天大學(xué)出版社 ,. [5] 康華光 .《電子技術(shù)基礎(chǔ)》模擬部分 [M].北京 :高等教育出版社 ,. [6] 茍佳鵬 .AutoCAD20xx 中文版機械制圖經(jīng)典教程 [M].北京 :科學(xué)出版社 ,. [7] 李金平 .模擬集成電路基礎(chǔ) [M].北京 :北方交通大學(xué)出版社 ,. [8] 張友德 .單片微型機原理應(yīng)用與實驗 [M].上海 :復(fù)旦大學(xué)出版社 ,. [9] 王佳斌 ,戴 在 平 .基于 C8051F 系 列 單 片 機 的 血 糖 儀 解 決 方 案 [J].電 子 產(chǎn) 品 世界 .20xx,16(4):6467. [10] Guiyun and application of microcontroller[M].北京 :高等教育出版社， . [11] Zhao Haixin． Mo amp。 /*賦值 DEEADR*/ while((DEECONamp。 /*清 0 讀完成標志位 */ adr++。 /*電磁鐵斷開 */ delayMS(20)。 /*屏顯數(shù)值清零 */ write_Leeprom(0,0)。 k++。 /*系統(tǒng)時鐘 256Kkhz*/ Ht1621WrCmd(0x01)。0x80。 if(KMEA==1) { errc++。 P2M2=0X01。圖 62 為自適應(yīng)處理函數(shù)流程圖。助記符指令和機器指令 一一 對應(yīng)，所以用 匯編語言編寫的程序效率高，占用的存儲空間小，運行速度快，因此用匯編語言能編寫出最優(yōu)化的程序。 基于 MCU的薄膜按鍵壽命測試系統(tǒng) 14 S71S62S53S44S35S26S17S08CS9RD10WR11DATA12Vss13OSCO14OSCI15VLCD16VDD17IRQ18BZ19BZ20COM021COM122COM223COM324S848S947S1046S1145S1244S1343S1442S1541S1640S1739S1838S1937S2036S2135S2234S2333S2432S2531S2630S2729S2828S2927S3026S3125HT1621U232768hzX116KR 1030PC730PC81 2 3 4 5 6 7 8 910 11 12 13 14 15L C D 10 45L C D 1S21 S22 S23 S24 S25 S26 S27 S28 S29 S30 S31 C3 C2 C1 C0CS WR DATA+5VL 圖 411 液晶驅(qū)動電路 此驅(qū)動電路能使整個屏幕最多顯示四位數(shù)據(jù)，其真值表如表 41 所示。 R8R7R6R5R4K E N TK I N CK S E TK M O D K M E AVCCVCCVCCVCCKINCKSETKMODVCCKENT KMEA 圖 46 按鍵掃描電路 液晶顯示模塊 液晶顯示器 （ LCD） 以其功耗低、體積小、外形美觀、價格低廉等多種優(yōu)勢在儀器儀表產(chǎn)品中得到 廣泛 的應(yīng)用。 其工作原理如圖 43 所示。但整個芯片有一個最大值的限制。 3) 512 字節(jié)片內(nèi)用戶數(shù)據(jù) EEPROM 存儲區(qū)，可用來存放器件序列碼及設(shè)置參數(shù)等。裝配圖是反映設(shè)計思想 、 裝配、使用機器和進行技術(shù)交流的重要技術(shù)文件。 這種方式理論上可取，但成本高且裝置龐大，不易進行操作控制。 從總體論證和整體工程來看，本設(shè)計主要需進行以下七個方面的工作： 1．機電結(jié)合方案的論證分析。 17 匯編語言概述 10 按鍵抖動的成因及消除 8 光電耦合器 TLP113 按鍵的壽命一般在幾十萬次到上百萬次之間，由人工測試幾乎是不可能的，需設(shè)計自動按鍵系統(tǒng)對其測試。 本按鍵壽命測試系統(tǒng)是一種測試按鍵使用壽命的設(shè)備，其基本工作原理是利用電磁鐵的往復(fù)運動來模擬人手敲擊鍵盤的動作。 20 按鍵掃描及自適應(yīng)處理部分程序 2．機械固定裝置的設(shè)計與繪制。 4．本設(shè)計采用的按鍵方式 綜合上述分析考慮，本系統(tǒng)采用電磁鐵自動按鍵，且所選電磁鐵在額定電壓下工作時所提供的吸引力應(yīng)在 380g 以上。 圖 21 即為本系統(tǒng)總體裝配圖，設(shè)計整個裝置前應(yīng)充分考慮方案可行性，使之裝配方便合理。 4) 兩個 4 路輸入的 8 位 A/D 轉(zhuǎn)換器 /DAC 輸出。 14) 4 個中斷優(yōu)先級 ； 8 個鍵盤中斷輸入，另加 2 路外 部中斷輸入 。 圖 43 光電耦合器 TLP113工作原理圖 本設(shè)計采用 TLP113 光電耦合器。與發(fā)光二極管 （ LED） 相比 ， 它雖然存在驅(qū)動電路邏輯比較復(fù)雜、較難與單片機連接等缺點 ， 但隨著大規(guī)模集成電路的迅速發(fā)展 ， 這些缺點已經(jīng)被 克服 ， 液晶顯示器已進入成熟 應(yīng)用 階段 。因為薄膜按鍵壽命一般在幾十次到上百萬次之間，需要顯示的數(shù)據(jù)位要達到百萬位，所以在軟件上需要采用分屏設(shè)計，從而有足夠的 位數(shù)記錄測試數(shù)據(jù)。匯編語言程序能直接管理和控制硬件設(shè)備（功能部件），它能處理中斷，也能直接訪問存儲器及 I/O 接口電路。 圖 62 自適應(yīng)處理函數(shù)流程圖 是 否 是 否 否 是 電磁鐵吸合但按鍵未按下 掃描按鍵是否 按下 改變延時減為 3 次 /S 掃 描按鍵是否按下 改變延時減為 2 次 /S 掃描按鍵是否 按下 改變延時 減為 1 次 /S 錯誤次數(shù)加 1 電磁鐵斷開 temp計數(shù)值加1 基于 MCU的薄膜按鍵壽命測試系統(tǒng) 20 程序流程綜述 在系統(tǒng)程序中我采用的編譯語言是 C 語言。 P3M1=0X00。 /*錯誤數(shù)值 加 1*/ MK=1。 /*如果為 1則寫入數(shù)據(jù)高位 */ } else { HT1621_DAT=Dataamp。 /*打開系統(tǒng)時鐘 */ Ht1621WrCmd(0x03)。 /*分屏顯示頻率處理部分 */ if(k20xx) k=0。 /*寫 EEPROM 清零 */ BUZ=1。 /*延時 20MS*/ BUZ=1。 /*地址遞增 */ } res=dattemp[0]*0x1000000+dattemp[1]*0x10000。0x80)==0)。 Rolling Stock Institute of Technology， Scitech Development Center[J]， Jiang’an Lootive Depot， .