基于mcu的薄膜按鍵壽命測試系統(tǒng)畢業(yè)論文(已修改)
2025-07-21 15:10 本頁面
【正文】 吉林化工學(xué)院畢業(yè)設(shè)計說明書 基于 MCU 的薄膜按鍵壽命測試系統(tǒng) A Testing System for Thinfilm Key Life Based on MCU 吉 林 化 工 學(xué) 院 Jilin Institute of Chemical Technology 吉林化工學(xué)院畢業(yè)設(shè)計說明書 I 獨(dú) 創(chuàng) 聲 明 本人鄭重聲明：所呈交的畢業(yè)設(shè)計 (論文 )，是本人在指導(dǎo)老師的指導(dǎo)下，獨(dú)立進(jìn)行研究工作所取得的成果，成果不存在知識產(chǎn)權(quán)爭議。盡我所知，除文中已經(jīng)注明引用的內(nèi)容外，本設(shè)計（論文）不含任何其他個人 或集體已經(jīng)發(fā)表或撰寫過的作品成果。對本文的研究做出重要貢獻(xiàn)的個人和集體均已在文中以明確方式標(biāo)明。 本聲明的法律后果由本人承擔(dān)。 作者簽名 : 二〇 一 〇年 九 月 二十 日 畢業(yè)設(shè)計（論文）使用授權(quán)聲明 本人完全了解 濱州學(xué)院 關(guān)于收集、保存、使用畢業(yè)設(shè)計（論文）的規(guī)定。 本人愿意按照學(xué)校要求提交學(xué)位論文的印刷本和電子版，同意學(xué)校保存學(xué)位論文的印刷本和電子版，或采用影印、數(shù)字化或其它復(fù)制手段保存設(shè)計（論文）；同意學(xué)校在不以營利為目的的前提下，建立目錄檢索與閱覽服務(wù)系統(tǒng)，公布設(shè)計（論文）的部 分或全部內(nèi)容，允許他人依法合理使用。 （保密論文在解密后遵守此規(guī)定） 作者簽名 : 二〇 一 〇年 九 月 二十 日 基于 MCU的薄膜按鍵壽命測試系統(tǒng) II 摘 要 按鍵的壽命測試是一項重復(fù)性、機(jī)械性的工作，然而，按鍵的使用壽命是一項需要測試的指標(biāo)。按鍵的壽命一般在幾十萬次到上百萬次之間，由人工測試幾乎是不可能的，需設(shè)計自動按鍵系統(tǒng)對其測試。 本按鍵壽命測試系統(tǒng)是一種測試按鍵使用壽命的設(shè)備，其基本工作原理是利用電磁鐵的往復(fù)運(yùn)動來模擬人手敲擊鍵盤的動作。本設(shè)計主要實現(xiàn)自動按鍵，將采集到的按鍵次數(shù)等數(shù)據(jù)進(jìn)行處理并實時的顯示在液晶 屏上，從而能直觀的讀出薄膜按鍵被按壓的次數(shù)且最終測出使用壽命。 整個系統(tǒng)主要由機(jī)械固定裝置和 P89LPC936 單片機(jī)及其相關(guān)外圍電路兩大部分組成。 機(jī)械固定裝置用來對單片機(jī)及其外圍電路、電磁鐵及其驅(qū)動電路分別進(jìn)行固定并使之在一個工作界面上，且確保電磁鐵探頭的中心點(diǎn)與被測試按鍵的中心點(diǎn)在同一條水平線上，同時底部采用滑軌支架和可移動的 滑軌來靈活調(diào)節(jié)兩部分的距離，方便對系統(tǒng)的測試、控制和操作。單片機(jī)結(jié)合按鍵掃描電路、液晶顯示電路、蜂鳴報警電路、電磁鐵驅(qū)動電路等子模塊對采集到的按鍵信號進(jìn)行處理、分析、顯示，并用單片機(jī)內(nèi) 部 EEPROM對數(shù)據(jù)進(jìn)行保存記錄，其中的錯誤處理方式在檢測到錯誤次數(shù)達(dá)到一定值后會自動存儲數(shù)據(jù)并斷開系統(tǒng)來保護(hù)整個裝置。 本設(shè)計是機(jī)電結(jié)合的成功應(yīng)用。 關(guān)鍵詞：按鍵壽命；單片機(jī) ；電磁鐵 吉林化工學(xué)院畢業(yè)設(shè)計說明書 III Abstract Key life testing is a repetitive, mechanical work, However, the key to life is a need to test indicators. The key life in hundreds of thousands of times between millions, from the manual testing is almost impossible to take Autokey system designed for its test. The key life test system is a key life test equipment, its basic work principle is the back and forth that makes use of electromag to is exercised to imitate the action that the hand pounds a keyboard. This design mainly carries out an automatic key and carry on the datas like key number of times,etc collected the processing bine solid of show at in the LCD screen, can keep view39。s reading thus a thin film key drive press press of number of times and finally test to find out service life. The whole system is mainly fixedly equiped by machine with the P89 LPC936 list slice machine and it related outer circle electric circuit the two greatest parts constitute. Machine fixedly equips to use e to list slice machine and it outer circle electric circuit, electromag and it drives electric circuit respectively carry on fix and make it on a work interface, and ensure the central point stretching forward electromag and be tested the central point of key online in the same level, at the same time bottom adoption slippery track support with can move of slippery track e vivid regulate two parts of distances, the convenience is to test, control and operation of system. Microcontroller with key scan circuit, liquid crystal display circuit, buzzer alarm circuit, solenoid driver circuit submodules such as the buttons on the collected signal processing, analysis, display, and use the internal EEPROM of the MCU data recordkeeping, in which the error handling the number of errors detected reaches a certain value will automatically store data and disconnect the system to protect the whole device. This design is the successful application of mechanical and electrical integration. Key Words： Key Life； MCU； Electromag 基于 MCU的薄膜按鍵壽命測試系統(tǒng) IV 目 錄 摘 要 I Abstract III 第 1 章 緒 論 1 第 2 章 機(jī)電結(jié)構(gòu)設(shè)計方案 2 自動按鍵方式的選擇 2 機(jī)電結(jié)構(gòu)設(shè)計 2 機(jī)電控制系統(tǒng) 3 第 3 章 機(jī)械固定裝置設(shè)計 5 裝配圖的作用 5 固定單片機(jī)系統(tǒng)底座 5 可移動加固滑塊 6 固定電磁鐵底座 6 第 4 章 硬件系統(tǒng)功 能電路分析 7 P89LPC936 單片機(jī)概述 1
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