【正文】 D. 計(jì)算管制界限 . 中心線 : CL=p ,UCL= ,LCL= E. 繪管制界限 , 並將點(diǎn)點(diǎn)入圖中 . F. 記入數(shù)據(jù)履歷及特殊原因 , 以備查考 , 分析 , 判斷 . (2).X R 管制圖的作法 :( 即計(jì)量值管制圖 ) A. 搜集 100 個(gè)以上數(shù)據(jù)依測(cè)定時(shí)間順序或群體順序排列 . B. 把 25 個(gè) (45) 數(shù)據(jù)分為一組 . C. 把數(shù)據(jù)記入數(shù)據(jù)表 . nppp /)1(3 ?? nppp /)1(3 ??D. 計(jì)算各組平均值 X .E. 計(jì)算種組的全距 R.F. 計(jì)算總平均 .G. 計(jì)算全距平均 R .H. 計(jì)算管制界限 .X 管制圖 : 中心線 C L = X 上限 U C L = X + A 2 R 下限 : L C L = X A 2 RR 管制圖 : 中心線 C L = R 上限 U C L = D 4 R 下限 : L C L = D 3 RI. 繪管制界限 , 並將點(diǎn)點(diǎn)入圖中 .J. 記入數(shù)據(jù)履歷及特殊原因 , 以備查考 , 分析 , 判斷 . n A2 D4 D3 E2 m3A22 3 4 5 6 7 8 9 10 Part Name : Part No.: Measure Unit:Quality Characteristic: Workstation: Specification:Date 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 159 3 8 6 6 9 9 7 6 6 6 6 11 7 106 9 6 9 5 8 7 7 7 7 6 10 6 12 12 A2= 8 6 7 7 6 9 8 8 6 8 11 9 8 4 9 D4= 7 6 9 8 7 5 11 7 6 12 9 9 10 9 8 Last Month:2 8 8 5 12 6 11 6 8 8 8 12 9 6 8 X=Max 9 9 9 9 12 9 11 8 8 12 11 12 11 12 12 R=Min 2 3 6 5 5 5 7 6 6 6 6 6 6 4 8 This Month :X 7 7 8 X= R 7 6 3 4 7 4 4 2 2 6 5 6 5 8 4 R= XChart UCL=X+A2*R CL= LCL=XA2*RRChart UCL=D4*R CL= Remarks :每天取 5 個(gè)數(shù)據(jù)作為 Sampling Data, 第一個(gè)月 XR Chart 控制線以本月前 15 天數(shù)據(jù)平均值 (X,R) 計(jì)算 . 第二個(gè)月控制線以上月數(shù)據(jù)平均值(X,R) Input部分.Sampling DataXR Control Chart Remarks XChart46810121 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15DataUCLCLLCLRChart0246810121 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15DataUCLCLProduct Name : Part No.: Measure Unit:Quality Characteristic: Workstation: Specification:Date 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15Insp Qty 200 100 100 100 100 200 100 100 100 100 150 100 100 100 100 Last Month:Rej Qty 3 1 2 1 2 3 2 3 1 2 3 1 5 3 2 P=Rej Rate % % % % % % % % % % % % % % % P= %UCL % % % % % % % % % % % % % % % CL % % % % % % % % % % % % % % % CL=P %Defect 1Defect 2Defect 3Defect 4Defect 5Defect 6Defect 7OthersStatusPlanRoot Cause Action PICRemarksPChart Corrective ActionsDescriptionPChart%%%%%%%1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15Date Rej RateCL管制圖不正常型態(tài)之判讀法 :有單獨(dú)一個(gè)點(diǎn)子 ,出現(xiàn)在三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差區(qū)域之外者 (有一點(diǎn)落在管制界限之外者 ). +1? +2? +3? UCL CL A區(qū) B區(qū) C區(qū) . :連續(xù)三點(diǎn)之中有兩點(diǎn)落在 A區(qū)或甚至於 A區(qū)以外者 (在中心線之同側(cè)三個(gè)連續(xù)點(diǎn)中有兩點(diǎn)出現(xiàn)在兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差之外者 ). +1? +2? +3? UCL CL A區(qū) B區(qū) C區(qū) . . . . . . :連續(xù)五點(diǎn)之中有四點(diǎn)落在 B區(qū)或甚至於 B區(qū)以外者 (在中心線之同側(cè)五個(gè)連續(xù)點(diǎn)中有四點(diǎn)出現(xiàn)在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差之外者 ). +1? +2? +3? UCL CL A區(qū) B區(qū) C區(qū) . . . . . . . . . . :連續(xù)有八點(diǎn)落在 C區(qū)或甚至於 C區(qū)以外者 (八個(gè)連續(xù)點(diǎn)子出現(xiàn)在中心線之同一側(cè)者 ). +1? +2? +3? UCL CL A區(qū) B區(qū) C區(qū) . . . . . . . . . ,如 : (1)連續(xù) 11點(diǎn)中有 10點(diǎn)以上 . (4)連續(xù) 20點(diǎn)中有 16點(diǎn)以上 . (3)連續(xù) 17點(diǎn)中有 14點(diǎn)以上 . (2)連續(xù) 14點(diǎn)中有 12點(diǎn)以上 . :連續(xù)有七點(diǎn)上升 (或下降 ). . +1? +2? +3? UCL CL . . . . . . LCL 1? 2? 3? . (3)連續(xù) 10點(diǎn)中有 4點(diǎn)以上 . (2)連續(xù) 7點(diǎn)中有 3點(diǎn)以上 . (1)連續(xù) 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)以上 . ,一般是以超出 2?區(qū)域之 點(diǎn)為調(diào)查基準(zhǔn) ,如 : ( 一 ) y y y x x x正相關(guān) 負(fù)相關(guān) 無(wú) ( 零 ) 相關(guān) y y x x弱相關(guān) 強(qiáng)相關(guān)( 二 ) yb= 斜率 y=a+bxa: 截距 ab: 斜率( 三 )r: 相關(guān)系數(shù) (Coefficient Correlation)強(qiáng)相關(guān)弱相關(guān)錯(cuò)相關(guān) x相關(guān)回歸 (Correlation Regression)?r ?? r ?? r5. Ver:AModel: Parts Name: Part Number (Version):Data Source: Set / Cav. No:Measure Date: Trail Shot (Production) Date: Measured By: Location Silitek Vendor DifferenceNSP r a b USL ? LSL MAX MIN AVG STD Ca Cp Cpk Grade A ADRL% % % DRR% % % DR% % % 1 2 y b= 斜率 r: 相關(guān)系數(shù)28 y=a+bx r = 強(qiáng)相關(guān)29 a: 截距 r = 弱相關(guān)30 a b: 斜率 r = 錯(cuò)相關(guān)31 32 xMeasure Method Max C. 請(qǐng)依據(jù)黃色標(biāo)識(shí)分析兩系統(tǒng)的差異性 .ments: Min (.: CP:Caliper。 (Bias):觀察平均值與實(shí)際平均值之差量 ,需以較精密量具改進(jìn) 。 ● 意大利經(jīng)濟(jì)學(xué)家分析其社會(huì)經(jīng)濟(jì)結(jié)構(gòu)國(guó)民所得分配情形 ，發(fā)現(xiàn)多數(shù)金額被少數(shù)人控制 ， 后來(lái)此法則被應(yīng)用在其它事物的調(diào)查上也發(fā)現(xiàn)多數(shù)的事都集中在某些項(xiàng)目上 ， 故又稱 ABC圖 。 9 5 Sigma 181。= Sigma= Max= Min= (at Design Phase) How to Define Specification Verify the Process Capability Input Area for Data Item No. Quality Level Specification Format LSL USL DRL (Dppm) DRR (Dppm) DR (Dppm) 1 1 Sigma 181。)之間偏差的程度 ?X%規(guī)格容許差 規(guī)格中心實(shí)績(jī)中心 ??Ca%2/ )( TX ???= % 25% 50% 100% A級(jí) B級(jí) C級(jí) D級(jí) X(實(shí)績(jī) ) 規(guī)格中心值 規(guī)格上限或下限 X(實(shí)績(jī) ) X(實(shí)績(jī) ) 等級(jí) A ≦ % B % ≦ 25% C 25% ≦ 50% D 50% Ca 值 Ca Ca Ca Ca Ca之處置原則 A級(jí) :維持原則 B級(jí) :改進(jìn)為 A級(jí) C級(jí) :立即檢討改善 D級(jí) :采取緊急措施 ,全面檢討 ,必要時(shí)停止生產(chǎn) . Cp (制程精密度 ) T Cp:(Capability of precison) 以規(guī)格公差 (T)與生產(chǎn)中所獲得的 6個(gè)估計(jì)實(shí)績(jī)標(biāo)準(zhǔn)差 (σ)其間相差的程度 ?? 63規(guī)格公差規(guī)格容許差 ??Cp… 雙邊 XS L 3 σ 只有規(guī)格下限 : Cp=3 σSuX 只有規(guī)格上限 : Cp=… 單邊 6 σ 6σ B級(jí) 6 σ A級(jí) Cp= 6σ C級(jí) 6σ D級(jí) 規(guī)格下限 SL 規(guī)格中心 181。為中心呈對(duì)稱性分布 。為群體平均 S=?S為樣本標(biāo)準(zhǔn)差 ?為群體標(biāo)準(zhǔn)差 在統(tǒng)計(jì)學(xué)上 x 101?Nn 101?Nn nNnNX?.1??1??N nN注 :如 可視為無(wú)限群體用式 (3) 為有限群體之修正系數(shù) 設(shè)系有限數(shù)群體而 則 分配之標(biāo)準(zhǔn)差 x??? ????niins XXnn1211 )(1*?? nXXinis???? 12)(?2 1 4 3 群體 (制程 )與樣本間之關(guān)系 樣本平均值之分配 ?x?群體平均值之分配 181。XTable 1 Quality levels and Corresponding Number of Defects S i g m a Cpk D P P M 拼拼 錯(cuò)錯(cuò) 字字6 2 0 .0 0 2 大型圖書(shū)館所有書(shū)籍中僅一錯(cuò)字5 1 .6 7 0 .5 7 4 2 小型圖書(shū)館所有書(shū)籍中僅一錯(cuò)字4 1 .3 3 6 3 . 3 7 大英百科全書(shū)中僅一錯(cuò)字3 1 2 ,7 0 0 一本書(shū)中每 3 0 頁(yè)僅一錯(cuò)字2 0 .6 7 4 5 , 5 0 0 一本書(shū)中每