【正文】 lerance)規(guī)格上下限之差為 SuSL,則 或 6σ ’與 SuSL有下列三種關(guān)系 (情況 )如圖示 : ??6 ??61. 6σ ’ SuSL 6σ39。ABC SuSL2. 6σ’ ≒ SuSL 6σ39。ABCSuSL3. 6σ’ SuSL Evaluation form Cpk為什麼要大於或等於 ? = ,穩(wěn)態(tài)控制 下不合格品率為 %。 = ,穩(wěn)態(tài)控制 下不合格品率為 %。 = , 穩(wěn)態(tài)控制 下不合格品率為 %=63PPM 在圖例上表示為中心沒有偏移 (實際中心值與規(guī)格中心重合 ) μ DPPM DR=DRL+DRR DR(Defect Rate):總不良 DRL (Defect Rate Left) :左不良 DRR (Defect Rate Right) :右不良 ??XLCL UCLDRLDR=DRL+ DRRDRR181。XTable 1 Quality levels and Corresponding Number of Defects S i g m a Cpk D P P M 拼拼 錯錯 字字6 2 0 .0 0 2 大型圖書館所有書籍中僅一錯字5 1 .6 7 0 .5 7 4 2 小型圖書館所有書籍中僅一錯字4 1 .3 3 6 3 . 3 7 大英百科全書中僅一錯字3 1 2 ,7 0 0 一本書中每 3 0 頁僅一錯字2 0 .6 7 4 5 , 5 0 0 一本書中每 1 .5 頁僅一錯字1 0 .3 3 3 1 7 ,3 1 0 一本書中每頁錯 5 個字Six Sigma 有多小 ? Number of Defective(Parts per Million)for Specified OffCentering of the Process and Quality Levels 中心偏離時 dppm的計算 offcenter(σ) 面積 z 常態(tài)曲線下之面積 dzzzZPzFez 2221)()(????????e=... 0 Z=(x 181。)/σ 投影片 16 。 。 。 。 。 。 ,決定最經(jīng)濟的作業(yè)水準 。 . Version: A. Trial Run Data Collection Sample Size 1~10 11~20 21~30 31~40 41~50 51~60 61~70 71~80 Calculation 181。= Sigma= Max= Min= (at Design Phase) How to Define Specification Verify the Process Capability Input Area for Data Item No. Quality Level Specification Format LSL USL DRL (Dppm) DRR (Dppm) DR (Dppm) 1 1 Sigma 181。177。1 Sigma 2 Sigma 181。177。 Sigma 3 2 Sigma 181。177。2 Sigma 4 Sigma 181。177。 Sigma 5 3 Sigma 181。177。3 Sigma 6 Sigma 181。177。 Sigma 7 4 Sigma 181。177。4 Sigma 8 Sigma 181。177。 9 5 Sigma 181。177。5 Sigma 10 Sigma 181。177。 Sigma 11 6 Sigma 181。177。6 Sigma Prepared by :VQM /Xu Gang Approved by: Howard Lin Level (For your reference and choosing) 181。 Times Quality Level Nominal T/2(177。) Spec LSL Spec USL Tolerance OffCenter (Sigma) 1 4 2 4 3 Ca Cp CpK Grade DRL (Dppm) DRR (Dppm) DR (Dppm) A B A Prepared by :VQM /Xu Gang Approved by: Howard Lin Verification Item Remark: Green means it can be changed or modified , Yellow means it can not be changed or modified . Quality Level and Define Specification Capability Verification 2 3 1 個別值管制圖最大值與最小值管制圖X 圖管制界限 管制界限 界限 系數(shù)A A1 A2 C2 1/C2 B1 B2 B3 B4 d2 1/d2 d3 D1 D2 D3 D4 A3 D5 D6 E2 A0 m3A2 C32 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 平均數(shù)管制圖 中位數(shù)管制圖管 制 圖 常 用 系 數(shù) 表管制界限全距管制圖管制界限中線 管制界限標準差管制圖中線取樣數(shù)n管制界限Return d2 X Bar R A2 D4 Model: Parts Name: Data Source: Measured By: Measure Date: Measured By: ISL VENDOR DifferenceUSLLSLMAX MIN AVG STD Ca VALUE!Cp DIV/0! DIV/0! DIV/0!C pk DIV/0! DIV/0! DIV/0!Grade DRL% DRR% DR% 1 2 3 4 5678910 11 12 1314 15 16 Range Frequency Normal Dist. Range Frequency Normal Dist.17 0 NUM! 0 NUM!18 0 NUM! 0 NUM!19 0 NUM! 0 NUM!20 0 NUM! 0 NUM!21 0 NUM! 0 NUM!22 0 NUM! 0 NUM!23 0 NUM! 0 NUM!24 0 NUM! 0 NUM!25 0 NUM! 0 NUM!26 0 NUM! 0 NUM!27 0 NUM! 0 NUM!28 0 NUM! 0 NUM!29 0 NUM! 0 NUM!30 0 NUM! 0 NUM!31 0 NUM! 0 NUM!32 0 NUM! 0 NUM!Measure Method 轉(zhuǎn)換公式 : (y=bx+a)r a b x=DIV/0! DIV/0! DIV/0! y= DIV/0!ments:(.: CP:Caliper。 MM:Micrometer。 CM:CMM。 PJ:Projetor。 HG:Height Gauge。 PG:Pin Gauge M: 螺紋規(guī) )Prepared by: 曾如華 Approved by : Howard Lin Ver. a : 截距 =|R|= 弱相關(guān)b : 斜率 =|R|=0 錯相關(guān)相關(guān)分析 Process Capability Correlation Analysis Worksheet Part Number :Vendor name:Drawing ver: r : 相關(guān)系數(shù) |R|= 強相關(guān)制程能力比較分析表A Data B DataLocationCustomer name:ISL Normal Distribution000111 01Vendor Normal Distribution000111 01Correlation Illustration CPK Guidance CPK formula for 90% confidence interval Use this calculator to calculate CPK confidence interval: ? Cpk ? ? ? ? ? ? ? ? ? ) 1 ( 2 1 9 1 65 . 1 1 2 n nCpk Cpk ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ) 1 ( 2 1 9 1 65 . 1 1 2 n nCpk Cpk 一 、 特性要因圖 二 、 查檢表 三 、 層別法 四 、 柏拉圖 五 、 直方圖 六 、 推移圖 七 、 散布圖 一 、 特性要因圖 (CAUSE AND EFFECT DIAGRAM) (1) 掌握影響問題點的要因 (2) 結(jié)果與要因的關(guān)系 (3) 又稱魚骨圖或石川圖 步驟一： 決定品質(zhì)特性 ● 品質(zhì)特性 :制品尺寸 、 不良率 、 成本 ● 自左向右劃一粗線 ， 并將評價特性寫在箭頭的右邊 ， 如下 圖 品質(zhì)特性 步驟二： 列出大要因 ● 大要因 :制造部門可以制程分類 ， 亦可用 4M（ 人 MAN、 機 械 MACHINE、 材料 MATERIAL、 方法 METHOD） 來分類 ） ● 大要因用匡圈起來 ， 加上箭頭的大部份枝到橫粗線 （ 如下圖 ） ?各大要因分別展開中 、 小要因 ?展開原則：連問五次為什么 /合邏輯 ?最末端必須是能采取措施的小要因 評價特性 步驟三： 圈選 46項