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基于mcu的薄膜按鍵壽命測試系統(tǒng)畢業(yè)論文(專業(yè)版)

2025-09-09 15:10上一頁面

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【正文】 固定底座為系統(tǒng)的可靠運(yùn)行提供了穩(wěn)定的條件。 for(i=0。 /*初始化 DEECON*/ DEEADR=adr。 /*調(diào)用總電源通斷掃描函數(shù) */ } } } 基于 MCU的薄膜按鍵壽命測試系統(tǒng) 26 錯(cuò)誤處理 部分 程序 當(dāng)由于按鍵未被正確按下達(dá)到一定值、按鍵達(dá)到壽命失靈以及電磁鐵磨損嚴(yán)重效能下降等原因?qū)е路澍Q報(bào)警時(shí)需及時(shí)判斷處理且自動斷開系統(tǒng),這時(shí)正確的錯(cuò)誤處理函數(shù)便顯得尤為重要。 /*液晶顯示十位 */ Ht1621Wr_One_Char (temp%10,8)。 /*從 010110 處開始啟 動液晶 */ for(i=0。 /*寫入命令數(shù)據(jù) */ HT1621_CS=1。 /*正確讀到按鍵可清除 外力 */ } } HT1621 驅(qū)動 部分 程序 HT1621 是筆段式液晶驅(qū)動芯片,要點(diǎn)亮 LCD,必須先給出控制指令。 /*正確讀到按鍵可清除外力 */ delayMS(48)。 /*定義錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值 */ uchar code Ht1621Tab1[]={ // degfpcba 0xd7,0x06,0xe3,0xa7,0x36,0xb5,0xf5,0x07, 0xf7, 0xb7, 0x00 //0123456789 和關(guān) LCD }。 Keil 提供了包括 C 編譯器、宏匯編、連接器、庫管理和一個(gè)功能強(qiáng)大的仿真調(diào)試器等在內(nèi)的完整開發(fā)方案,通過一個(gè)集成開發(fā)環(huán)境( uVision)將這些部份組合在一起 。 6) 自動停機(jī)裝置:出現(xiàn)故障報(bào)警,達(dá)到一定錯(cuò)誤值時(shí)自動停機(jī)。 如圖 48 所示 , HT1621 主要由控制電路、顯示 RAM、 LCD 驅(qū)動 / 偏置電路、音頻發(fā)生器和監(jiān)視定時(shí)器等部分組成 。在鍵盤電路中,各按鍵均采用上拉電阻,主要是為了保證在按鍵斷開時(shí),各 I/O 口有確定的 高電平。 光電耦合器 TLP113 光電耦合器 是一種電信號的耦合器件 , 對輸入、輸出電信號起隔離作用 。 10) VDD 操作電壓范圍為 ~ 。 內(nèi)部 集成了許多系統(tǒng)級的功能,可大大減少元 器 件的數(shù)目和電路板面積并降低系統(tǒng)的成本。 機(jī)械固定裝置用來對單片機(jī)及其外圍電路、電磁鐵及其驅(qū)動電路分別進(jìn)行固定并使之在一個(gè)工作界面上,且確保電磁鐵探頭的中心點(diǎn)與被測試按鍵的中心點(diǎn)在同一條水平線上。所以要測試薄膜按鍵的壽命,施壓荷重應(yīng)至少大于 380g。在對工業(yè)產(chǎn)品和日常用品的操作中,按鍵是進(jìn)行人機(jī)接觸的主要方式,是人們實(shí)現(xiàn)對裝置控制的主要手段。 24 輔助按鍵部分程序 17 吉林化工學(xué)院畢業(yè)設(shè)計(jì)說明書 V 編譯環(huán)境概述 11 液晶顯示模塊 盡我所知,除文中已經(jīng)注明引用的內(nèi)容外,本設(shè)計(jì)(論文)不含任何其他個(gè)人 或集體已經(jīng)發(fā)表或撰寫過的作品成果。 關(guān)鍵詞:按鍵壽命;單片機(jī) ;電磁鐵 吉林化工學(xué)院畢業(yè)設(shè)計(jì)說明書 III Abstract Key life testing is a repetitive, mechanical work, However, the key to life is a need to test indicators. The key life in hundreds of thousands of times between millions, from the manual testing is almost impossible to take Autokey system designed for its test. The key life test system is a key life test equipment, its basic work principle is the back and forth that makes use of electromag to is exercised to imitate the action that the hand pounds a keyboard. This design mainly carries out an automatic key and carry on the datas like key number of times,etc collected the processing bine solid of show at in the LCD screen, can keep view39。 7 電磁鐵驅(qū)動模塊 28 參考文獻(xiàn) 整個(gè)系統(tǒng)對采集到的按鍵信號進(jìn)行處理,并用單片機(jī)內(nèi)置的 EEPROM 對數(shù)據(jù)進(jìn)行保存記錄,其中的錯(cuò)誤處理函數(shù)在檢測到錯(cuò)誤次數(shù)達(dá)到一定值后會自動存儲測試數(shù)據(jù)并斷開電磁鐵,達(dá)到對整個(gè)系統(tǒng)的保護(hù)。 機(jī)電控制方案 本機(jī)電控制系統(tǒng)主要由機(jī)械固定部分和單片機(jī)處理部分組成,兩部分共同 配合實(shí)現(xiàn)對電磁鐵驅(qū)動電路的控制,從而實(shí)現(xiàn)自動按鍵。其尺寸的大小是比對實(shí)物后確定下來的,此部分應(yīng)注意對剖面的理解和繪制,同時(shí)在尺寸上要考慮富余量。 8) 捕獲 /比較單元 ( CCU) 提供 PWM,輸入捕獲和輸出比較功能。 達(dá)林頓管 TIP127 三極管是一種控制元件,最基本的作用是放大作用 , 主要用來控制電流的大小 , 可以把微弱的電信號變成一定強(qiáng)度的信號, 其中集電極電流 IC 的變化量與 基極電流 IB 的 變化量之比叫做三極管的放大倍數(shù) β( β=ΔIC/ΔIB, Δ 表示變化量),三極管的放大倍數(shù) β一般在幾十到幾百倍。 按鍵掃描模塊 按鍵在單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)中能實(shí)現(xiàn)向單片機(jī)輸入數(shù)據(jù)、傳送命令等功能,是人工干預(yù)單片機(jī)的主要手段。 3) 可選 1/2 或 1/3 偏壓和 1/ 1/3 或 1/4 的占空比。 3) 受臺前后行程: 06mm 可調(diào),本系統(tǒng)選擇 。 由于本次決定用 C 語言編寫程序,我選擇了 Keil軟件。 int k。 if(KMEA==0) /*判斷按鍵是否按下 */ { delayMS(27)。 /*正常情況下 100 次寫一次數(shù)據(jù) */ 基于 MCU的薄膜按鍵壽命測試系統(tǒng) 22 keypal=0。 /*如果為 0則數(shù)據(jù)右移 */ 吉林化工學(xué)院畢業(yè)設(shè)計(jì)說明書 23 } } } void Ht1621WrCmd(uchar Cmd) { HT1621_CS=0。 HT1621_CS=0。 /*調(diào)用查表函數(shù) */ } else { Ht1621Wr_One_Char (temp%10000/1000,1)。 /*檢測到控制電磁鐵通斷鍵按下則吸合電磁鐵 */ while(1) { if(KMOD==0) { delayMS(50)。 for(i=0。 dattemp[2]=dat8。相關(guān)的結(jié)論主要?dú)w納為以下幾點(diǎn): 系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)自動按鍵并實(shí)時(shí)顯示 的功能。 系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)完成調(diào)試的電路包括:單片機(jī)最小系統(tǒng)電路、電磁鐵驅(qū)動電路、按鍵掃描電路、液晶顯示電路、控制接口及蜂鳴報(bào)警電路,重點(diǎn)使用的芯片有 P89LPC93HT162 TIP12 TLP11 LM7805 等。 DEECON=0x00。 /*等待 */ dattemp[i]=DEEDAT。 /*蜂鳴器報(bào)警 */ } void eerord() { if(errc=132amp。主要實(shí)現(xiàn)清除蜂鳴報(bào)警、清零液晶顯示數(shù)據(jù)及清空 EEPROM 保存記錄和單步控制電磁鐵吸合或斷開等功能,便于更好更方便的分析系統(tǒng)性能,從而控制整個(gè)系統(tǒng)。 /*往地址中寫入所需的數(shù)據(jù) */ } HT1621_CS=1。 HT1621_DAT=1。 for (i=0。 /*正確按下按鍵給標(biāo)簽 */ MK=1。 P1M1=0X2C。程序由若干個(gè)子函數(shù)模塊組成,最終由主程序來調(diào)用完成。經(jīng)過上述實(shí)際測試,本系統(tǒng)具體設(shè)定電磁鐵以 250ms/次( 4 次 /s)的運(yùn)動頻率打壓按鍵,當(dāng)按鍵掃描電路檢測到有鍵正確按下時(shí)計(jì)數(shù)值加 1,同時(shí)把計(jì)數(shù)值經(jīng)過處理發(fā)送到液晶顯示屏進(jìn)行實(shí)時(shí)顯示并比較判斷, 每 當(dāng)計(jì)數(shù) 100 次時(shí) 均 對 EEPROM 進(jìn)行一次讀寫記錄;若未檢測到有鍵按下則系統(tǒng)進(jìn)行自適應(yīng)處理,將電磁鐵運(yùn)動頻率減為333ms/次( 3 次 /s),若檢測到有鍵按下則進(jìn)行上述正常處理,如若仍未檢測到有鍵按下則將電磁鐵運(yùn)動頻率減為 500ms/次( 2 次 /s)、 1s/次( 1 次 /s) 進(jìn)行上述循環(huán)處理,直至1s/次( 1 次 /s)的打壓頻率都檢測不到有鍵按下時(shí)錯(cuò)誤計(jì)數(shù)值加 1,當(dāng)錯(cuò)誤次數(shù)達(dá)到 100次時(shí)蜂鳴報(bào)警, EEPROM 記錄系統(tǒng)的配置參數(shù)和測試數(shù)據(jù),電磁鐵斷開,機(jī)械自動按鍵裝置停止工作。其中圖 49 所示 為 HT1621 的寫模式操作時(shí)序圖, 圖 410 所示 為命令模式操作時(shí)序圖。一般是采用軟件去抖 , 在第一次檢測到有鍵按下時(shí),該鍵所對應(yīng)的 行 線為低電平,執(zhí)行一 段 延時(shí) 10ms 的子程序后,確認(rèn)該行線電平是否仍然為低電平,如果仍為低電平,則確認(rèn)為該 按鍵 按下。 TLP113 是一 種 小外型耦合器。最少有 23 個(gè) I/O 口,當(dāng)選擇片內(nèi)振蕩器和片內(nèi)復(fù)位時(shí) I/O 口可高達(dá) 26 個(gè)。單個(gè)字節(jié)擦除功能允許 Flash 程序存儲器的任何字節(jié)可用作非易失性數(shù)據(jù)存儲器。 在新設(shè)計(jì)測繪部件或機(jī)器時(shí),先要畫出裝配圖表示該部件或機(jī)器的構(gòu)造和裝配關(guān)系,并確定各零件的結(jié)構(gòu)形狀和協(xié)調(diào)尺寸等,然后再根據(jù)裝配圖進(jìn)行零件設(shè)計(jì),畫出符合部件或機(jī)器要求的零件圖 。 2.電磁鐵自動按鍵 電磁鐵 的磁性有無可以由通斷電來控制 , 磁性強(qiáng)弱可以由電流大小來控制 。薄膜按鍵的壽命一般在幾十萬次到上百萬次之間,由人工測試幾乎是不可能的,這就需要設(shè)計(jì)出一個(gè)可靠的機(jī)電結(jié)合系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)對按鍵的自動測試。 18 自適應(yīng)處理流程框圖 11 驅(qū)動芯片 HT1621 9 按鍵掃描模塊 作者簽名 : 二〇 一 〇年 九 月 二十 日 畢業(yè)設(shè)計(jì)(論文)使用授權(quán)聲明 本人完全了解 濱州學(xué)院 關(guān)于收集、保存、使用畢業(yè)設(shè)計(jì)(論文)的規(guī)定。 機(jī)械固定裝置用來對單片機(jī)及其外圍電路、電磁鐵及其驅(qū)動電路分別進(jìn)行固定并使之在一個(gè)工作界面上,且確保電磁鐵探頭的中心點(diǎn)與被測試按鍵的中心點(diǎn)在同一條水平線上,同時(shí)底部采用滑軌支架和可移動的 滑軌來靈活調(diào)節(jié)兩部分的距離,方便對系統(tǒng)的測試、控制和操作。 1 第 2 章 機(jī)電結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方案 5 可移動加固滑塊 9 電磁鐵驅(qū)動電路 20 HT1621 驅(qū)動部分程序 26 EEPROM 讀寫部分程序 5.實(shí)時(shí)顯示按鍵測試的數(shù)據(jù)。 機(jī)電結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) 本設(shè)計(jì)是機(jī)電配合應(yīng)用的很好實(shí)例,機(jī)械設(shè)計(jì)的固定裝置用來對單片機(jī)及其外圍電路、電磁鐵及其驅(qū)動電路分別進(jìn)行固定并使之在一個(gè)工作界面上,且確保電磁鐵探頭的中心點(diǎn)與被測試按鍵的中心點(diǎn)在同一條水平線上,同時(shí)底部采用滑軌支架和可移動的 滑軌來靈活調(diào)節(jié)兩部分的距離,方便對系統(tǒng)的測試、控制和操作。埋孔要結(jié)合實(shí)物繪制,充分
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