【正文】 加強(qiáng)培訓(xùn) 對相關(guān)人員先期進(jìn)行 SPC培訓(xùn)是實(shí)施 SPC的重要前提工作，SPC是基于數(shù)理統(tǒng)計和概率論的理論基礎(chǔ)上的 管理方法 ，要能在生產(chǎn)過程中正確運(yùn)用，必須要有一定的理論基礎(chǔ)。 只有偶然因素沒有異常因素的狀態(tài)，稱為 統(tǒng)計控制狀態(tài) ，簡稱穩(wěn)態(tài)，是控制階段實(shí)施過程控制所追求的目標(biāo)。 6 質(zhì)量特性波動因素 ? 分布 (distribution)：用來描述隨機(jī)現(xiàn)象的統(tǒng)計規(guī)律，說明兩個問題：變異的幅度有多大；出現(xiàn)這么大幅度的概率。培訓(xùn)可以采取選送相關(guān)人員到外部培訓(xùn)單位參加培訓(xùn)，如有條件則應(yīng)盡量邀請培訓(xùn)機(jī)構(gòu)到工廠來培訓(xùn)，到廠培訓(xùn)一是可以增加受訓(xùn)的人數(shù)，另一方面也可以使培訓(xùn)內(nèi)容更切合工廠的實(shí)際，提升 培訓(xùn)效果 。因此，有效實(shí)施 SPC，管理層的認(rèn)識和重視是非常重要的。但一旦發(fā)生，應(yīng)盡快找出，采取措施加以消除，并納入標(biāo)準(zhǔn)，保證不再出現(xiàn)。 ? 計量特性值 ：如焊線推拉力、固晶推力、金球厚度、等連續(xù)性數(shù)據(jù)，最常見的是正態(tài)分布 (normal distribution)。 來源： SPCMBA智庫百科 52 五、如何達(dá)到 SPC有效實(shí)施 重視數(shù)據(jù) 實(shí)施 SPC本身就是一種量化管理，數(shù)據(jù)的質(zhì)量直接影響到我們是否在適當(dāng)?shù)臅r候采取合適的行動。在實(shí)施過程中有些過程需要做較大調(diào)整，有的甚至要更改工藝、更換設(shè)備等，這些都需要管理層的支持與認(rèn)可。 異常原因： 簡稱異因，由異因引起質(zhì)量異常波動簡稱異波，它對質(zhì)量影響大，且采取措施不難消除。 ? 計件特性值 ：如檢驗(yàn)合格 /不合格兩種離散性數(shù)據(jù)，最常見的是二項(xiàng)分布 (binomial distribution)。影響數(shù)據(jù)質(zhì)量的因素主要有兩個方面，一方面是測量系統(tǒng)影響的，另一方面是記錄數(shù)據(jù)、計算等人為的影響。 現(xiàn)異常處理方式： 調(diào)試設(shè)備以達(dá)到統(tǒng)計受控狀態(tài) 47 問題分析 管控過程關(guān)鍵問題：調(diào)試機(jī)臺過程耗時耗人力 單靠調(diào)試設(shè)備達(dá)到穩(wěn)態(tài)，這樣的管控方式使得耗費(fèi)增加！ 49 調(diào)試設(shè)備過程的問題 品質(zhì)成本提高 影響生產(chǎn) 效率 耗費(fèi)材料 占用人力 資源 50 需要反思的三點(diǎn) 執(zhí)行主導(dǎo)者對于 SPC的理解需要深入 SPC管控過程應(yīng)該怎樣規(guī)范？ 當(dāng)出現(xiàn)異常應(yīng)該怎樣處理 ？ 51 五、如何達(dá)到 SPC有效實(shí)施 管理層的認(rèn)識和重視 在實(shí)施 SPC的各階段都要得到管理層的支持，如在實(shí)施 SPC的初期階段要安排培訓(xùn)，這需要資金與時間，需要管理層協(xié)調(diào)安排。偶波是不可避免的，但對質(zhì)量的影響很小。 ? 計點(diǎn)特性值 ：如單位芯片上外觀檢驗(yàn)缺陷數(shù)等離散性數(shù)據(jù)，最常見的是泊松分布 (Poisson distribution)。對于測量系統(tǒng)的影響，我們要定期進(jìn)行 測量系統(tǒng)分析 ，來確認(rèn)我們的測量系統(tǒng)是否是可用的，要盡量減少人為失誤。 計算 Cpk兩個前提條件： 條件 1：過程輸出服從正態(tài)分布（ MINITAB正態(tài)檢驗(yàn) ) 條件 2：過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)（ XR圖無出界點(diǎn) ) 2Rd? ?2403*3 * 3 * 6pkL SL L SLCRRd? ? ??? ? ????σ通常通過控制圖的 R/d2來估計 ： 28 過程能力指數(shù) Cpk示意圖 規(guī)格下限LSL 規(guī)格上限USL 規(guī)格中心 M μ ≠ M 3σ μ L SL? ? 29 Cpk等級判定 等級 Cpk值 處理原則 A+ ≤ Cpk 無缺點(diǎn)考慮降低成