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2025-03-12 02:39本頁(yè)面
【正文】 100 99 98 100 1 16 Ｂ計(jì)算控制限 B1計(jì) 算平均 極 差 及 過 程平均值 B2計(jì) 算 和 R的控制限 B3在控制 圖畫 出 和 R的控制 線 步 驟 B： 計(jì)算控制限 RXXX 17 kRRRRkxxxxxkk?????????.... ..... .21321全距管制圖平均值管制圖計(jì)算平均極差、過程均值和控制限 X 控制圖 R 控制圖 22XXXU C L X A RC L XL C L X A R?????43RRRU C L D RC L RL C L D R??? 18 19 相關(guān)系數(shù)附表： d D D A2與樣本子組 n有關(guān) n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 D3 0 0 0 0 0 D4 A2 Ｃ過程控制解釋 C1分析 控制圖 上的 數(shù)據(jù)點(diǎn) C2識(shí) 別 并標(biāo) 注特殊原因 C3重新 計(jì) 算控制界限 超出控制限的 點(diǎn) 鏈 明 顯 的非 隨機(jī)圖 形 步 驟 C： 過程控制解釋 20 判異準(zhǔn)則 1. 一個(gè)點(diǎn)超出控制上下限。 7 正態(tài)分布 8 % % % 正 態(tài)分布 C C B B A A 9 常規(guī)控制圖 數(shù)據(jù)特征 分布 控制圖 簡(jiǎn)記 備注 計(jì)量值 正態(tài)分布 均值 — 極差圖 XR 均值 — 標(biāo)準(zhǔn)差圖 XS 單值 — 移動(dòng)極差圖 IMR 計(jì)件值 二項(xiàng)分布 不合格品率圖 P 檢查產(chǎn)品中的不合格品數(shù) 不合格品數(shù)圖 NP 計(jì)點(diǎn)值 泊松分布 單位產(chǎn)品平均缺陷數(shù)圖 U 例如每天檢查 6個(gè)芯片上的缺陷點(diǎn)個(gè)數(shù) 缺陷數(shù)控制圖 C 10 控制圖選用流程 11 二、 建立 XR控制 圖 的四步 驟 12 XR控制圖 ? 控制 圖示例 : 0 . 0 01 0 . 0 02 0 . 0 03 0 . 0 04 0 . 0 05 0 . 0 06 0 . 0 07 0 . 0 08 0 . 0 0Performance MeasureS u b g r o u p S eq u en ceG e n e r i c C o n t r o l C h a r tUpper Control Limit Lower Control Limit Process Average Upper Spec Limit Lower Spec Limit 規(guī) 格界限 ：是用以 說 明 許 可值， 來 保 證 各 個(gè)單 位 產(chǎn) 品 的正 確 性能 。 ? 計(jì)件特性值 ：如檢驗(yàn)合格 /不合格兩種離散性數(shù)據(jù)，最常見的是二項(xiàng)分布 (binomial distribution)。 6 質(zhì)量特性波動(dòng)因素 ? 分布 (distribution)：用來描述隨機(jī)現(xiàn)象的統(tǒng)計(jì)規(guī)律，說明兩個(gè)問題：變異的幅度有多大；出現(xiàn)這么大幅度的概率。但一旦發(fā)生，應(yīng)盡快找出，采取措施加以消除，并納入標(biāo)準(zhǔn)，保證不再出現(xiàn)。偶波是不可
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