【正文】 以 統(tǒng)計原理為基礎(chǔ)的抽樣檢查 是一種有效的探測度控制l探測度應(yīng)用下表作為估算導則。嚴重度是在 單獨FMEA范圍內(nèi) 的一個比較級別。 PFMEA的時間性l 在可行性分析階段或之前開始；l 在生產(chǎn)工裝準備之前；l 在控制計劃完成、試生產(chǎn)之前完成；l 考慮以單個零件到總成的所有制造作業(yè) PFMEA的假設(shè)； 過程 FMEA不依靠改變產(chǎn)品設(shè)計來克服過程中的薄弱環(huán)節(jié)顧客的定義（包括內(nèi)部和外部）過程 FMEA的開發(fā)l PFMEA應(yīng)從整個過程流程圖開始。描述 發(fā)生率的級別數(shù)重在其含義，而不是具體的數(shù)值 。 （ 2）組件。如線路短 路等；3 潛在失效模式 (potential failure mode)：指可能發(fā)生，但 不一定非得發(fā)生的失效模式，也即平常所說的 “ 可能存在的 隱患 ” ；4 潛在失效后果 (potential effect of failure)：指潛在失效 模式會給顧客 (含外部顧客、內(nèi)部顧客 )帶來的后果；5 后果分析 (effect analysis)：研究潛在失效模式發(fā)生后給顧 客帶來的危害性有多大。構(gòu)成件是構(gòu)成子系統(tǒng)和系統(tǒng)的單元，可分為功能件、組件和零件。 要減少失效嚴重度級別數(shù)值，只能通過設(shè)計變更來實現(xiàn) 。重點應(yīng)該隨時放在持續(xù)改進上。如果顧客是下游操作 /工序，失效的后果應(yīng)用過程 /操作性能來描述。探測度是一個在某一 FMEA范圍內(nèi)的相對級別。 所有的更改后的等級都應(yīng)該被評審。典型的失效起因有：扭矩不正確 —— 過大、過小；焊接不正確 —— 電流、時間、壓力不正確；熱處理不正確 —— 時間、溫度有誤；不正確的機器設(shè)置；不正確的程序編制； 應(yīng)列出具體的錯誤或故障情況（例如：操作者未裝密封墊），而不應(yīng)用一些含糊不清的詞語（如，操作者錯誤、機器工作不正常）16. 發(fā)生率（ O）：指具體的失效起因 /機理發(fā)生的可能性。4. 編制者：填入負責 FMEA準備工作的工程師姓名、電話和所在公司的名稱5. 車型年度 /項目：填入將使用和 /或?qū)⒈环治龅脑O(shè)計影響的預期車型年度 /項目（如果已知的話）6. 關(guān)鍵日期：填入 FMEA預定完成的日期，該日期不能超過計劃開始生產(chǎn)的日期7. FMEA日期：填入編制 FMEA原始稿的日期及最后修訂的日期8. 核心小組：列出被授權(quán)以確定和 /或執(zhí)行任務(wù)的責任個人和部門名稱 /功能：填入被分析的過程或工序的簡單說明（如車、鉆、攻絲等）?，F(xiàn)行控制指的是那些 已經(jīng)用于或正在用于相同或相似 設(shè)計中的那些措施（如道路試驗、設(shè)計評審、失效與安全、數(shù)學研究、臺架 /試驗室試驗、可行性評審，樣件試驗和使用試驗等）。零件是非破壞條件下無法再分的單品，如汽車上的一個螺絲、墊片等。 /過程中潛在的失效模式及其失效后果 2. 找到能夠避免或減少這些潛在失效發(fā)生的措施 3. 將全部過程文件化 FMEA以最嚴密的形式，將工程師與小組全體成員在設(shè)計零組件、次系統(tǒng)或系統(tǒng)過程中的想法總結(jié)在一起（包括過去的經(jīng)驗和問題，對可能失效的項目所做的分析），并予以格式化與文件化。子系統(tǒng)。項目 功能 要求 失效模式盤式剎車系統(tǒng) 按要求停止車輛行駛（考慮環(huán)境情況，如濕度、干燥等） 在瀝青公路上用規(guī)定的力量在規(guī)定的距離內(nèi)停止車輛的行駛 車輛不能停止 車輛在超過規(guī)定的距離內(nèi)停止 車輛在超過雙倍制動力下停止 允許未受制動的車輛在沒有系統(tǒng)要求下繼續(xù)行駛 汽車行駛部分受阻 汽車不能行駛 典型的失效模式可以是，但不局限于下列情況： 破碎 變形 松動 泄露 粘結(jié) 氧化 斷裂 無傳遞扭力 滑動（無法保持全扭力） 無法支撐（構(gòu)造的） 支撐不足（構(gòu)造的） 粗糙的接合 脫離過快 信號不適當 間歇信號 無信號 EMC/RFI 漂移 應(yīng)該用 “ 物理的 ” 、專業(yè)性的術(shù)語來描述潛在失效模式，而不同于顧客所見的現(xiàn)象12. 潛在失效的后果：就是失效模式對功能的影響，就如顧客（包括內(nèi)部和外部）感受的一樣。20. 建議的措施：降低發(fā)生率等級（ O） 可由設(shè)計修改消除或控制失效模式一種或多種失效要因或機理的影響，可以是但不限于：為消除失效模式的防錯設(shè)計；修改設(shè)計幾何尺寸或公差；修改材料規(guī)范；修改設(shè)計替代不可用零部件；降低探測度等級（ D） 推薦使用防錯裝置，有時為增加探測的可能性（也就是降