【正文】 例 ) 機(jī)器一天的故障次數(shù)，每單位時間打來的電話次數(shù)，制品的每單位面積 缺點(diǎn)數(shù)，交叉路上一天發(fā)生的交通事故數(shù)，大量生產(chǎn)制品的不良數(shù)。 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計 24 Rev. 概率分布 (Probability Distribution) 給概率變量的數(shù)值對應(yīng)概率的關(guān)系，有計量型概率分布和計數(shù)型概率 分布。 DATA的形態(tài) ? 計數(shù)型 DATA : 按個數(shù)能數(shù)的品質(zhì)特性的值 例 ) 缺點(diǎn)數(shù)，不良品數(shù)等計數(shù)型 DATA。 B汽車每 L 平均行駛距離比 A汽車高，但分布的散布圖大， 所以不能說 一定是 B汽車好 !! A 汽車 B 汽車 下面是 測定 A ,B汽車每 L 行駛 距離的 DATA分析。 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計 5 Rev. 資料的測度 ? 標(biāo)本 (Sample) : 為了統(tǒng)計性處理，從母集團(tuán)中實(shí)際抽出的觀測值或測定值的集合。 ? 母集團(tuán) (Population) : 對關(guān)心的所有集團(tuán)的所有個體的觀測值或測定值的集合。 各位喜歡什么樣的汽車 ? ?A ?B 例 ) 統(tǒng)計分析中只考慮平均判斷會得到錯誤的結(jié)果， 應(yīng)考慮資料分散程度的散布圖。 1 2 3 4 一，二，三 … 能數(shù)啊 ! 有測定單位吧 ? 概率分布 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計 21 Rev. 對有發(fā)生可能的所有情況特定事件 A發(fā)生的可能性，即，無數(shù)次反復(fù)進(jìn)行同樣的實(shí)驗(yàn)時 , 發(fā)生某事情的比率。 ? – 缺點(diǎn)數(shù) DATA : 泊松分布 ? 注意 現(xiàn)場的連續(xù)性 DATA一般隨正態(tài)分布。 一般 在 n大， p小時適用 0 1 0 5 10 15 20 缺點(diǎn)數(shù) ?? dpu= dpu= dpu= dpu= dpu= 例 ) 顯示隨每單位缺點(diǎn)數(shù) (dpu)值的概率值的圖表。這時一捆被換的概率是多少 ? 計算 ) P( X ? 2 ) = 1 P( X ? 1 ) = 1 P( X = 0 ) P( X = 1 ) = 1 ? ? ? ? = 1 = 10 0 10 1 例題 3 二項(xiàng)分布是現(xiàn)場的不良品 DATA時 多使用吧 ! 計數(shù)型概率分布 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計 38 Rev. ? P( X ? 2 ) = 1 P( X ? 1 ) 選擇累積概率 輸入施行次數(shù) 輸入欲求概率的值 輸入原有的概率 Calc Probability Distribution Binomial Distribution Step 1 ? Minitab 實(shí)習(xí) 計數(shù)型概率分布 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計 39 Rev. 關(guān)于 P( X ? 1 的 概率 因此， 知道 P( X ? 2 ) = 1 P( X ? 1 ) = 1 = Session 結(jié)果確認(rèn) Step 2 計數(shù)型概率分布 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計 40 Rev. ? 泊松分布 (Poisson Distribution) 適用于按時間或空間發(fā)生頻率低的稀奇事件的每單位發(fā)生數(shù)等適用的分布。 ，所以給各個的概率變量值 對應(yīng)概率如下。 C) 等計量型 DATA。 n 為單數(shù)時 : n 為雙數(shù)時 : 1 2 2 2 3 9 30 1 2 2 2 3 9 10 30 2和 3的平均 資料的測度 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計 9 Rev. 顯示資料離中心位置分散多少的測度，代表性的有分散、標(biāo)準(zhǔn)偏差、 4分位數(shù)等。 ? 基本統(tǒng)計概念不是根據(jù)直觀而是創(chuàng)出根據(jù)事實(shí)的語言。 （ 對有權(quán)者的投票結(jié)果，一日生產(chǎn)量，特定制品的不良率。 散布圖 資料的測度 ? Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計 10 Rev. 分散和標(biāo)準(zhǔn)偏差是資料離平均值的距離，表示資料分散的程度。 ? 標(biāo)本空間 (Sample space) : 在實(shí)驗(yàn)或觀察中所有可能發(fā)生的實(shí)驗(yàn)結(jié)果的集合。但信賴性 DATA是隨指數(shù)分布或 Weibull分布的情況多，在只規(guī)定單側(cè)規(guī)格或工程有異常情況時， DATA 一般也不按正態(tài)分布。 計數(shù)型概率分布 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure基礎(chǔ)統(tǒng)計 41 Rev. ,...2,1,0,! )()()( ???? ? xx mexXPxf xm? 概率質(zhì)量函數(shù) 平均發(fā)生次數(shù) : m ? 平均和分散 平均 : E(X) = m(=dpu) , 分散 : V(X) = m(=dpu) 在半導(dǎo)體工程生產(chǎn)的 wafer每單位面積平均缺點(diǎn)數(shù)是每 。 p : 發(fā)生特定現(xiàn)象的概率 ,)1()()( xnx ppxnxXpxf ?????????????nx ,1,0 ????(1p) : 不發(fā)生的概率 ,)1()!(! ! xnx ppxnx n ????兩項(xiàng)分布的平