【正文】 根據(jù)中心偏移 量 ，通過首件檢驗，可調(diào)整設(shè)備、刀具等的加工定位裝置。 PCB 成 品 檢 查 不 合 格 率 數(shù) 據(jù) 樣 本 序 號 檢 查 數(shù) 量 Xi1 不 良 數(shù) 量 不 良 率 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 320 280 260 370 300 310 315 300 290 290 290 300 300 310 315 300 290 290 300 310 315 300 290 290 0 1 1 1 1 1 2 2 1 2 0 1 3 3 4 5 5 5 2 3 2 5 3 5 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9 8 5 9 0 9 2 0 0 1 7 7 3 2 1 0 2 2 0 2 9 0 4 2 % % % % % % % % % % % % % % % % % % % % % % % % 25 300 3 . 3 % 64 上海 NQA認(rèn)證有限公司 Proportion P控制圖示例 P C B成品檢查控制圖 UCL= _ P= LCL=0 1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25 樣本 Tests performed with unequal sample sizes 65 上海 NQA認(rèn)證有限公司 管制界限的 更 新 初期用作計算的工序質(zhì) 量 特性，可能會隨著環(huán)境而轉(zhuǎn)變。 此工序是將多個已經(jīng)印上線 路 的雙層板進(jìn) 行 排序以及熱壓。 離散型分布： 二項分布 ：一個事物只有兩種可能的結(jié)果，其值的分布一般服從 二項分布； 泊松分布 ：稀有事件的概率分布一般服從柏松分布。 6 上海 NQA認(rèn)證有限公司 SPC的統(tǒng)計理論基礎(chǔ) 常用統(tǒng)計量介紹 總體 研究對象的全體稱為總體（ Population）； 樣本 從總體中抽取一部分個體進(jìn)行觀察，被抽 到的個體組成了總體的一個樣本（ Sample）。 鉆孔主要是為 了 導(dǎo)通多層板的線 路 主要是對上工序鉆的孔鍍銅。故 理 想做法為對控制界限作定期檢討。 改變操作者的孔加工偏向下差及軸加工偏向上差等的傾向性習(xí)慣，以規(guī)格 中心值為加工依據(jù)。 通過收集 數(shù) 據(jù)，進(jìn) 行 統(tǒng)計分析，找出大 量連 續(xù)生產(chǎn)過程中由于工具磨損、 加工條件隨時間逐漸變化而產(chǎn)生偏移的規(guī) 律 ，及時進(jìn) 行 中心調(diào)整，或采取設(shè) 備自動補償偏移或刀具自動調(diào)整和補償?shù)取?52 上海 NQA認(rèn)證有限公司 選定使用何種 『 計數(shù)型 』 控制圖 決定樣本數(shù) (n) 否 樣本數(shù) (n)是 否一個常數(shù) 是 否 是 不良 品而 是 否 是 不良 品而 是 不 是缺點 不 是缺點 使用 u管制圖 使用 p管制圖 使用 c管制圖 使用 np管制圖 53 上海 NQA認(rèn)證有限公司 U控制圖作成步驟 選擇質(zhì) 量 特性 選取樣本組 收集 數(shù) 據(jù) 設(shè)定 不良率 之控制界限 不良率在統(tǒng) 計控制之內(nèi) 以控制界限持續(xù)監(jiān)控 54 上海 NQA認(rèn)證有限公司 ? n c u u 55 u控制圖作成步驟 u控制圖控制界限 中心線 CL=u= ? 上控制界限 下控制界限 UCL LCL =u+3 =u?3 u ni u ni 注 : u= ?ci ?ni ci?第 i個控制分組的缺點數(shù)數(shù) 目 ni?第 i個控制分組的樣本數(shù)目 u?所有樣本的平均單位缺 點數(shù) 上海 NQA認(rèn)證有限公司 c c i c控制圖作成步驟 c控制圖作成步驟 中心線 :CL=C 上控制界限 下控制界限 注 : :UCL :LCL =C+3C =C?3C C= k ?C i=1 k Ci?第 i個樣本的缺點數(shù)數(shù)目 k?樣本個數(shù) C?所有樣本的平均缺點數(shù) 56 上海 NQA認(rèn)證有限公司 u控制圖的應(yīng)用 為了控制波峰焊對電路板的焊接質(zhì)量 ,用 U圖對電路板 的不良焊點數(shù)目進(jìn)行控制 ,每次抽取的樣本隨批量的不同 而不同 ,具體數(shù)據(jù)如下 ,請做出 U控制圖 . S a m p l e N o . S a m p l e Q t y D e f e c t Q t y 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 0 1 1 1 2 1 3 1 4 1 5 1 6 1 7 1 8 1 9 2 0 2 1 2 2 2 3 2 4 2 5 1 2 1 1 1 2 1 3 1 4 1 2 7 8 1 2 1 3 1 4 2 5 3 2 1 2 7 5 7 1 2 1 1 1 0 1 2 1 1 1 3 1 4 1 3 5 7 6 3 7 8 2 8 8 9 1 2 6 2 0 1 2 3 4 6 6 7 9 1 0 1 2 1 2 1 2 1 0 57 上海 NQA認(rèn)證有限公司 u控制圖作成步驟 1 25 5 10 以第一組為例計算出樣本的中心線和上下控制限 中心線 CL=u= ?c ?n =204=0 .654 312 上控制界限 UCLu=u+3 u= ni 0 .654+3 0 .656= 12 1 .354 下控制界限 LCLu=u?3 u= ni 0 .654?3 0 .656= ? 12 0 .046=0 58 上海 NQA認(rèn)證有限公司 PCB板板面短路統(tǒng)計表 Sample No. Sample Qty Defect Qty CL UCL LCL Date point 1 2 3 4 5 6 7 8 12 11 12 13 14 12 7 8 5 7 6 3 7 8 2 8 0 0 0 0 0 0 0 0 . . . . . . . . 6 6 6 6 6 6 6 6 5 5 5 5 5 5 5 5 4 4 4 4 4 4 4 4 0 0 666 363 .5 769 .5 666 714 1 667 636 231 667 286 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 12 13 14 25 32 12 7 5 7 12 11 10 8 9 12 6 20 12 3 4 6 6 7 9 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 . . . . . . . . . . . . 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 4 66666 92307 57142 1 28571 57142 36363 667 692 857 429 857 636 21 22 23 24 25 12 11 13 14 13 10 12 12 12 10 0 0 0 0 0 . . . . . 6 6 6 6 6 5 5 5 5 5 4 4 4 4 4 0 1 0 0 0 . . . . . 8 0 9 8 7 33333 90909 23076 57142 69230 3 0 9 8 7 3 9 2 5 6 3 1 3 7 9 59 上海 NQA認(rèn)證有限公司 SampleCountPerUnit 樣本 PCB板短路質(zhì)量特性單位缺陷控制圖 U Chart of C2