【正文】 Ｄ過程能力解釋 D1計(jì)算過程能力 D2評(píng)價(jià)過程能力 D3改進(jìn)過程能力 D4繪制并分析修改后的過程控制圖 建立 p的步驟 D 過程能力解釋 偶因和異因並存 找出異因 只剩偶因 運(yùn)用控制圖 過程穩(wěn)定 (連 25點(diǎn)不超限 ) 計(jì)算過程能力 對(duì)于 p圖，過程能 力 是通過過程平均不合率來表 示 ，當(dāng)所有點(diǎn)都受控后才計(jì)算該值。時(shí)間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾 子組數(shù)量：要大于等于 25組以上，才能判定其穩(wěn)定性。 單值控制圖不能區(qū)分過程零件間重復(fù)性，最好能使用 XbarR。 Ppk： 考慮了總變異 (組內(nèi)和組間 )，所以是比較真實(shí)的情形，所以一般想要了解真正的制程情形應(yīng)使用 Ppk。為對(duì)鋼珠直徑進(jìn)行控制，每隔 15分鐘抽樣 1次，每次抽取產(chǎn)品 5個(gè)，共抽樣 25次，測量并記錄數(shù)據(jù)，請繪制XbarR控制圖，并分析過程是否穩(wěn)定？ 批次 直徑 1 直徑 2 直徑 3 直徑 4 直徑 5 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 11 20 21 22 11 23 24 11 25 手工計(jì)算如下： = =kRRRRkxxxxxkk?????????. . . . .. . . . .21321極差控制圖平均值控制圖RDL C LRDU C LRCLRAXL C LRAXU C LXCLRRRXXX3422????????極差控制圖平均值控制圖= =*= =+*= = =0 =*= 判圖 并分析 請判定前圖是否有異常 如果有異常，怎么辦？ 由上圖可知，極差圖和均值圖均無異常，我們可以判定鋼珠的生產(chǎn)過程處于統(tǒng)計(jì)狀態(tài)，如果同時(shí)能夠證明該過程能力滿足預(yù)期要求，就可以延長此控制限，成為控制用控制圖 第四章 認(rèn)識(shí)計(jì)量型數(shù)據(jù)的過程能力和過程性能 什么是過程能力 過程能力分析 機(jī)器能力分析 過程能力改進(jìn)與 6σ 什么是過程能力 過程能力（ Process Capability） : 一個(gè) 穩(wěn)定 過程的固有變差點(diǎn)的總范圍。 20 ℃ 一次 每班 點(diǎn)檢表 5 解板 水洗機(jī) 3. 烘干溫度 90 177。 長 期 過程研究 —— 抽樣頻率 抽樣頻率依過程狀況計(jì)算而定，可逐步放寬抽樣頻率，但必須滿足能力要求。 σ 32% 177。 ＊ 樣本量少，反應(yīng)靈敏。假設(shè)要求產(chǎn)品檢測人員每抽取一件產(chǎn)品，檢測完畢后，要放回這批產(chǎn)品中（又稱為有放回抽樣），檢驗(yàn)人員共檢測了 6件產(chǎn)品，問檢測到的不合格品數(shù)分別為 0， 1， 2， 3， 4， 5， 6的概率？ X P 0 1 2 3 4 5 6 二項(xiàng)分布的均值、方差與標(biāo)準(zhǔn)差 E(X)=np Var(X)=np(1p) ? ?pnp ?? 1 ?泊松分布 質(zhì)量控制中常遇到這樣的情況： 不僅要關(guān)注不合格品，而且要關(guān)注每件不合格品所包含的不合格項(xiàng)的情況。 ,2,1,0 ,!)( ??? ? xexxpx?? 設(shè)隨機(jī)變量 X 的可能取值是一切非負(fù)整數(shù)， 而概率函數(shù)是 其中 常數(shù) ? 0, 泊松分布含有一個(gè)參數(shù) ? , 通常記作 P (?) . 如果 X服從 泊松分布 P (?), 則記為 ).(~ ?PX泊松分布的均值與方差相等，均入 ? 泊松分布 在大量試驗(yàn)中，小概率事件發(fā)生的次數(shù)可以近似地看作服從 Poisson分布。 ? 缺點(diǎn) : ＊ 在制造過程中 ,需要經(jīng)常抽樣 、 測 量、 計(jì)算后需點(diǎn)上 控 制圖 ， 較為麻煩而費(fèi)時(shí)間 。 2σ % 177。 ?每 2小時(shí)，抽一組； ?每 4小時(shí)，抽一組； ?每個(gè)班，抽一組； ?每天抽一組； ?每周抽一組。 20 ℃ 溫度 sensor 一次 每班 點(diǎn)檢表 通知現(xiàn)場干部 1. 銅面外觀 目視 全檢 2. 基材外觀 基板規(guī)格 WI 10 02 E 02 目視 一次 每鍋 計(jì)算機(jī)文件及制造流程單 通知現(xiàn)場組長 , 工程師 3. D/S 二次元 一張 十鍋 CPK1. 67 4. Tg DSC 一張 十鍋 Tg 測試記錄表 5. DK,Df 介電分析儀 一張 十鍋 成測記錄表 日 6. 剝離強(qiáng)度 萬能試驗(yàn)機(jī) 一張 十鍋 X bar R 管制圖 7. 耐熱性 目視 一張 十鍋 成測記錄表 日 8. 厚度 (offine) ◇ 基板規(guī)格 WI 10 02 E 02 分厘卡 一張 十鍋 X bar R 管制圖 CPK1. 67 6 品質(zhì)檢查 9. 厚度 (online) 不良率 3 % 自動(dòng)測厚儀 全檢 P 不良率分析 通知工程師及生產(chǎn)部 / 技術(shù)部 收集數(shù)據(jù) 收集數(shù)據(jù)階段 1從制造過程中抽取樣本 2建立控制圖及記錄原始記錄 3計(jì)算每個(gè)子組的均值 X和極差 R 4選擇控制圖的刻度 5將均值和極差畫到控制圖上 取樣的方式 取樣必須達(dá)到組內(nèi)變異小，組間變異大 抽取的樣本必須能代表過程 每個(gè)子組的平均值和極差的計(jì)算 1 100 98 99 100 98 2 98 99 98 101 97 3 99 97 100 100 98 4 100 100 101 99 99 5 101 99 99 100 99 平均 100 極差 3 3 3 2 2 554321 xxxxxx ?????m i nm a x xxR ??選擇控制圖刻度 X圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組均值的最大值與最小值差的 2倍。 過程性能（ Process Preformance） : 一個(gè)過程總變差的總范圍。 10 14 18 T 12 16 μ Cp CPL CPU CPK 13 2 T 10 14 18 12 16 10 14 18 T 12 16 μ Cp CPL CPU CPK 14 2 μ Cp CPL CPU CPK 15 2 指數(shù)差異說明 —— 練習(xí) 指數(shù)差異說明 μ Cp CPL CPU CPK 16 2 μ Cp CPL CPU CPK 17 2 10 14 18 T 12 16 10 14 18 T 12 16 練習(xí)： 在鋼珠生產(chǎn)過程中，假定顧客允許的鋼珠直徑的變異范圍為（ ,） ,請分析過程能力？ 1 1 . 0 21 1 . 0 01 0 . 9 81 0 . 9 61 0 . 9 41 0 . 9 21 0 . 9 0L S L 目 標(biāo) U S LL S L 1 0 . 9目 標(biāo) 1 0 . 9 5U S L 1 1樣 本 均 值 1 0 . 9 5 0 2樣 本 N 1 2 5標(biāo) 準(zhǔn) 差 （ 組 內(nèi) ） 0 . 0 2 4 8 4 1標(biāo) 準(zhǔn) 差 （ 整 體 ） 0 . 0 2 4 7 7 2過 程 數(shù) 據(jù)C p 0 . 6 7C P L 0 . 6 7C P U 0 . 6 7C p k 0 . 6 7P p 0 . 6 7P P L 0 . 6 8P P U 0 . 6 7P p k 0 . 6 7C p m 0 . 6 7整 體 能 力潛 在 （ 組 內(nèi) ） 能 力P P M L S L 0 . 0 0P P M U S L 2 4 0 0 0 . 0 0P P M 合 計(jì) 2 4 0 0 0 . 0 0實(shí) 測 性 能P P M L S L 2 1 5 6 4 . 4 8P P M U S L 2 2 5 8 1 . 3 4P P M 合 計(jì) 4 4 1 4 5 . 8 2預(yù) 期 組 內(nèi) 性 能P P M L S L 2 1 2 7 5 . 1 8P P M U S L 2 2 2 8 3 . 4 1P P M 合 計(jì) 4 3 5 5 8 . 5 9預(yù) 期 整 體 性 能組 內(nèi)整 體直 徑 的 過 程 能 力兩條線重合，這說明，除組內(nèi)隨機(jī)誤差外，組間差差異不顯著。 由于每一子組僅有一個(gè)單值，所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會(huì)有較大的變性，直到子組數(shù)達(dá)到 100個(gè)以上。 Ppn 5~1?A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率 記錄每個(gè)子組內(nèi)的下列值 ? 被檢項(xiàng)目的數(shù)量 ─ n ? 發(fā)現(xiàn)的不合格項(xiàng)目的數(shù)量 ─ np ? 通過這些數(shù)據(jù)計(jì)算不合格品率 nnpndp ??A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識(shí)別作為橫坐標(biāo)。 過程能力分析 計(jì)數(shù)型之計(jì)件值過程能力指數(shù)評(píng)價(jià)： 采用 ppm評(píng)價(jià) 公式： ppm=不良數(shù) /檢驗(yàn)數(shù) *百萬 評(píng)價(jià)等級(jí) ppm＜ 233 過程能力充分 不合格品數(shù) np圖 “ np” 圖是用來度量一個(gè)檢驗(yàn)中的不合格品的數(shù)量，與 p圖不同， np圖表示不合格品實(shí)際數(shù)量而不是與樣本的比率。它們便變成了操作控制限，當(dāng)將來的數(shù)據(jù)收集記錄了后，就對(duì)照它來評(píng)價(jià)。 分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問題。 如果過程的分布不是對(duì)稱的，則在解釋單值控制圖時(shí)要非常小心。由此算得： 1 5 ?x? ?0 6 1 0 6 0 2 0 5 ,1 5 i n1 2 2 0 2 0 ???????????PKPPP過程性能指數(shù) Cpk和 Ppk的差異 Cpk： 只考慮了組內(nèi)變異，而沒有考慮組間變異，所以一定是適用于制程穩(wěn)定時(shí)，其組間變異很小可以忽略時(shí)，不然會(huì)高估了制程能力；另句話也可以說明如果努力將組間變異降低時(shí)所能達(dá)到的程度。 收集數(shù)據(jù) 繪圖及計(jì)算 控制限 是否異常 延伸控制限 N 找出異常點(diǎn)原因 并提出相應(yīng)措施 制程有變化 人機(jī)料法環(huán)測量 Y 控制圖 不穩(wěn)定 的 分析 重新估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 重新計(jì)算控制界限 2?dR n e w??n e wxn e wxn e wRn e wRn e wRAxL C LRAxU C LRDL C LRDU C LdR22342???????? ?XbarR練習(xí) 機(jī)器連續(xù)生產(chǎn)鋼珠，直徑是它的一個(gè)重要質(zhì)量特性。計(jì)量 (Xbar/R, Xbar/S, Individual) 控制計(jì)劃 頁次： 3 / 4 特 性 方 法 樣本 制程編號(hào) 制程名稱 生產(chǎn)設(shè)備 /治具 / 模具 /名稱 NO 產(chǎn) 品 制 程 特 性 等 級(jí) 規(guī)格 / 公差 量測判定方法 抽樣數(shù) 頻率 管制方式 處置計(jì)劃 裁邊機(jī) 1. 尺寸 裁切尺寸公差 WI 09 01 E 34 卷尺 1 次 每鍋 制程流程單 通知現(xiàn)場組 長 , 工程師 2. 熱水溫度 70 177。 如何確定抽 樣頻率 初期不了解制程，制程不穩(wěn) 定，存在組間變異 穩(wěn)定期后，大部份只存在組內(nèi) 變異，偶而出現(xiàn)組間變異 快速而頻繁的取樣，才能掌 握制程的情形，并將各項(xiàng)不 穩(wěn)定的因子去除 由于制程已相對(duì)穩(wěn)定，我們可 以預(yù)測制程變化，所以抽樣頻 率可較低，但仍應(yīng)要有代表性 初期 過程研究 —— 抽樣頻率 一個(gè)班次之內(nèi)取二十五組 我們利用在一個(gè)班次當(dāng)中取二十五組，此時(shí)由于人、機(jī) 料、法、環(huán)、測都比較固定，所以所估計(jì)出來的組內(nèi)變 異會(huì)比較正確，相關(guān)的控制界限比較窄，可以有效 地 偵