【正文】 44 20 0,20,0,39。 在選取二十個(gè)零件時(shí)，必須有一些零件稍許高或低于規(guī)范限值。 27 偏 倚 分析之執(zhí)行 : 獨(dú)立取樣法 : 選取一個(gè)樣品 , 並建立可追溯標(biāo)準(zhǔn)之真值或 基準(zhǔn) 值 , 若無樣本則可從生產(chǎn)線中取一個(gè)落在中心值域的零件 , 當(dāng)成標(biāo)準(zhǔn)值 , 且應(yīng)針對(duì)預(yù)期測(cè)試 值的最低值 ，最高值及中程數(shù)的標(biāo)準(zhǔn) 各取得樣本或標(biāo)準(zhǔn)件 ,每個(gè)樣本都要求單獨(dú)分析 ， 並對(duì)每個(gè)樣本或標(biāo)準(zhǔn)件測(cè)量 10次 , 計(jì)算其平均值 , 將其當(dāng)成 “ 基準(zhǔn) 值 ” . 由一位作業(yè)者以常規(guī)方式對(duì)每個(gè)樣本或標(biāo)準(zhǔn)件測(cè)量 10次 . 並計(jì)算出平均值 , 此值為 “ 觀測(cè)平均值 ” . 28 計(jì)算偏 倚 : 偏 倚 = 觀 察 平均值 – 基準(zhǔn) 值 制程變異 = 6δ 如果需要一個(gè)指數(shù) ， 把偏倚乘以 100再除以過程變差(或公差 )， 就把偏倚轉(zhuǎn)化為過程變差 (或公差 )的百分比 ， 偏倚占過程變差的百分比計(jì)算如下： 偏倚 %=100[(偏倚 )/過程變差 ] 偏倚占公差百分比采用同樣方法計(jì)算 ， 式中用公差代替過程變差 。 測(cè)取數(shù)據(jù)： A以隨機(jī)順序測(cè)取所有數(shù)據(jù)并記錄之， B、 C： 在不知他人測(cè)量結(jié)果的前提下，以同樣方法測(cè)量各零件的數(shù)據(jù)并記錄之。 (2) 檢定所需之時(shí)間 。 發(fā)現(xiàn) 哪 種環(huán)境因素對(duì)測(cè)量系統(tǒng) 有 顯著的影響，例如溫度、濕度等，以決定其使用之空間及環(huán)境。若真的如此，則測(cè)量系統(tǒng)的最大的變差應(yīng)小于過程變差和公差帶兩者中的較小者。 在階段二評(píng)估測(cè)試時(shí)，應(yīng)采用盲目測(cè)量或是易于取得量測(cè)值的方式。 研究 R R的前提是測(cè)量系統(tǒng)已經(jīng)過校準(zhǔn)，而且其偏倚、線性及穩(wěn)定性已經(jīng)過評(píng)價(jià)并認(rèn)為可接受。 D3=0(=1~7) 作業(yè)人數(shù)： 2 日期： 量測(cè)器具再現(xiàn)及再生性報(bào)告 2 2 2 2 2 2 物件名稱 (編號(hào) )： 量測(cè)器具： 日期： 特性： 量具編號(hào)： 執(zhí)行人： 規(guī)格： 量具形式： 由數(shù)據(jù)表得 Ｒ＝ Xdiff= Rp= 量 測(cè) 分 析 ％製程變異 再現(xiàn)性 量具變異 (EV) EV＝ R * K1 ＝ ％ EV＝ 100（ EV／ TV） ＝ ％ 量測(cè)次數(shù) K1 2 3 再生性 作業(yè)者變異 (AV) AV＝ √ (Xdiff * K2) － (EV ／ nr) ＝ ％ AV＝ 100（ AV／ TV） ＝ ％ 零件數(shù) ｎ＝ 10 量測(cè)數(shù) r ＝ 2 作業(yè)人數(shù) 2 3 K2 再現(xiàn)性＆再生性（ GRR） GRR＝ √ EV ＋ AV ＝ ％ GRR＝ 100（ G RR ／ TV） ＝ ％ 零件變異 (PV) PV＝ Rp * K3 ＝ 零件數(shù) K3 ％ PV＝ 100（ PV ／ TV） ＝ ％ 2 3 4 5 6 全變異 (TV) TV＝ √ ( GRR) ＋ PV ＝ 7 ndc ＝ (PV / GRR) ＝ 8 9 10 穩(wěn)定性分析之執(zhí)行 : 選取一個(gè)樣品 , 並建立可追溯標(biāo)準(zhǔn)之真值或基準(zhǔn) 值 , 若無樣本則可從生產(chǎn)線中取一個(gè)落在中心值域的零件 , 當(dāng)成標(biāo)準(zhǔn)值 , 且應(yīng)針對(duì)預(yù)期測(cè)試 值的最低值 ， 最高值及中程數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)各取 得樣本或標(biāo)準(zhǔn)件 , 並對(duì)每個(gè)樣本或標(biāo)準(zhǔn)件 單獨(dú)測(cè)量并 繪制 控 制圖 .(所以可能是須做三張控制圖來管制儀器之高 、 中 、 低各端 ，但一般而言 ， 只需做中間值那個(gè)就可以了 ) 24 定 期 (時(shí)、天、周 )對(duì)標(biāo)準(zhǔn)件或樣本測(cè)量 3～ 5次 . 注意 , 決定樣本量及頻度的考慮因素應(yīng)包括要求多長(zhǎng)時(shí)間 重新校正或修理次數(shù) , 測(cè)量系統(tǒng) 使用 的 頻度與操作環(huán)境 (條件 )等 . 將測(cè)量 (數(shù)據(jù) )值標(biāo)記在 XR CHART 或 X– S CHART上 . 計(jì)算管制界限 , 確定每個(gè)曲線的控制限并按標(biāo)準(zhǔn)圖判斷失控或不穩(wěn)定狀態(tài)。 計(jì)數(shù)型量具 不能象計(jì)量型量具指示一個(gè)零件多么好或多么壞，它 只能指示該零件被接受 還是 拒收。 直到滿足上述條件。?????????????????????????????aaapapamaifamaifmaamaifmap?一旦滿足了數(shù)據(jù)收集準(zhǔn)則，必須采用下述公式計(jì)算各個(gè)零件的接收概率： 45 偏 倚 (Bias)之計(jì)算 是一個(gè)調(diào)整因子（下限值） 8facto r adj ust mentan is ) () (it yRepeat abilli mitLower ) (39。 這種量具研究可用于單限值和雙限值量具。 30 如果偏倚較大，查找以下可能的原因： 標(biāo)準(zhǔn)或基準(zhǔn)值誤差，檢驗(yàn)校準(zhǔn)程序。時(shí)，查表，當(dāng)可根據(jù)試驗(yàn)次數(shù)，計(jì)算控制限（總平均極差極差計(jì)算每個(gè)操作者的平均次測(cè)量的極差各個(gè)分別計(jì)算每個(gè)操作者對(duì)07)4(。 階段二評(píng)估之頻率，應(yīng)視該量測(cè)系統(tǒng)之統(tǒng)計(jì)特性對(duì)設(shè)施之重要性而定 分析時(shí)機(jī) 新生產(chǎn)之產(chǎn)品 PV有不同時(shí) 新儀器， EV有不同時(shí) 新操作人員， AV有不同時(shí) 易損耗之儀器必須注意其分析頻率。 5 各項(xiàng)定義 量具 : 任何用來獲得測(cè)量結(jié)果的裝置 ， 包括用來測(cè)量合格 /不合格的裝置 ,(監(jiān)視和測(cè)量 ) 測(cè)量系統(tǒng)：用來獲得表示產(chǎn)品或過程特性的數(shù)值的系統(tǒng) ， 稱之為測(cè)量系統(tǒng) 。 變 差 應(yīng)小于公差帶。 規(guī)定數(shù)據(jù)收集 、 記錄及分析之方式 。 如 : 過 程中所需量具讀數(shù)的精確度是 , 則測(cè)量應(yīng)選擇精確度為 ), 以避免量具的鑒別力不足 ，一般之特性者所使用量具的精確度應(yīng)是被測(cè)量物品公差的 1/5。 %RR可接受的條件是： 10%可接受； 10~30%——有條件可接受； 30%——不可接受，應(yīng)改進(jìn)。 31 線性分析之執(zhí)行 獨(dú)立取樣法 : 針對(duì)產(chǎn)品所須使用之范圍 ， 利用標(biāo)準(zhǔn)件或產(chǎn)品樣本(一般區(qū)分為五個(gè)等分 ， 其范圍須包括產(chǎn)品之規(guī)格公差之范圍 )來做儀器之線性分析 ， 如果是采用標(biāo)準(zhǔn)件須有 真 值 ， 如果是使用產(chǎn)品樣本時(shí) ， 則這些的產(chǎn)品樣本須先經(jīng)精密測(cè)量十次以上 ， 再予以平均 ，以此當(dāng)做是 「 真值 」 或 「 基準(zhǔn) 值 」 。 42 第二步驟 對(duì)于整個(gè)研究，最小的零件必須 a=0， 最大的零件 a=20， 記錄接受的次數(shù) (a)。???????aTaTaTPatXPatXPatXBias46 偏倚 是否偏離 0之檢定 明顯偏離零。這些零件經(jīng)過多次 (m)評(píng)價(jià)，連同接 受總次數(shù) (a)， 逐個(gè)零件地記錄，從這些結(jié)果就 能估計(jì)重復(fù)性和偏倚。 儀器測(cè)量了錯(cuò)誤的特性。,.... ..,2,1。 量具的再生性 A B C 再生性 不同量測(cè)條件間量測(cè)