零件檢驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)-集成電路類(lèi)(更新版)
【正文】 產(chǎn)品外觀 檢查產(chǎn)品外觀不可有下列問(wèn)題 : (1) 產(chǎn)品各部份不可有氧化、燙傷、裂痕、破裂、破損、變形、扭曲、 .....等異?，F(xiàn)象。 3 外觀檢驗(yàn) 產(chǎn)品標(biāo)示 檢查產(chǎn)品之標(biāo)示 (文字符號(hào)或圖樣標(biāo)記 )是否與承認(rèn)書(shū)要求相符合，另其標(biāo)示不可有無(wú)法辨視之不良現(xiàn)象。 (4)承認(rèn)書(shū)內(nèi)要求標(biāo)示之事項(xiàng)。 集成電路必須采用防靜電之包裝方式。 包裝不良容許度 檢查產(chǎn)品內(nèi)、外包裝 (自動(dòng)插件零件之包裝 )是否有變形、破損、受潮或擠壓 .......等不良現(xiàn)象。 MAJ (模糊、溢色、殘缺 、斷線 .....)。 (4)產(chǎn)品之本體必須完全密封于覆蓋內(nèi)，不可有外裸現(xiàn)象。 PAGE:3
公司管理相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1