【正文】 管制圖值管制圖管制圖mRX ??B計算控制限 注：正常情況下，樣本 n=2此時E2= D4= D3=0 E D D3是用來計算移動極差分組 管制圖mRX ?? C過程控制解釋 ? 審查移動極差圖中超出控制限的點，這是存在特殊原因的信號。如果子組樣本容量為偶數，中位數是中間兩個數的均值。 1)(??3?3),min(12??????????nxxLSLXPXUSLPPPPniiplpuplpupk???? 制程績效指標的計算，其估計的標準差為總的標準差，包含了組內變異以及組間變異。 ? 可以使用諸如 排列圖分析法及因果分析圖 等解決問題技術。 為繼續(xù)進行控制延長控制限 為繼續(xù)進行控制延長控制限 ? 估計過程標準偏差和計算新的控制限 2?dR?? newxnewxnewRnewRnewRAxLCLRAxUCLRDLCLRDUCLdR22342???????? ? n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 Ｄ過程能力解釋 D1計算過程的標準偏差 D2計算過程能力 D3評價過程能力 D4提高過程能力 D5對修改的過程繪制控制圖并分析 建立 XR圖的步驟 D 前提假設： ? 過程處于統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài)； ? 過程的各測量值服從正態(tài)分布； ? 工程及其它規(guī)范準確地代表顧客的需求； ? 設計目標值位于規(guī)范的中心； ? 測量變差相對較小 前提說明： ? 總存在抽樣變差； ? 沒有“完全”受統(tǒng)計控制過程； ? 實際分布不是完美的正態(tài)分布 過程能力解釋前提 計算過程能力 ? 對于 XR圖，過程能力是通過計算 Cpk，用 Cpk大小來確定過程能力，當所有點都受控后才計算該值。 ? 連續(xù)的 20點中至少有 16點出現在一側時。 UCL CL LCL 控制圖的觀察分析 ? 作控制圖的目的是為了使生產過程或工作過程處于“控制狀態(tài)” . 控制狀態(tài)即穩(wěn)定狀態(tài) , 指生產過程或工作過程僅受偶然因素的影響 , 產品質量特性的分布基本上不隨時間而變化的狀態(tài) . 反之 , 則為非控制狀態(tài)或異常狀態(tài) . ? 控制狀態(tài)的標準可歸納為二條 : ? 第一條 , 控制圖上點不超過控制界限 。 數據 計量型數值 計數型數值 計件值 計點值 計量型控制圖 ? 平均 數 與 極 差控制 圖 ( Chart) ? 平均 數 與 標 準差控制 圖 ( Chart) ? 中位 數 與 極 差控制 圖 ( Chart) ? 個 別值與移 動極 差控制 圖 ( chart) 計數 值控制 圖 ? 不良率控制 圖 (P chart) ? 不良 數 控制 圖 (Pn chart,又 稱 np chart或 d chart) ? 缺 點數 控制 圖 (C chart) ? 單 位缺 點數 控制 圖 (U chart) sX?R~ RmX ?R4. 控制圖種類 (以數據性質分 ) 4. 控制圖應用的統(tǒng)計分布 計量型 XbarR Xbars X中位數 R XRm 正態(tài)分布 計數型 P np 二項分布 C u 泊松分布 4. 控制圖種類 (依用途來分 ) ? 分 析用控制 圖 ：根據樣本數據計算出控制圖的中心線和上、下控制界限，畫出控制圖，以便分析和判斷過程是否處于于穩(wěn)定狀態(tài)。 μ =0， σ=1時正態(tài)分布稱為標準正態(tài)分布簡記為 N(0， 1)。kσ 在內的概率 在外的概率 μ177。正常波動引起工序質量微小變化，難以查明或難以消除。有時被稱為可查明原因，它存在的信號是：存在超過控制限的點或存在在控制限之內的鏈或其它非隨機性的圖形。如果數據的個數為偶數，一般將中間兩個數的平均值作為中位數。因其用法簡單且效果顯著，人人能用，到處可用，遂成為實施質量管理時不可缺少的主要工具，當時稱為 (Statistical Quality Control)。 過程均值（ Process Average） 一個特定過程特性的測量值分布的位置即為過程均值，通常用 X 來表示。 移動極差 （ Moving Range) 兩個或多個連續(xù)樣本值中最大值和最小值之差。異常波動造成的波動較大，容易發(fā)現，應該由操作人員發(fā)現并糾正 4. 普通原因和特殊原因 ? 普通原因： 指的是造成隨著時間推移具有穩(wěn)定的且可重復的分布過程中的許多變差的原因，我們稱之為：“處于統(tǒng)計控制狀態(tài)”、“受統(tǒng)計控制”，或有時簡稱“受控”，普通原因表現為一個穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。 % % μ177?？刂茍D是一種帶有控制界限的反映過程質量的記錄圖形，圖的縱軸代表產品質量特性值 (或由質量特性值獲得的某種統(tǒng)計量 )；橫軸代表按時間順序 (自左至右 )抽取的各個樣本號； 圖內有中心線 (記為 CL)、 上控制界限 (記為 UCL)和下控制界限 (記為 LCL)三條線 (見下圖 )。 計量型數據控制圖益處 建立控制圖的四步驟 A收集數據 B計算控制限 C過程控制解釋 D過程能力解釋 建立 XR圖的步驟 A Ａ階段收集數據 A1選擇子組大小、頻率和數據 子組大小 子組頻率 子組數大小 A2建立控制圖及記錄原始記錄 A3計算每個子組的均值 X和極差 R A4選擇控制圖的刻度 A5將均值和極差畫到控制圖上 取樣的方式 ? 取樣必須達到組內變異小，組間變異大 ? 樣本數、頻率、組數的說明 每個子組平均值和極差計算 1 100 98 99 100 98 2 98 99 98 101 97 3 99 97 100 100 98 4 100 100 101 99 99 5 101 99 99 100 99 平均 100 極差 3 3 3 2 2 平均值和極差 ? 平均值的計算 554321 xxxxxx ?????? R值的計算 m inm a xxxR ??Ｂ計算控制限 B1計算平均極差及過程平均值 B2計算控制限 B3在控制圖上作出平均值和 極差控制限的控制線 建立 XR圖的步驟 B RDLCLRDUCLRCLRAXLCLRAXUCLXCLRRRXXX3422????????全距管制圖平均值管制圖kRRRRkxxxxxkk?????????..........21321全距管制圖平均值管制圖管制圖RX ? 上述公式中 A2,D3,D4為常系數，決定于子組樣本容量。 ? 連續(xù) 100點中 , 不多于 2點超出控制界限 . ? 五種缺陷 ? 鏈 : 點連續(xù)出現在中心線 CL 一側的現象稱為鏈 , 鏈的長度用鏈內所含點數多少來判別 . ? 當出現 5點鏈時 , 應注意發(fā)展情況 , 檢查操作方法有無異常 。 ? 當出現連續(xù) 7點不斷上升或下降的趨向時 , 應判斷為異常 , 需采取措施 . ? 周期 : 點的上升或下降出現明顯的一定的間隔時稱為周期 . ? 周期包括呈階梯形周期變動、波狀周期變動、大小波動等情況 . 控制圖的觀察分析 ? 接近 : 圖上的點接近中心線或上下控制界限的現象稱為接近 . 接近控制界限時 , 在中心線與控制界限間作三等分線 , 如果在外側的 1/3帶狀區(qū)間內存在下述情況可判定為異常 : ? 連續(xù) 3點中有 2點 (該兩點可不連續(xù) )在外側的 1/3帶狀區(qū)間內 。 2?)()2/(dRTXCa?????雙邊規(guī)格制程能力指數 Ca 2??3?3?6dRLSLXCXUSLCLSLUSLCppp???????????制程能力指數 Cp ? 雙邊規(guī)格 ? 只有上規(guī)格時 ? 只有下規(guī)格時 2??3?3),min(dRLSLXCXUSLCCCCplpuplpupk?????????制程能力指數 Cpk ? 當 Cpk1 說明制程能力差 ， 不可接受； ? 1≤Cpk≤,說明制程能力可以 ， 但需改善； ? ≤Cpk≤,說明制程能力正常； ? Cpk， 說明制程能力良好 。這個變化時期對系統(tǒng)操作會是破壞性，可能造成新的控制問題，掩蓋系統(tǒng)變化后的真實效果。 ? Ppk： 考慮了總變異 (組內和組間 )，所以是比較真實的情形，所以一般想要了解真正的制程情形應使用 Ppk。 ? 單值控制圖不能區(qū)分過程零件間重復性，最好能使用 XR。 ? 可用單值圖分析超出控制限的點，在控制限內點的分布，以趨勢或圖形。 Ppn 5~1?A2計算每個子組內不合格品率 ? 記錄每個子組內的下列值 ? 被檢項目的數量 ─n ? 發(fā)現的不合格項目的數量 ─np ? 通過這些數據計算不合格品率 nnpndp ??A3選擇控制圖的坐標刻度 ? 描繪數據點用的圖應將不合格品率作為縱坐標，子組識別作為橫坐標。 ? 當正式研究過程能力時，應使用新的數據，最好是 25個或更多時期子組，且所有的點都受統(tǒng)計控制。 ? 對過程進行改變時，應小心地監(jiān)視控制。 ? 各階段子組的樣本容量相同。 ? 主要不同之處如下： A收集數據 ? 檢驗樣本的容量 (零件的數量，織物的面積，電線的長度等 )要求相等，這樣描繪的 c值將反映質量性能的變化 (缺陷的發(fā)生率 )而不是外觀的變化 (樣本容量 n)，在數據表中記錄樣本容量； ? 記錄并描繪每個子組內的缺陷數 (c) CCCLCLCCUCLkCCCLkcccccccck?????????????33.....21B計算控制限 過程控制解釋、過程能力解釋 ? C 過程控制解釋 ? 同 p圖解釋 ? D 過程能力解釋 ? 過程能力為 c平均值，即固定容量 n的樣本的缺陷數平均值。 B： SPC： STATISTIC PROCESS CONTROL 統(tǒng)計過程控制 2： SPC研究對象是什么？ A： 4M1E： 人、機、料、法、環(huán)而不是產品。 C： 日常生產時檢驗員或操作者檢驗記錄數據。 A6： 對于均值極差圖將 UCL、 LCL三個虛線 、 兩個實線畫在控制圖上 。 A15： 遵循 PDCA循環(huán)。 B9： 對于生產過程中 4M1E發(fā)生變化要有書面記錄以利于 分析工序出現異常問題