spc質(zhì)量管理及其發(fā)展(更新版)
【正文】 Cmk=(T2|XM|)/6?n T： 公差范圍n M： 特性中心值n 6 ?=UCLLCLSPC STATISTICAL PROCESS CONTROLnCmk必須滿足 28n 排列圖n 排列圖又稱帕累托圖或主次因素分析圖。它們出現(xiàn)的頻率，通常都符合正態(tài)分布。 表現(xiàn)為：以不可預測的方式來影響過程的輸出。如：尺寸、重量、電阻值等。美國國防部為了解決這一難題，特邀哈特、道奇、羅米格、華爾特等專家以及美國材料與試驗協(xié)會、美國標準協(xié)會等有關(guān)人員研究，并于 19411942年制訂和公布了統(tǒng)計控制的管理方法，并在全國各地推行。 1950年，美國發(fā)動了侵朝戰(zhàn)爭，在日本大量訂購軍事物資，因為質(zhì)量不好，美國對此意見很大。SPC STATISTICAL PROCESS CONTROL6n 控制圖的分類n 按用途分為：n 分析用n 控制用n 按數(shù)據(jù)類型分為：n 計數(shù)型n 計量型SPC STATISTICAL PROCESS CONTROL:/ /.. .. .7n 控制圖的益處n 合理使用控制圖能 :n 供正在進行過程控制的操作者使用n 有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地 ,可預測地保持下去n 是過程達到 : 更高的質(zhì)量 更低的單件成本 更高的有效能力n 為討論過程的性能提供共同的語言n 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因 ,作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南SPC STATISTICAL PROCESS CONTROL8n 變差的概念n “沒有兩件產(chǎn)品或特性是完全相同的 ”n 產(chǎn)品間的差異或大或小，但這些差距總是存在。（隨機因素，采取系統(tǒng)措施）n 變差的特殊原因通常是產(chǎn)生的波動較大，容易發(fā)現(xiàn)并消除。n 該控制圖既可用于初始能力研究，也可用于工序質(zhì)量控制，監(jiān)控工序的穩(wěn)定性。n 排列圖是應(yīng)用了 “關(guān)鍵的少數(shù)，次要的多數(shù) ”的原理，尋找出產(chǎn)品的主要問題或影響產(chǎn)品質(zhì)量主要因素的一種有效的統(tǒng)計方
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