光學顯微分析資料(更新版)
【正文】 20mm,高約 10mm. 磨光 是為了消除取樣時產(chǎn)生的變形層 . 金相試樣經(jīng)磨光后，仍有細微磨痕及表面金屬形變擾動層，這將影響正確的顯示組織，因而 必須通過拋光加以消除 。明暗差別越顯著，表明擇優(yōu)取向程度越高。亮度不同，表明晶粒位向不同，而具有相同亮度的兩個晶粒，有相同的位向。 自然光 I0 線偏振光 I 偏振化方向 021 II ??39。 物鏡上有一個正交于下偏光鏡的上偏光鏡。 可以采用常規(guī)的物鏡和目鏡． X 射線顯微鏡： 1．波長短（ 108 cm數(shù)量級），因而可以達到極高的分辨率． 2．試樣可以是透明的，也可以是不透明的， 3．由于孔徑角小，可以有很大的焦深，能采用比較厚的試樣，易于實現(xiàn)立體攝影． 4． X射線的吸收率與元素的原子序數(shù)有關，當存在晶狀組織時，產(chǎn)生微衍射． X 射線顯微鏡與微衍射及微吸收技術的結合，是研究生物和冶金的一個新的有力工具。當矢量固定在一個固定的平面內(nèi)只沿一個固定方向作振動時，這種光稱為 偏振光 。經(jīng)適當?shù)幕瘜W浸蝕后，使一相被浸蝕后具有光學各向異性，而對另一相并不發(fā)生浸蝕作用。 ? 對于有些產(chǎn)生長裂紋的部件，則應在 裂紋發(fā)源處、擴展處、或裂紋尾端
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