光學(xué)顯微分析資料(文件)
【正文】 b)表面滲層、硬化層、鍍層等表面處理的 深度及其組織 ； (c)表面缺陷 ,如裂紋、脫碳、氧化、過燒等 疵病的深度 。 以下為制樣過程剪輯： 。 (e)測定 晶粒度 等． ? 縱向試樣常用于觀察： (a)非金屬 夾雜物大小、變形情況及其含量 ； (b)帶狀組織的存在或消除情況 ； (c)塑性變形引起的 晶?；蚪M織變形 的情況． 制樣過程 金相試樣較理想的形狀是圓柱體或正方體，其直徑或邊長約 1020mm,高約 10mm. 磨光 是為了消除取樣時(shí)產(chǎn)生的變形層 . 金相試樣經(jīng)磨光后，仍有細(xì)微磨痕及表面金屬形變擾動層，這將影響正確的顯示組織，因而 必須通過拋光加以消除 。 ? 對于大型的金相分析項(xiàng)目或較重要的金相檢驗(yàn)項(xiàng)目，在報(bào)告中都應(yīng)有 圖或文字說明 試樣選取的部位及方向。明暗差別越顯著，表明擇優(yōu)取向程度越高。 非金屬夾雜物的鑒別 非金屬夾雜物，具有各種光學(xué)特性，如 反射能力、透明度、固有色彩均質(zhì)及非均質(zhì)性 等。亮度不同，表明晶粒位向不同，而具有相同亮度的兩個(gè)晶粒，有相同的位向。偏振光的光矢量振動方向和傳播方向所構(gòu)成的面稱為 振動面。 自然光 I0 線偏振光 I
規(guī)章制度相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1