掃描探針顯微鏡作業(yè)指導書(更新版)
【正文】 監(jiān)測器，監(jiān)測器不同象限接收到的激光強度差值同微懸臂的形變量會形成一定比例關系，反饋系統(tǒng)根據(jù)檢測器電壓的變化不 斷調整針尖或樣品 Z 軸方向的位置，可以保持針尖－樣品間作用力恒定不變。 上海交通大學分析測試中心 控制代號 IACSJTU－ 300－ 11 版本號 第 3 版 Scanning Probe Microscope 掃描探針顯微鏡作業(yè)指導書 頒布日期 20xx 年 12 月 31 日 頁碼 第 1 頁 共 5 頁 本作業(yè)指導書根據(jù)美國 DI 公司 Nanoscope E 型掃描探針顯微鏡（操作）說明書制定。當樣品或針尖掃描時，同距離有關的針尖－樣品相互作用力就會引起微懸臂發(fā)生形變。 安裝好樣品。 得到試驗結果并保存，離線分析 抬高探針，取出探針夾頭，取出樣品 計算機退回到測試初始狀態(tài) 關閉控制器 — 退出計算機 — 關閉計算機 關閉攝像機頭電源和監(jiān)視器 關閉總電源 測試結果分析 定性分析：樣品的表面和立體形貌，不同組成部分的分布，粒子的排列等 定量分析：測試表面粗糙度，特征形貌的大小，粒子大小與分布，高度分布 檢測結果報告 檢測報告內容：表明報告編號，委托單位，樣品名稱，樣品編號，樣品數(shù)量，樣品外觀，檢測要求，檢測依據(jù)，儀器名稱，分析檢測結果，附圖及附表
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