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掃描探針顯微鏡作業(yè)指導(dǎo)書(shū)-文庫(kù)吧在線(xiàn)文庫(kù)

  

【正文】 中的隧道效應(yīng) 。利用電子反饋線(xiàn)路控制隧道電流的恒定,并用壓電陶瓷材料控制針尖在樣品表面的掃描,則探針在垂直于樣品方向上高低的變化就反映出了樣品表面的起伏。 選擇掃描管類(lèi)型,安裝好掃描管。 進(jìn)針,開(kāi)始測(cè)試 根據(jù)圖像質(zhì)量和有關(guān)曲線(xiàn),重新調(diào)整有關(guān)參數(shù)。先前的數(shù)據(jù)不得采用。 儀器故障 上海交通大學(xué)分析測(cè)試中心 控制代號(hào) IACSJTU- 300- 11 版本號(hào) 第 3 版 Scanning Probe Microscope 掃描探針顯微鏡作業(yè)指導(dǎo)書(shū) 頒布日期 20xx 年 12 月 31 日 頁(yè)碼 第 5 頁(yè) 共 5 頁(yè) 在測(cè)試過(guò)程中如儀器發(fā)生故障時(shí) , 立即停止測(cè)試;并作好故障現(xiàn)象的記錄。 調(diào)整激光位置和針尖與樣品間的距離。通過(guò)測(cè)量檢測(cè)器電壓對(duì)應(yīng)樣品掃描位置的變化,就可得到樣品的表面形貌。 本方法適用于 ? 材料表面形貌、相組成研究 , 半導(dǎo)體摻雜、電容及芯片電路研究 ? 納米刻蝕、加工與納米器件研究 , 材料表面與薄膜電性能研究 ? 實(shí)時(shí)生物表面活性、生物結(jié)構(gòu)與功能的關(guān)系研究 ? 金屬、聚合物、半導(dǎo)體、生物、膠體、配位化學(xué)物、陶瓷、 無(wú)機(jī)化合物、有機(jī)物 等表面原子、分子形貌及電子結(jié)構(gòu)研究 ? 復(fù)合材料界面研究 ? 材料表面與薄膜硬度測(cè)定 , 材料表面與薄膜微載荷壓
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