掃描探針顯微鏡作業(yè)指導(dǎo)書-免費閱讀
【正文】 故障排除后 ， 恢復(fù)測試。（ contact mode） 調(diào)整接受激光信號的探測器位置。 2℃以內(nèi) 相對濕度：≤ 60% 試樣制備方法 上海交通大學(xué)分析測試中心 控制代號 IACSJTU－ 300－ 11 版本號 第 3 版 Scanning Probe Microscope 掃描探針顯微鏡作業(yè)指導(dǎo)書 頒布日期 20xx 年 12 月 31 日 頁碼 第 3 頁 共 5 頁 薄膜樣品 送樣要求：來樣標明樣品名稱、主要成分、待測項目 樣品大?。洪L，寬 1cm 1cm 以下 樣品要求 (1)樣品厚度不超過 1cm (2)樣品表面清洗干凈，無太多污染 (3)樣品表面比較平整 固體粉末 送樣要求：來樣標明名稱、主要成分、粒子的大致尺寸 樣品量： ～ 2g 樣品前處理：將粉末按一定濃度用超聲波在其非溶劑中分散均勻，之后取一滴滴在新剝離的云母片上，加熱或自然干燥后測試 樣品測試步驟 開啟計算機，開啟控制器（ Controller），儀器和監(jiān)視器。將原子線度的極細探針和被研究物質(zhì)的表面作為兩個電極，當(dāng)樣品與針尖的距離非常接近時（通常小于 1nm），在外加電場的作用下，電子會穿過兩個電極之間的勢壘流向另一電極 。這種現(xiàn) 象即是隧道效應(yīng)。 選定測試模式： 掃描隧道顯微
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