電路設(shè)計(jì)及emc器件選擇(更新版)
【正文】 品的輻射低40dB）；大多數(shù)數(shù)字電路采用方波信號同步，這將產(chǎn)生高次諧波分量，如圖1示。 這些技術(shù)也可以提高數(shù)字信號的完整性及模擬信號信噪比，可以減少重復(fù)使用硬件及軟件至少一次，這也將有助于新產(chǎn)品達(dá)到其功能技術(shù)要求，盡早投入市場。在HC能用時(shí)絕不要使用AC，CMOS4000能行就不要用HC。 * 與傳輸線匹配的I/O電路測試時(shí)近場探頭需貼近器件或PCB板，為了定位“關(guān)鍵探測點(diǎn)”和最大化探頭方向 ， 應(yīng)首先在整個(gè)區(qū)域進(jìn)行水平及垂直掃描（使探頭在各個(gè)方向相互垂直），然后在信號最強(qiáng)的區(qū)域集中進(jìn)行掃描。安裝在座（更糟的是，插座本身有電池）上的可編程只讀存儲器（PROM）的發(fā)射及敏感特性經(jīng)常會使一個(gè)本來良好的設(shè)計(jì)變壞。 * 處理器散熱片與芯片之間通過導(dǎo)熱材料隔離，并在處理器周圍多點(diǎn)射頻接地。 * 高質(zhì)量電源監(jiān)視電路需對電源中斷、跌落、浪涌和瞬態(tài)干擾有抵抗能力這里，相對的失真并非重要。 所謂的“擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘”是一項(xiàng)能夠減小輻射測量值的新技術(shù)，但這并非真正減小了瞬時(shí)發(fā)射功率，因此，對一些快速反應(yīng)設(shè)備仍可能產(chǎn)生同樣的干擾。 絕大多數(shù)來自數(shù)字電路發(fā)射的問題是由于同步時(shí)鐘信號。 從EMC的角度選擇模擬器件不象選擇數(shù)字器件那樣直接，雖然同樣希望發(fā)射、轉(zhuǎn)換速率、電壓波動、輸出驅(qū)動能力要盡量小，但對大多數(shù)有源模擬器件，抗擾度是一個(gè)很重要的因素，所以確定明確的EMC訂購特征相當(dāng)困難。為了防止解調(diào)，模擬電路處于干擾環(huán)境中時(shí)需保持線性和穩(wěn)定，尤其是反饋回路，更需在寬頻帶范圍內(nèi)處于線性及穩(wěn)定狀態(tài)，這就常常需要對容性負(fù)載進(jìn)行緩沖，同時(shí)用一個(gè)小串聯(lián)電阻（約為500）和一個(gè)大約5PF的積分反饋電容串聯(lián)。 超過信號高度50%的過沖擊表明電路不穩(wěn)定，對過沖擊應(yīng)予以有效的衰減，信號的任何長久的振鈴（超過兩個(gè)周期）或突發(fā)振蕩表明其穩(wěn)定度不好。 決不要試圖采用有源電路來濾波和抑制射頻帶寬以達(dá)到EMC要求，只能使用無源濾波器（最好是RC型）。 6 /
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