章晶體薄膜衍襯成象分析(更新版)
【正文】 Ig＝ Sin2(?ts)/(s?g)2 2021/6/16 HNUZLP 16 常見象（ 1） — 等厚條紋 2021/6/16 HNUZLP 17 常見象（ 1） — 等厚條紋 2021/6/16 HNUZLP 18 常見象（ 2） — 傾斜晶界 傾斜晶界可利用等厚條紋原理來分析 2021/6/16 HNUZLP 19 常見象（ 3） — 等傾條紋 當試樣厚度保持恒定，對于彎曲晶體： Ig＝（ ?t )2 Sin2(?ts)/ ?g2(?ts)2 2021/6/16 HNUZLP 20 常見象（ 3） — 等傾條紋 2021/6/16 HNUZLP 21 常見象（ 3） — 等傾條紋 2021/6/16 HNUZLP 22 常見象（ 4） — 層錯 堆垛層錯是最簡單的一種面缺陷，其存在相當于使其上下兩晶體發(fā)生一相對位移 R，而 g和 s不變，當入射束穿越層錯區(qū)時僅發(fā)生 ?＝ 2? g ?R的相位變化 2021/6/16 HNUZLP 23 常見象（ 4） — 層錯 層錯襯度在確定條件下，除與位移矢 R有關，還與層錯在試樣中的深度位置有關，形成平行于跡線的等高條紋，外形上與等厚條紋相似，但細節(jié)上仍有差
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