【正文】 ④記數(shù)管的移動要滿足布拉格條件。 三、相機的分辨本領 ? 照相機的分辨本領可用衍射花樣中兩條相鄰線條的分離程度來定量表征：它表示晶面間距變化時引起衍射線條位置相對改變的靈敏程度。 衍射花樣的指數(shù)化就是確定每個衍射圓環(huán)所對應的干涉指數(shù)。拍攝結構復雜的化合物甚至需要十幾小時。高角線弧對間距較小，由底片收縮造成的誤差也較小，故常用于點陣常數(shù)的測定。石英毛細管可用于高溫照相。 是為直線，其余角度下均為曲線且對稱分布。 42 粉末照相法 ? 一、德拜法及德拜相機 ? 二、實驗方法 ? 三、相機的分辨本領 一、德拜法及德拜相機 ? 德拜相機直徑為 。是晶體衍射分析中最基本的方法。 ? 要求：學習、掌握粉末法的試樣制備方法、照相法及衍射花樣指數(shù)化、Xray衍射儀的結構、計算測量方法、點陣常數(shù)的精確測定、誤差的校正等。 ? 以單色 X射線為基礎，可提供晶體結構的大多數(shù)信息。在粉末試樣中有相當多個粉末顆粒，含有相當多的 (hkl)晶面是隨顆粒一起在空間隨機分布。 光闌的主要作用是限制入射線的不平行度和固定入射線的尺寸和位置，也稱為準直管。圓柱直徑一般為 。由于高角線有較高的分辨本領，有時能將雙線分開。 ? （ 3）曝光時間參數(shù)。把一張衍射花樣中的線條分為很強、強、中、弱、很弱等五級，也可以把最強的線條定為 100，余者則按強弱程度用百分數(shù)來表示。 （ 3） Ka、 Kβ 線的劃分 ? 根據(jù)布拉格方程： ? 入射線中 Kα的強度比 Kβ大 35倍，因此衍射花樣中 Kα的強度也要比 Kβ大得多，是鑒別 Kα、 Kβ的重要依據(jù)。 Both used for basic powder Diffraction. Philips XRD Philips X’Pert Philips High Resolution 4Circle Bruker 4Circle 43 Xray衍射儀 ? 一、衍射儀的構造及幾何光學 ? 照相與衍射儀的區(qū)別 : ? 照相法較原始，優(yōu)缺點：攝照時間長， 1020小時；衍射線強度靠照片的黑度來估計，準確度不高；設備簡單，價格便宜，用試樣非常少（ 1mg），衍射儀至少要 ；可記錄晶體衍射的全部信息，需要迅速確定晶體取向、晶粒度等時尤為有效；試樣太重不便于用衍射儀時必不可少的。對于粉末多晶體試樣，在任何方向總會有一些 (hkl)晶面滿足布拉格方程產(chǎn)生反射，而且反射是向四面八方的，但是，那些平行于試樣表面的 (hkl)晶面滿足入射角 =反射角 =θ的條件，此時反射線夾角為 ? ，正好為聚焦圓的圓周角，因為位于同一圓弧上的圓周角相同，所以，位于試樣不同部位 M， O， N處平行于試樣表面的 (hkl)晶面，可以把各自的反射線會聚到 F點，達到聚焦的目的。 時，聚焦圓半徑等于測角儀圓半徑。 光路中心線所決定的平面稱為測角儀平面， 它與測角儀中心軸垂直 ? 狹縫光闌 a的作用是控制與測角儀平面平行方向的 Xray束的發(fā)散度。 ? 衍射線的相對積分強度與光闌縫隙無關，因為影響衍射線強度的因素很多，如管電流，但是，一個因素變化后，所有衍射的積分強度都按相同比例變化。 ? 正比計數(shù)器計數(shù)非常迅速，它能分辨輸入速率高達 610/秒的分離脈沖。當其中某個電離室工作時，其余的等待工作，這樣可以將直線部分提高到1000脈沖 /秒以上。所以閃爍計數(shù)器的主要缺點是 本底脈沖過高 。檢測器的表面對污染十分敏感，所以要將低溫是保持在 104Pa以上的真空。此時定標器顯數(shù)裝置指示的數(shù)字是選定數(shù)目的脈沖進入定標器所需要的時間。 連續(xù)掃描測量法 將計數(shù)器連接到計數(shù)率儀上，計數(shù)器由 2θ接近 0176。以入射線的照射面積不超出試樣的工作面積為原則。若主要為提高分辨率，則應選擇較小的接受光闌；若主要為了測量衍射強度，則應適當加大接受光闌。 ? 其它 分析目的 發(fā)散狹縫 （度） 接受狹縫 （度） 掃描速度 （度分） 狹縫的時間寬度（ s） 最大時間常數(shù)（ s） 定分析需要在很大角度范圍內(nèi)測量許多條衍射線 2 2 2 1 3 6 ～ 精確測量衍射峰的相對積分強度 4 4 2 2 1/8 1/4 1/8 1/4 24 24 24 24 12 12 12 12 精確測量衍射峰的相對積分強度，但峰被拓寬 4 2 1/4 1/2 24 24 12 12 為了獲得有高度分辨的衍射細節(jié) 1 2 2 1/8 1/8 1/8 5 5 2 ～ 3 確定測量晶格常數(shù) 1 ≤ 1/8 ≤17 8 為了鑒定微量成分在大的角度范圍測量衍射花樣 4 2 3 1 推薦的實驗條件 45 點陣常數(shù)的精確測定 ? 一、一般介紹 ? 二、德拜 —謝樂法中系統(tǒng)誤差的來源 ? 三、德拜 —謝樂法的誤差校正方法 一、一般介紹 ? １、點陣常數(shù)的應用：對固溶體的研究，固溶體的晶格常數(shù)隨溶質(zhì)的濃度而變化，可根據(jù)晶格常數(shù)確定某溶質(zhì)的含量。 時的點陣常數(shù)的測試精度較高，但實驗中的誤差是必然存在的，必須設法消除。 垂直位移很小，不會產(chǎn)生誤差。 ? (4)對于直徑為 ，衍射線位置的測量精度必須為 ，這就需要精密的比長儀加以測定。以上 0 cos2Θ a= a，197。 ℃ 以內(nèi)。 Δ y A B C D C39。系統(tǒng)誤差是由試驗條件所決定的，隨某一函數(shù)有規(guī)則的變化。 還可通過測量點陣常數(shù)來研究金屬材料的相變過程、晶體缺陷等。 時間常數(shù)的選擇 ? 當進行連續(xù)掃描時，時間常數(shù)的選擇對實驗結果的影響較大。 ? 狹縫光闌的選擇： ? 包括發(fā)散光闌、接受光闌、防寄生散射光闌、梭拉光闌（固定不變）。計數(shù)器的脈沖通過電子電位差計的紙帶記錄下來，得到衍射曲線?，F(xiàn)代衍射儀把電子時鐘裝置和定標器合在一起，通過轉(zhuǎn)換開關，二者數(shù)字在同一顯示裝置中顯示出來，簡化設備。 三、 Xray測量中的主要電路 ? 電路的主要功能之一是保證計數(shù)器能有最佳狀態(tài)的輸出脈沖，其次是把計數(shù)脈沖變?yōu)槟軌蛑庇^讀取或記錄的