【正文】 本鼓勵采用，但雙方要達成一致意見。 射線膠片 膠片系統(tǒng)按照 GB/T ，即 T T T3和 T4類。理解：（ 1）按膠片系統(tǒng)進行分類，不是按膠片的感光速度分類。理解：（ 1）觀片燈的主要性能指標除了亮度以外還包括 :亮度的均勻性、外殼溫度、 噪聲、絕緣程度等（ 2）觀片燈亮度和照度的關(guān)系，即140000lx——45000cd/m 2應(yīng)用：當?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度 ≤，觀片燈的亮度不應(yīng)低于 9400 cd/m 當?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度 ＜ D≤4時觀片燈的亮度不應(yīng)低于 100000 cd/m2注意：生產(chǎn)觀片燈的廠家所提供的亮度指標應(yīng)用cd/m2表示。增感屏的選用應(yīng)符合表 1的規(guī)定 理解：（ 1） X射線照相，能量在 500KV以下增感屏的材料應(yīng)是鉛，鉛屏的厚度不涉及技術(shù)級別只與射線能量有關(guān)（ 2）如采用 Se75或 Ir192，增感屏的厚度與技術(shù)級別有關(guān)。（ 2）原 JB4730標準選用的是 R10等比系列像質(zhì)計最細線的編后為 16號，線徑為,這一線徑已不能滿足 JB/T4730厚度的下線（ 2mm） AB級和 B級的要求，因此 JB/T4730標準引出 HB 7684－ 2023增加了小于 ，即 17號， 、 18號， ,19號， 了 4組像質(zhì)計： 1－ 6－ 1 10－ 1 13－ 19。（ 2）除非另有規(guī)定系指設(shè)計圖紙的規(guī)定、制造方的規(guī)定或焊縫返修后焊接工藝的規(guī)定。 承壓設(shè)備在用檢測中，由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面限制 ,檢測的某些條件不能滿足 AB級射線檢測技術(shù)的要求時 , 經(jīng)檢測方技術(shù)負責人批準 ,在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）后可采用 A級技術(shù)進行射線檢測，但應(yīng)同時采用其他無損檢測方法進行補充檢測。 現(xiàn)場進行 γ射線檢測時，應(yīng)按 GB18465的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)、設(shè)置警告標志，檢測作業(yè)時，應(yīng)圍繞控制區(qū)邊界測定輻射水平。典型的透照方式參見附錄 C（資料性附錄）。應(yīng)用：透照方式不能任意選取，在可以實施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式。透照 3次。（ 3）小徑管的透照次數(shù)與管外徑和壁厚有關(guān)，與檢測技術(shù)級別無關(guān)（ 4）規(guī)定小徑管的透照次數(shù)的主要目的是控制透照厚度比（ 5）結(jié)構(gòu)：一般系指排管或盤管應(yīng)用：（ 1）為控制影像的開口寬度應(yīng)采用偏心距法（2）擴大缺陷可檢出范圍的有效措施一般包括：雙膠片技術(shù)、適當提高管電壓、窗口加濾波板注意：當 Do ≤20mm、 T≥ 8mm 、 g ＞ Do /4重點檢查根部裂紋或未焊透時應(yīng)采用垂直透照 射線能量 X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓。 采用源在內(nèi)中心透照方式，在保證像質(zhì)計靈敏度達到 ，允許 γ射線最小透照厚度取表 4下限值的二分之一。采用其他透照方式當透照厚度小 10mm時，應(yīng)經(jīng)合同各方同意。b 2/3圖 2是 A級和 B級射線檢測技術(shù)確定 f的諾模圖，圖 3是 AB級射線檢測技術(shù)確定 f的諾模圖。應(yīng)用：（ 1）由諾模圖中可直接得出射線源至工件表面最小距離（ 2）工件表面至膠片的距離應(yīng)根據(jù)透照方式確定，同時應(yīng)考慮焊縫余高和墊板（雙壁單影、單壁單影）的厚度注意：由諾模圖中給出的數(shù)據(jù)是射線源至工件表面的最小距離。min、當焦距小于 700mm時，曝光量可小于或等于 15mA 對初次制定的檢測工藝或當在使用中檢測工藝的 條件、環(huán)境發(fā)生改變時 ,應(yīng)進行背散射防護檢查。雙壁雙影透照像質(zhì)計可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)。 c) 一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時，至少在第一張、中間一張和最后一張膠片處各放置一個像質(zhì)計。（ 5）當象質(zhì)計放在膠片測時，應(yīng)在檢驗報告像質(zhì)計靈敏度一欄中注明注意：（ 1）雙壁雙影最大透照厚度上限； A級為 54mm、 AB為 54mm、 B級為 56mm（表 6）（ 2）小徑管使用專用像質(zhì)計時要看到 2根 標記 透照部位的標記由識別標記和定位標記組成。所有標記的影像不應(yīng)重疊，且不應(yīng)干擾有效評定范圍內(nèi)的影像。（有效區(qū)段標記） 膠片處理? 可采用自動沖洗或手工沖洗方式處理 ,推薦采用自動沖洗方式處理。 從陽光下進入評片的暗適應(yīng)時間一般為 5 min～ 10min；從一般的室內(nèi)進入評片的暗適應(yīng)時間應(yīng)不少于 30s。 用 X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時，AB級最低黑度允許降至 ； B級最低黑度可降至 。別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。應(yīng)用：凡不在本標準規(guī)定的范圍之內(nèi)，均不能按本標準進行質(zhì)量分級。 圓形缺陷的質(zhì)量分級 圓形缺陷用圓形缺陷評定區(qū)進行質(zhì)量分級評定，圓形缺陷評定區(qū)為一個與焊縫平行的矩形，其尺寸見表 8。（ 3）圓形缺陷的長徑大于 T/2時應(yīng)注明其尺寸注意：必須與圓形缺陷評定區(qū)邊界線相割的缺陷才能劃入評定區(qū)內(nèi) 由于材質(zhì)或結(jié)構(gòu)等原因 ,進行返修可能會產(chǎn)生不利后果的對接焊接接頭，各級別的圓形缺陷點數(shù)可放寬 1點～ 2點。 條形缺陷的質(zhì)量分級條形缺陷按表 12的規(guī)定進行分級評定。理解：（ 1）必須是環(huán)向?qū)咏宇^（ 2）接頭的壁厚應(yīng)大于或等于 2mm（ 3）對管子的外徑?jīng)]設(shè)上限應(yīng)用：承壓設(shè)備管子及壓力管道系指無縱向焊縫的管道。 對接焊接接頭中缺陷超過 Ⅲ 級者為 Ⅳ級。管外徑 Do≤100mm的小徑管的未焊透深度可采用附錄 H（規(guī)范性附錄）規(guī)定的小徑管專用對比試塊 (Ⅰ A或 Ⅰ B型 )進行測定 ,測定時，對比試塊應(yīng)置于管的源側(cè)表面、靠近被測未焊透缺陷附近部位。理解：在條形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時存在多種缺陷時，應(yīng)進行綜合評級。理解：標準中規(guī)定的九條是最基本的內(nèi)容，這些內(nèi)容在報告中必須包括。對大口徑管的質(zhì)量要求高于小徑管應(yīng)用：對管外徑 Do＞ 100mm的管子未焊透深度應(yīng)采用一般試塊（溝槽試塊）進行測定，小徑管未焊透深度可采用附錄 H專用對比試塊（ Ⅰ A或Ⅰ B型）進行測定注意：（ 1）未焊透與內(nèi)凹的區(qū)別（ 2）斷續(xù)未焊透，以未焊透本身的長度累計計算 根部內(nèi)凹和根部咬邊的分級評定管外徑 Do＞ 100mm時，不加墊板單面焊的根部內(nèi)凹和根部咬邊缺陷按表 23的規(guī)定進行質(zhì)量分級評定。 圓形缺陷的分級評定 按 。 缺陷類型 對接焊接接頭中的缺陷按性質(zhì)可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷、圓形缺陷、根部內(nèi)凹、根部咬邊等七類。 綜合評級 在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時存在圓形缺陷和條形缺陷時，應(yīng)進行綜合評級。通常將黑度大的圓形缺陷定義為深孔缺陷 ,當對接焊接接頭存在深孔缺陷時，其質(zhì)量級別應(yīng)評為 Ⅳ 級。 在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)或與圓形缺陷評定區(qū)邊界線相割的缺陷均應(yīng)劃入評定區(qū)內(nèi)。 缺陷類型對接焊接接頭中的缺陷按性質(zhì)可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷五類。應(yīng)用：（ 1）除單壁透照像質(zhì)計放在膠片側(cè)外，其他形式的底片像質(zhì)計靈敏度均可從表中查出（ 2）底片評定范圍以外的偽缺陷不屬于底片質(zhì)量不合格的依據(jù)。雙片疊加觀察僅限于 A級，疊加觀察時，單片的黑度應(yīng)不低于 。 底片評定范圍的寬度一般為焊縫本身及焊縫兩側(cè)5mm寬的區(qū)域。理解：（ 1）手工沖洗方式處理是指槽洗不是盤洗（ 2）推薦采用自動沖洗方式處理的目的是盡量防止采用增加或減少顯影時間來控制底片的黑度。（ 2）搭接標記可以用 “↑” 表示也可以用其他符號表示（如 或 A、 B、 C）（ 3）（ 3）根據(jù)射線源、工件、膠片的相互位置按附錄 G規(guī)定放置搭接標記。 識別標記一般包括：產(chǎn)品編號、對接焊接接頭編號、部位編號和透照日期。 如底片黑度均勻部位（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)）能夠清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時，則認為該絲是可識別的。c) 單壁透照中像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時，應(yīng)進行對比試驗。若在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的 “B”字影像，則說明背散射防護不夠 ,應(yīng)增大背散射防護鉛板的厚度。注意：對小口徑薄壁管采用 γ射線源透照時，強度不宜太大 曝光曲線 對每臺在用射線設(shè)備均應(yīng)做出經(jīng)常檢測材料的曝光曲線，依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)。min； B級射線檢測技術(shù)不小于 20mA 采用源在內(nèi)中心透照方式周向曝光時，只要得到的底片質(zhì)量符合 要求， f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的